产品名称：OLED/LED电致发光/光致发光测量系统，EL/PL测量系统，多角度光谱测量系统，发光效率测量系统，发光光谱测量系统，外量子效率测量系统。
Phelos用于测量OLED、钙钛矿LED及其他发光器件的发射光谱特性和极化角，同时也可测量器件的s和p偏振光谱、发射光谱与角度的关系，计算出发射层中激子的发光角度及位置分布。
技术优势
• 角度依赖的PL光致发光谱分析
• 角度依赖的EL电致发光谱分析
• 角度依赖的发光分析
• 兼容顶发光和底发光结构的OLED的及其他发光器件
• p- and s-偏振态检测
• 偏振角度连续扫描
• 发光层中发光偶极子检测及偶极子趋向分析
• 兼容各种几何尺寸样品
• 样品便捷对准
• 可与Setfos结合，对发光层进行分析
测量功能
• 颜色效率分析
• 可视角分析
• 量子效率EQE
• 流明效率lm/W
• 发光效率Cd/A
• 发光区域拟合
• 发光趋向分析
• 发光特性角度依赖分析
• 光谱和颜色VS. 发射角
• 发光层中偏振态分析
• 散射特性分析
• 工作点
• 效能 (cd/A)
• CIE 坐标
• 色温和显色指数等分析
• 电流-电压-亮度(J-V-L)曲线测量
• 光谱辐照度/强度
• 辐射强度
• 亮度
技术规格
Photoluminescence and Electroluminescence | |
角度范围 | -90° to +90°, top and bottom emission |
角度分辨率 | < 0.5° |
光谱范围 | 360 to 1100 nm |
光谱分辨率 | 2.5 nm * |
信噪比 | 300:1 |
电压范围 | ± 20 V |
电流范围 | ± 120 mA |
分辨电流 | < 100 pA |
伺服偏振器 | 0 to 360° (continuous) |
样品台尺寸 | 40 x 40 mm² |
PL 激发光 | 275 nm to 405 nm(默认365nm) |
PL 激发光光斑 | 5 x 3 mm² |
设备重量 | 18 kg |
设备尺寸 | 50 x 29 x 24 cm³ |
测试模式
测量实例
保修期: 1年
是否可延长保修期: 是
现场技术咨询: 有
免费培训: 3人次技术培训。
免费仪器保养: 3个月1次
保内维修承诺: 免费更好失效硬件，提供免费的技术支持和服务。
报修承诺: 24小时到达客户现场。
OLED及钙钛矿LED器件发射光谱特性测量技术，可有效测量发光效率EQE测量，Lm/W 和 Cd/A，发射角度测量，光谱&颜色测量@发射角；CIE xyY测量，视角测量，IVL(电流—电压—亮度)测量，PL光致发光和EL电致发光测量， 分子取向模拟等；
发光器件（OLED及钙钛矿LED器件）载流子特性分析，包括载流子迁移率，I-V-L特性测量分析，启动电压测量等。
完善的OLED及钙钛矿LED发光器件性能评估技术，包含载流子特性分析系统，发光器件寿命测量系统，器件发光光谱特性分析系统，寿命分析系统及器件模拟和构建系统等；
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