您好,欢迎访问仪器信息网
注册
瞬渺科技(香港)有限公司

关注

已关注

银牌16年 银牌

已认证

粉丝量 0

当前位置: 瞬渺科技 > 其他晶圆缺陷检测设备 > 晶圆高分辨率厚度和表面形貌测试仪 MX 7012

晶圆高分辨率厚度和表面形貌测试仪 MX 7012

品牌: E+H Metrology
产地: 德国
型号: MX 7012
报价: 面议
获取电话
留言咨询

核心参数

产地类别: 进口

产品介绍

产品简介:

MX 70系列的测试系统用于监督生产过程中的蚀刻过程。它可以集成在蚀刻系统中,并由机器人或自动处理系统装载。

MX 70系列是一款非接触式测量系统,用于测量直径为300mm和450mm晶圆的厚度,TTV,翘曲度,粗糙度和波纹度。

一对电容传感器测量穿过晶圆中心的对角线切割并得出厚度,波纹度和翘曲度。

QQ截图20240511163737.png


测量原理:

MX70系列的测量过程是,在三个橡胶 (NBR) 支撑点上自由放置,晶圆通过高精度空气轴承移动通过测量杆。


通过数学计算和数字滤波器,以图形方式显示以下特性:

- Warp 扫描 (Sori, LSR) (在切割方向的Warp)

- 厚度扫描 (中心道)

- 波纹度扫描 (中心线过滤和拉平)

用户可以从这些排序相关特征中选择值:

- 中心厚度: 最大值、最小值、平均值

- TTV (GBIR), TIR

- Warp

- 波纹度: 最大值, p/v (峰谷比)


技术参数:

1)晶圆直径:300mm, 450mm

2)厚度范围:680-970 µm

3)软件:MXNT


应用:

用于测量直径为300mm和450mm的SIC, GaN, GaAS, InP等半导体晶圆的厚度,TTV,翘曲度,粗糙度和波纹度。


售后服务
产品货期: 60天
整机质保期: 1年
培训服务: 安装调试现场免费培训
问商家

E+H Metrology其他晶圆缺陷设备MX 7012的工作原理介绍

其他晶圆缺陷设备MX 7012的使用方法?

E+H MetrologyMX 7012多少钱一台?

其他晶圆缺陷设备MX 7012可以检测什么?

其他晶圆缺陷设备MX 7012使用的注意事项?

E+H MetrologyMX 7012的说明书有吗?

E+H Metrology其他晶圆缺陷设备MX 7012的操作规程有吗?

E+H Metrology其他晶圆缺陷设备MX 7012报价含票含运吗?

E+H MetrologyMX 7012有现货吗?

工商信息

企业名称

瞬渺科技(香港)有限公司

企业信息已认证

企业类型

信用代码

成立日期

2008-10-15

注册资本

266

经营范围

联系我们
瞬渺科技(香港)有限公司为您提供E+H Metrology晶圆高分辨率厚度和表面形貌测试仪 MX 7012,E+H MetrologyMX 7012产地为德国,属于进口其他晶圆缺陷检测设备,除了晶圆高分辨率厚度和表面形貌测试仪 MX 7012的参数、价格、型号、原理等信息外,还可为您提供更多其他晶圆缺陷检测设备,瞬渺科技客服电话,售前、售后均可联系。
推荐产品
供应产品

瞬渺科技(香港)有限公司

查看电话

沟通底价

提交后,商家将派代表为您专人服务

获取验证码

{{maxedution}}s后重新发送

获取多家报价,选型效率提升30%
提交留言
点击提交代表您同意 《用户服务协议》 《隐私政策》 且同意关注厂商展位
联系方式:

公司名称: 瞬渺科技(香港)有限公司

公司地址: 上海市闵行区总部一号都会路2338弄122号楼 联系人: 上海办事处 邮编: 201108

仪器信息网APP

展位手机站