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手动晶圆厚度测量仪 MX 203

品牌: E+H Metrology
产地: 德国
型号: MX 203
报价: 面议
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核心参数

产地类别: 进口

产品介绍

手动晶圆厚度测量仪 MX203系列


产品简介:

MX203系列手动晶圆厚度测量仪,用于测量直径为2寸、3寸、4寸、5寸、6寸、8寸、12寸晶圆的厚度、平整度TTV、弯曲度Bow、翘曲度Warp、应力等晶圆参数。


测量原理:

MX203系列采用电容测量原理,晶圆上下各有若干对平行的电容测厚传感器,通过测量电容器电容变化计算晶圆厚度,及晶圆上下表面距离电容器的距离,进而得到晶圆的厚度、平整度TTV、弯曲度Bow、翘曲度Warp、应力等晶圆参数。

QQ截图20240511155530.png


主要技术参数

1)晶圆直径:50mm, 75mm, 100mm, 150mm, 200mm,300mm, 450mm

2)厚度精度:±0.5 µm

3)分辨率:50 nm

4)厚度范围:100-1000 µm

5)自动晶圆:手动

QQ截图20240511160241.png


应用:

 SIC, Si, GaN, GaAS, InP等半导体晶圆的高分辨率厚度,TTV,弯曲度和翘曲度,平整度,以及应力的测量。


售后服务
产品货期: 60天
整机质保期: 1年
培训服务: 安装调试现场免费培训
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E+H Metrology其他晶圆缺陷设备MX 203的工作原理介绍

其他晶圆缺陷设备MX 203的使用方法?

E+H MetrologyMX 203多少钱一台?

其他晶圆缺陷设备MX 203可以检测什么?

其他晶圆缺陷设备MX 203使用的注意事项?

E+H MetrologyMX 203的说明书有吗?

E+H Metrology其他晶圆缺陷设备MX 203的操作规程有吗?

E+H Metrology其他晶圆缺陷设备MX 203报价含票含运吗?

E+H MetrologyMX 203有现货吗?

工商信息

企业名称

瞬渺科技(香港)有限公司

企业信息已认证

企业类型

信用代码

成立日期

2008-10-15

注册资本

266

经营范围

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瞬渺科技(香港)有限公司为您提供E+H Metrology手动晶圆厚度测量仪 MX 203,E+H MetrologyMX 203产地为德国,属于进口其他晶圆缺陷检测设备,除了手动晶圆厚度测量仪 MX 203的参数、价格、型号、原理等信息外,还可为您提供更多其他晶圆缺陷检测设备,瞬渺科技客服电话,售前、售后均可联系。
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