CMOS传感器中光谱响应和量子效率检测方案(光源)

利用近朗伯特性光谱辐射光源表征CMOS传感器的光谱响应和量子效率 技术方案 根据应用的不同，每个CMOS传感器都会对入射到其上的光线做出不同的响应。 造成这种情况的因素很多，包括波长，入射角，成像光学系统，光阑和有效光敏面积。 传感器被表征为一个不带成像光学系统的焦平面阵列(FPA)，然后在成像应用程序中测试它们的用途。其中表征其特性的一个值是其光谱响应度或量子效率（QE）。 CMOS成像传感器的光谱响应度和QE由传感器的耗尽区对光子的吸收能力所决定。 在这个区域，光子被转换成电荷，随后被形成像素的电场所控制。然后，耗尽区所控制的电荷被转移并以电子方式测量。为了表征传感器的特性，需要一个已知的近朗伯表面的光谱辐照度照射在传感器。 商业挑战 客户在其消费电子产品中大量使用传感器。传感器的初始性能表征和选择适当的器件集成到其产品中，对其产品的性能，可靠性和品牌至关重要。 蓝菲光学解决方案 图1 成像传感器量子效率测试系统 该公司寻求蓝菲光学（Labsphere）来设计，建造和交付一个全自动光谱辐射计光源，用来提供均匀的光谱辐照度。校准系统由稳定的紫外-可见-红外光源、单色仪、带中性滤光片和空白档位的滤光轮(用于暗校正)、监控探测器、积分球、控制有效f数的开孔、参考光电二极管和信号调节电路。该系统采用实时，可溯源的探测器来监控在传感器光敏面的光谱辐照度，同时客户还可以自定义视场角（FOV）。 目标 优势 为OEM产品选择合适的传感器 可靠产品质量和性能 通过一个系统来测试用户自定义照明条件下多个传感器 使用设计好的应用几何结构表征量子效率 优化测试时间 使用一个通用系统，可以对每个被测设备进行多项测试 利用近朗伯特性光谱辐射光源表征CMOS传感器的光谱响应和量子效率 技术方案根据应用的不同，每个CMOS传感器都会对入射到其上的光线做出不同的响应。 造成这种情况的因素很多，包括波长，入射角，成像光学系统，光阑和有效光敏面积。 传感器被表征为一个不带成像光学系统的焦平面阵列(FPA)，然后在成像应用程序中测试它们的用途。其中表征其特性的一个值是其光谱响应度或量子效率（QE）。 CMOS成像传感器的光谱响应度和QE由传感器的耗尽区对光子的吸收能力所决定。在这个区域，光子被转换成电荷，随后被形成像素的电场所控制。然后，耗尽区所控制的电荷被转移并以电子方式测量。为了表征传感器的特性，需要一个已知的近朗伯表面的光谱辐照度照射在传感器。商业挑战客户在其消费电子产品中大量使用传感器。传感器的初始性能表征和选择适当的器件集成到其产品中，对其产品的性能，可靠性和品牌至关重要。蓝菲光学解决方案 图1 成像传感器量子效率测试系统 该公司寻求蓝菲光学（Labsphere）来设计，建造和交付一个全自动光谱辐射计光源，用来提供均匀的光谱辐照度。校准系统由稳定的紫外-可见-红外光源、单色仪、带中性滤光片和空白档位的滤光轮(用于暗校正)、监控探测器、积分球、控制有效f数的开孔、参考光电二极管和信号调节电路。该系统采用实时，可溯源的探测器来监控在传感器光敏面的光谱辐照度，同时客户还可以自定义视场角（FOV）。 目标优势为OEM产品选择合适的传感器可靠产品质量和性能通过一个系统来测试用户自定义照明条件下多个传感器使用设计好的应用几何结构表征量子效率优化测试时间使用一个通用系统，可以对每个被测设备进行多项测试