产地类别： 国产
应用系统： 透射/反射光谱
光栅数量： 三光栅
光谱分辨率： 0.35nm(@1200g/mm)
色散： 3.68nm/mm
波长范围： 400-1000nm
F/#： 1
波长精度： 0.25(@1200g/mm)
杂散光： ≤0.1%
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“影像谱王”系列光栅单色仪/光栅光谱仪
“影像谱王”系列光栅单色仪/光栅光谱仪功能及特点：
1.180mm，320mm，500mm等多种焦距可选，适应不同光谱带宽需求；
2.光学结构采用经典的C-T结构和非球面影像校正技术，最大限度了抑制了像散，使得离轴信号能够在焦平面上汇聚于空间上的同一位置，获得了清晰的成像，从而提高 了信号强度，提升了光谱仪信号收集的能力；
3.多光栅塔台设计，更好的发挥了仪器覆盖UV-VIS-IR全波段光谱范围的优势，并可根据需要更加灵活的选择光谱范围和分辨率；
4.光栅采用40×40mm或68×68mm（68×84mm）大面积光栅，提高了光收集效率；
5.适应不同光谱波段使用的光栅选择，覆盖UV-IR全波段范围；针对红外（>1um）波段的最优化设计，光学镜片采用镀金膜设计，提高红外光反射效率；
6.更好的杂散光抑制比，达到1×10-5；
7.仪器的控制（如光栅转换、波长扫描等）全部由计算机控制，并用USB2.0接口取代传统的RS-232接口，不仅使仪器的连接更加简单化，更极大提高了通讯速率；
8.采用DSP芯片控制设计使得多出入口的选择更加具有灵活性，可根据需要选择双入、出口；双入、出口的控制通过计算机软件自动控制，定位更精准；
9.可灵活与卓立光源、探测器（单点探测器和阵列CCD等）组合搭建，实现任意光谱系统解决方案，如荧光、拉曼、透射/反射、吸收光谱及光源发射光谱系统等；
10.电子快门可选；
11.自动狭缝可选；
规格参数表（@1200g/mm光栅条件下）：
| Omni-λ180i | Omni-λ320i | Omni-λ500i | Omni-λ750i | |
| 焦距(mm) | 180 | 320 | 500 | 750 |
| 相对孔径 | f/4 | f/4 | f/6.5 | f/9.7 |
| 光学结构 | C-T | |||
| 机械扫描范围(nm) | 0-1200 | |||
| 分辨率(nm)-PMT | 0.25 | 0.08 | 0.05 | 0.028 |
| 分辨率(nm)-CCD(26μm) | 0.35 | 0.21 | 0.15 | 0.09 |
| 倒线色散(nm/mm) | 3.7 | 2.3 | 1.7 | 1.1 |
| 波长准确度(nm) | ±0.2 | ±0.15 | ±0.1 | |
| 波长重复性(nm) | ±0.1 | ±0.08 | ±0.01 | |
| 扫描步距(nm) | 0.01 | 0.005 | 0.0025 | |
| 杂散光 | 1×10-5 | |||
| 焦面尺寸(mm) | 30(w)×10(h) | 30(w)×14(h) | ||
| 光轴高度(mm) | 146.5 | |||
| 狭缝规格 | 缝宽：0.01-3mm连续手动可调，可选配自动狭缝； 缝高：2，4，10，14mm可选 | |||
| 光栅尺寸(mm) | 40×40 | 68×68 | ||
| 光栅台 | 双光栅 | 三光栅 | ||
| 通讯接口 | 标配USB2.0，可选RS-232 | |||
半导体 2014-06-12
其他 2014-04-03
半导体 2014-06-12
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