HORIBA Auto SE一键式全自动快速椭偏仪

采用UVISEL相调制型椭圆偏振光谱仪对chalcogenide glass样品进行分析，研究其相应光学性质。

采用UVISEL相调制型椭圆偏振光谱仪对DNA Sensor Pads样品进行分析,研究其膜层厚度和相应光学性质.

Ellipsometry is a very versatile optical technique that has applications in many different fields, from the micro electronics and semiconductor industries (for characterizing oxides or photoresists on silicon wafers, for ex ample) to biology. This very sensitive measurement technique provides unequalled capabilities for thin film metrology, and has the advantage that it is non-destructive as it uses polarized light to probe the dielectr properties of a sample.

采用UVISEL相调制型椭圆偏振光谱仪可以对PDP结构样品进行分析,得到结构中各层的厚度、折射率的变化.

采用UVISEL相调制型椭圆偏振光谱仪对Porous silicon composite material 样品进行分析，研究其相应光学性质。

本文章介绍了椭圆偏振光谱仪对太阳能薄膜的测量和应用，是了解椭圆偏振光谱仪功能的一篇内容全面的介绍资料。

Auto SE是一款创新性的薄膜测量工具，可测量薄层、多层膜厚度和光学常数(n,k)。 HORIBA Jobin Yvon 推出的这款仪器在保留椭圆偏光法测量优点(如非破坏性，膜厚测量精确至埃米，可测量多层膜等)的同时，大大简化了测量过程。 Auto SE 可广泛应用于微电子、平板显示、光伏器件、生物技术、化学和功能涂层、光学镀膜等各个薄膜应用领域。

采用UVISEL相调制型椭圆偏振光谱仪对TiO2 Thin Films and Multilayer Antireflective Coatings样品进行分析,研究其膜层厚度和相应光学性质。

采用UVISEL相调制型椭圆偏振光谱仪对ZrO2 Thin Films on Glass Substrates样品进行分析,研究其膜层厚度和相应光学性质。

采用UVISEL相调制型椭圆偏振光谱仪对ZrO2 Thin Films on Glass Substrates样品进行分析,研究其膜层厚度和相应光学性质。