特性：

• 低噪声原子步进性能

• 经过校准的弯曲导向闭环纳米定位器

• 在扫描范围内平面外运动小于1纳米

• 专有的PicoQ®低噪声传感器

• 长行程、高稳定性的微定位

• 自动校准和初始化

• 自动软件和硬件设置

• 对经验丰富的用户可调参数

• 用户友好的探针更换

• 简单安装，桌上型设计

• 包括AFMView®软件 - 硬件控制和数据采集

• 图像分析软件选项

应用：

• 原子力显微镜

• 相位显微镜

• 磁力显微镜

• 电力显微镜

• 横向力显微镜

• 扫描隧道显微镜

• 开尔文探针显微镜

• 电导原子力显微镜

• 电力显微镜

• 压电力显微镜

• 纳米光刻术

• 生物原子力显微镜

Product Description

MadAFM™是一款新型的样品扫描原子力显微镜（AFM），设计用于简便使用和简单安装。MadAFM™包括我们行业领先的闭环纳米定位器，用于样品和探针的精密位移平台。Mad City Labs已经设计和制造了超过25年的压电闭环纳米定位器。由于我们的专有PicoQ®传感器，我们的纳米定位器提供了可用的最低噪声和最高分辨率。这些传感器以其超低噪声性能而闻名。我们的纳米定位器通过我们的高性能共振探针AFM展现出了卓越的运动解耦，几乎不可测量的平面外运动。除了XYZ纳米定位器外，MadAFM™还集成了我们的智能控制、高稳定性的电动微定位器。这些微定位器允许样品（XY）的长程运动、焦点控制和AFM头部（Z）的位移定位。焦点、AFM头部和探针定位器垂直对齐且同轴，可以直接通过1.6MP CMOS相机在样品表面和悬臂之间获得轴线视图。样品照明通过同轴白色LED进行，而635nm激光对准则通过相机辅助，手动操作。MadAFM™可容纳长宽高为50mm x 50mm x 40mm的样品。MadAFM™支持多种显微镜模式（请参阅规格表），并包括AFMView®-OD软件，用于处理所有硬件控制和数据采集。用户友好的软件具有自动校准和初始化功能，使即使是新手用户也能快速上手。该软件允许高级用户访问指定参数。MadAFM™与第三方分析软件MountainsSPIP®和Gwyddion兼容。MadAFM™尺寸适合桌面，并且安装简单，用户设置最小。MadAFM™需要额外配置振动和声学隔离平台。所有安装均可由用户自行完成。

技术指标

MadAFM™运动控制

(X. Y) 30 um, 65 um or 100 um, (Z) 15 um or 30 um

25 mm (X, Y, Focus), 50 mm (Z)

MadAFM™ 光学组件

MadAFM™ 控制器

ADC

模数转换器

DAC

数模转换器

模式*

Contact AFM, Intermittent AFM, Non-Contact AFM, Constant Height AFM, Lateral Force Microscopy, Phase Microscopy

Scanning Tunneling Microscopy, Conductive AFM, I-V Spectroscopy, Electrical Force Microscopy, Kelvin Probe Microscopy, Piezoelectric Force Microscopy

Force Modulation Microscopy, Nanolithography

Magnetic Force MIcroscopy

附件

常规参数

计算机需求 (不提供)

相关产品

• SPM 附件

• MadPLL® 用于AFM/NSOM的仪器实现（技术文档）

• 用 SPM-M Kit 组件自行搭建AFM/NSOM（技术文档）