您好,欢迎访问仪器信息网
注册
瞬渺科技(香港)有限公司

关注

已关注

银牌16年 银牌

已认证

粉丝量 0

当前位置: 瞬渺科技 > 其他晶圆缺陷检测设备 > 晶圆几何测量仪 MX 2012

晶圆几何测量仪 MX 2012

品牌: E+H Metrology
产地: 德国
型号: MX 2012
报价: 面议
获取电话
留言咨询

核心参数

产地类别: 进口

产品介绍

MX 2012 晶圆几何测量仪


应用:

适用于 300mm 晶圆的高精度几何测量仪。

MX2012 作为手动装载的独立站运行,每小时至少可处理 50 片晶圆。共具有 69 个测量点,以高分辨率控制厚度、弓形和翘曲。

可选择进行晶圆应力评估。直立位置测量可避免重力引起的下垂。系统可转换为 200mm 晶圆测量。配备MX-NT 操作软件。


测量类型:

厚度、平整度(TTV)


参数:

晶圆尺寸:300mm

测量准确度:±0.5 µm

分辨率:50nm

厚度范围:500-1000 µm

自动晶圆测量:自动

软件:MXNT


测量原理:

MX2012系列的晶圆几何台由上下两个探头组成。每个探头都基于一块1英寸厚的扁平铝板,69个电容式距离传感器嵌入其中,且两个传感器板互相垂直相对安装,避免了重力引起的晶圆额外下垂。由压缩空气活塞驱动的偏心系统可以操纵上探头的提升和降低上探头。在升高的位置,测量对象被装载和卸载。在降低的位置,上探头由三个硬金属螺栓承载,球形端安装在下板中。这确保了在0.1 µm定位后的可重复性。下板由塑料片覆盖,塑料片包含空气通道并提供真空吸盘的吸入口。真空吸盘系统具有三个独立的电路,可以依次启动。塑料片的电介质通常会影响电容测量。然而,它的影响作为系统校准的结果之一可以忽略不计。

售后服务
产品货期: 60天
整机质保期: 1年
培训服务: 安装调试现场免费培训
问商家

E+H Metrology其他晶圆缺陷设备MX 2012的工作原理介绍

其他晶圆缺陷设备MX 2012的使用方法?

E+H MetrologyMX 2012多少钱一台?

其他晶圆缺陷设备MX 2012可以检测什么?

其他晶圆缺陷设备MX 2012使用的注意事项?

E+H MetrologyMX 2012的说明书有吗?

E+H Metrology其他晶圆缺陷设备MX 2012的操作规程有吗?

E+H Metrology其他晶圆缺陷设备MX 2012报价含票含运吗?

E+H MetrologyMX 2012有现货吗?

工商信息

企业名称

瞬渺科技(香港)有限公司

企业信息已认证

企业类型

信用代码

成立日期

2008-10-15

注册资本

266

经营范围

联系我们
瞬渺科技(香港)有限公司为您提供E+H Metrology晶圆几何测量仪 MX 2012,E+H MetrologyMX 2012产地为德国,属于进口其他晶圆缺陷检测设备,除了晶圆几何测量仪 MX 2012的参数、价格、型号、原理等信息外,还可为您提供更多其他晶圆缺陷检测设备,瞬渺科技客服电话,售前、售后均可联系。
推荐产品
供应产品

瞬渺科技(香港)有限公司

查看电话

沟通底价

提交后,商家将派代表为您专人服务

获取验证码

{{maxedution}}s后重新发送

获取多家报价,选型效率提升30%
提交留言
点击提交代表您同意 《用户服务协议》 《隐私政策》 且同意关注厂商展位
联系方式:

公司名称: 瞬渺科技(香港)有限公司

公司地址: 上海市闵行区总部一号都会路2338弄122号楼 联系人: 上海办事处 邮编: 201108

仪器信息网APP

展位手机站