光子晶体探测器型椭偏仪
光子晶体探测器型椭偏仪
光子晶体探测器型椭偏仪
光子晶体探测器型椭偏仪

¥5万 - 10万

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SE-101/102

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亚洲

  • 一般经销商
  • 营业执照已审核
核心参数

产地类别: 进口

北京飞凯曼公司提供光子晶体探测器型椭偏仪。这种光子晶体探测器型的椭偏仪是有日本Photonic Lattice公司首创,并应用到椭偏仪的测试中。日本Photonic Lattice公司在光子晶体的研究和制造领域领先世界,由此开发出的光子晶体探测器型椭偏仪具有测试速度快、测量准确、免维护、价格低廉等特点已经在光学薄膜、半导体薄膜、有机薄膜等领域有着广泛的应用。该椭偏仪可快速准确测量薄膜的厚度和折射率的分布。

相比传统的光谱型椭偏仪,光子晶体探测器型椭偏仪避免了探测器的机械运动。使得测试速度更快、测试更加准确、成本更加低廉。

SE-101SE-102型都是经济小巧的桌面式椭偏仪,SE-101主要用于薄膜的单点测量,SE-102则可进行点、线和面的测量。该系列设备使用简单,免维护,价格低廉,特别适合于实验室和工艺线的在线膜厚检测。

技术规格:

 

型号

SE-101

SE-102

重复性精度

0.1nm(厚度),0.001(折射率)

测量速度

0.05/

光源

636nm半导体激光器

测量点尺寸

1mm2

点线测量:0.5mm2

面测量:0.1mm2

入射角

70

样品尺寸

4英寸

4英寸,1轴自动,2轴手动

仪器尺寸和重量

250x175x218.3mm/4Kg

300x235x218.3mm/9Kg

数据接口

RS-232C,千兆以太网

电源

AC100-240V(50/60Hz)

软件

SE-View

 

详细信息请咨询我们。

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