核心参数
仪器种类: 落地式/传统大型
电子枪种类: 冷场发射
产地类别: 进口
二次电子图象分辨率: /
放大倍数: 6 ~ 2,500,000×
加速电压: 200V ~ 30kV
背散射电子图像分辨率: 1.3nm@30kV(SE)(低真空模式)
Quattro-环境扫描场发射电镜
Quattro SEM为具有独特环境真空功能的极灵活、多功能高分辨率扫描电镜,可以将成像和分析全面性能与环境模式(ESEM)相结合,使得样品研究得以在自然状态下进行。
Quattro的场发射电子枪(FEG)确保了优异的分辨率,通过不同的探测器选项,可以调节不同衬度信息,包括定向背散射、STEM和阴极荧光信息。来自多个多个探测器和探测器区分的图像可以同步采集和显示,使得单次扫描即可获得样品信息,从而降低电子束敏感样品的束曝光并实现真正额动态试验。Quattro的三种真空模式使得系统极具灵活性,可以容纳最广泛的样品类型,无论样品导电、绝缘、潮湿或是在高温条件下,均可获得可靠的分析结果。Quattro独特的硬件有用户向导支持,不仅可以指导操作者,还可以直接进行交换,轻松缩短结果获取时间。
金属及合金、断口、焊点、抛光断面、磁性及超导材料
陶瓷、复合材料、塑料
薄膜/涂层
地质样品断面、矿物
软材料:聚合物、药物、滤膜、凝胶、生物组织、植物材料
颗粒、多孔材料、纤维
水合/脱水/湿润/接触角分析
结晶/相变
氧化/催化
材料生成
拉伸(伴随加热或冷却)
产品参数
发射源:高稳定型肖特基场发射电子枪
分辨率:
型号 | Quattro C | Quattro S |
高真空 | ||
30 kV(STEM) | 0.8 nm | |
30 kV(SE) | 1.0 nm | |
1 kV(SE) | 3.0 nm | |
高真空下减速模式 | ||
1 kV(BD+BSED) | 3.0 nm | |
1 kV(BD+ICD) | 2.1 nm | |
200 V(BD+ICD) | 3.1 nm | |
低真空 | ||
30 kV(SE) | 1.3 nm | |
3 kV(SE) | 3.0 nm | |
30 kV(BSE) | 2.5 nm | |
环境扫描模式 | ||
30 kV(SE) | 1.3 nm |
放大倍率:6 ~ 2,500,000×
加速电压范围:200 V ~ 30 kV
着陆电压:20 eV~30 keV,电子束减速可选
探针电流范围:1 pA ~ 200 nA,连续可调
X-Ray工作距离:10 mm,EDS检出角35°
样品室:从左至右为340 mm宽的大存储空间,样品室可拓展接口数量12个,含能谱仪接口3个(其中2个处于180°对角位置),通用9针电气接口
样品台和样品:
型号 | Quattro C | Quattro S |
类型 | 优中心测角台,5轴电动 | |
X Y轴 | 55×55 mm | 110×110 mm |
重复精度 | <3.0 μm(0°倾斜时) | |
电动Z轴 | 65 mm | |
旋转 | N×360°,连续 | |
倾斜 | -15°/+90° | |
最大样品高度 | 与优中心点(10 mm)间隔85 mm | |
最大样品重量 | 0°倾斜时,最大为5 kg | |
最大样品尺寸 | 可沿X、Y轴完全旋转时的直径为122 mm |
探测器系统:
同步检测多达四种信号,包括
样品室高真空二次电子探测器ETD
低真空二次电子探测器LVD
气体SED(GSED,用于环境扫描模式)
样品室内IR-CCD红外相机(观察样品台高度)
样品导航彩色光学相机Nav-Cam™
珀尔帖台集成式STEM,用于观察湿薄样品- WetSTEM™
控制系统:
操作系统:64位GUI(Windows 7)、键盘、光学鼠标
图像显示:24寸LCD显示器,WUXGA 1920×1200
定制化的图像用户界面,可同时激活多达四个视图
导航蒙太奇
软件支持Undo和Redo功能
可选Joystick操纵杆
可选多功能控制板
赛默飞扫描电镜Quattro的工作原理介绍
扫描电镜Quattro的使用方法?
赛默飞Quattro多少钱一台?
扫描电镜Quattro可以检测什么?
扫描电镜Quattro使用的注意事项?
赛默飞Quattro的说明书有吗?
赛默飞扫描电镜Quattro的操作规程有吗?
赛默飞扫描电镜Quattro报价含票含运吗?
赛默飞Quattro有现货吗?
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Axia钨灯丝扫描电镜在纤维不导电样品上的解决方案(二)
上期中我们着重介绍了 Axia 拍摄纤维样品时,在样品喷金的条件下,所获 得的高质量图片,以及能谱相关成分信息。 通常,对于纤维、纸张这样导电性差的样品,在电镜高能电子束连续扫描过 程中,样品表面会逐渐累积负电荷,严重时产生荷电效应,造成图像晃动、亮度 突变的问题。解决这一问题通常的方法是在样品表面镀一层金膜或者碳膜以提高 样品的导电性。然而,这一过程费时费力,对于样品的微观形貌细节也会造成影 响,尤其是对于珍贵样品或者还需要进行能谱分析等原位观察的样品,镀膜会对 样品造成不可逆转的破坏。
纺织/印染
2021/09/17
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2015/08/19
企业名称
北京欧波同光学技术有限公司
企业信息已认证
企业类型
信用代码
110103012255605
成立日期
2009-09-14
注册资本
500
经营范围
技术开发;技术服务;劳务服务;信息咨询(不含中介服务);维修机械设备;租赁仪器仪表;销售机械设备、通讯器材、日用品、仪器仪表、办公用机械、照相器材、电子产品;货物进出口;代理进出口;技术进出口;技术检测;会议服务;计算机技术培训(不得面向全国招生)。(企业依法自主选择经营项目,开展经营活动;依法须经批准的项目,经相关部门批准后依批准的内容开展经营活动;不得从事本市产业政策禁止和限制类项目的经营活动。)
北京欧波同光学技术有限公司
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