激光散射仪

仪器信息网激光散射仪专题为您提供2024年最新激光散射仪价格报价、厂家品牌的相关信息, 包括激光散射仪参数、型号等,不管是国产,还是进口品牌的激光散射仪您都可以在这里找到。 除此之外,仪器信息网还免费为您整合激光散射仪相关的耗材配件、试剂标物,还有激光散射仪相关的最新资讯、资料,以及激光散射仪相关的解决方案。
当前位置: 仪器信息网 > 行业主题 > >

激光散射仪相关的厂商

  • 创可激光,隶属于广州新可激光设备有限公司,13年品牌深耕,其三轴动态技术在光纤、co2和紫外激光打标雕刻系统中实现了无可匹配的刻印质量。销量超20,000台,专利认证超50个,荣获高新技术企业。创可激光致力于高端3D光纤,高功率二氧化碳以及紫外激光打标机的研发、生产与销售。满足市场对先进打标设备的需求。创可激光总部位于中国广州,国内拥有数十家分公司及办事处。并在日本、德国、美国、韩国等三十多个国家建立了代理机构,销售数量过万,品牌影响辐射全球。创可激光有一支专业的研发团队,研发内容涉及软件设计、机械设计、光路设计等多个方面。协助客户完成各种工艺难题与技术攻关。持续为客户提供全套的激光解决方案。超过十年的专业激光制造经验,追求完美细节,苛求品质第一。现正招募全球代理商,建立互动共赢的合作关系。
    留言咨询
  • 公司长期保持与国内外科研机构紧密而广泛的合作,拥有一批致力于激光应用的工程技术人员和资深专家,,以“发展激光产业,振兴民族工业”为己任,秉承“以顾客为中心,与客户共成功”的经营理念,坚持“专业化和实用化”的产品设计原则,竭诚为中外企业提供全套的应用解决方案和完善的系统服务,不断铸造中国诚信企业品牌新形象。
    留言咨询
  • 本公司是一家专业从事激光产品研发的高科技公司,拥有雄厚的技术设计和生产能力,终身致力于为国内外客户提供品质优良、性能出众、价格有竞争力之产品。目前已开发出多种半导体激光产品,其中激光标线器是一种方便实用的标线工具。可广泛用于作服装钉钮点光源定位、裁布机裁布辅助标线、缝纫机/裁剪机/钉钮机/自动手动断布机辅助标线定位、裁床裁剪对格与对条、电脑开袋机标线等等。方便快捷、直观实用。。  产品主要包括:半导体激光器、激光准直光源、激光平行光管、激光标线仪、光学透镜、实验室教学光源、激光功率计等。  半导体激光器主要包括绿光(532nm)系列激光器、红光(635nm、650nm、780nm)系列激光器和红外(808nm、850nm、980nm)系列激光器。  激光准直光源主要包括:D-系列(点状光斑)激光器、L-系列(一字线)激光器、S-系列(十字线)激光器、T1-系列(功率可调)激光器、T2-系列(频率调制)激光器,P-系列(平行光管)激光器,B-系列激光标线仪。其中D-系列激光器光束发散度可达0.1mrad;L-系列激光器线宽最小可达0.3mm;调制(T2)激光器调制范围0-10KHz。P-系列激光平行光管口径可达40mm,光束发散度可达0.02mrad。  激光功率计可标定532nm、635nm、650nm、780nm、808nm、850nm、980nm、1100nm各波段,工作同时可监测电流。  我公司激光产品及光学产品可广泛应用于科研、工业、勘探、测量及医疗等领域。可以根据用户的特殊要求设计加工专用激光器及光学系统,也可以提供激光系统应用和特殊用途的批量供应。“团结、自信、坚韧、进取”是我们的企业宗旨,我们将一如既往地为用户提供高品质的产品。
    留言咨询

激光散射仪相关的仪器

  • 仪器简介:采用TurboCorr数字相关器,通过动态光散射的方法可以测量小至1nm的纳米颗粒分布情况,通过静态光散射的方法可测量高分子材料的Zimm、Berry、Debye曲线、分子量、均方根回旋半径及第二维里系数。经国内外众多顶级实验室使用,证明BI-200SM是研究聚合物、胶束、微乳液以及复杂溶液等体系最理想的测试仪器。技术参数:1.粒度范围:1nm-6um2.分子量范围:500~109Dalton3.分子大小范围:10~1000nm4.角度范围:8-162° ,± 0.01° 5.温控范围:-20 ~ 80℃(选件-20 ~ 150℃),± 0.1℃6.滤光片轮:632.8nm, 532nm, 514.5nm,488nm7.孔径轮:100 um,200 um,400um,1 mm,2 mm,3mm主要功能:1.动态光散射(DLS)功能 动态光散射又被称为光子相关谱法(PCS)或者准弹性光散射法,该方法使用自相关方程,自相关方程中包含了悬浮颗粒或者溶液中高分子的扩散系数的平均值及其分布等信息。从扩散系数的分布中可以得到:1)粒度大小及其分布2) 其它动力学参数2.静态光散射(SLS)功能: 对于悬浮于液体中的颗粒,利用Mie散射形成光强与角度的函数关系,从而得到颗粒粒度大小与形状的信息。 对于高分子溶液,光强与角度、浓度形成的依赖关系(即浓度依赖性与角度依赖性),利用Zimm图(或其他类似的方法)可以得到以下参数:1)Mw绝对重均分子量2)Rg均方根回旋半径或均方末端矩3)A2第二维里系数主要应用:高分子特性研究(以动静态、静态光散射原理为基础)一、囊泡及脂质体 微胶囊技术在现代科技与日常生活中有重要作用,如药物、染料、纳米微粒和活细胞等都可以被包埋形成多种不同功能的微胶囊。利用动静态光散射表征技术,可以对微胶囊的几何形状、粒径大小和分子量大小进行表征,进而人为对微胶囊的囊壁组成和结构进行精确的控制与调控,从而调控微胶囊的各种性能。二、胶束的研究 胶束的大小、结构、温敏性、pH值敏感度等决定着胶束的性能及应用前景。而胶束体系DLS测量时具有明显的角度和浓度依赖性,将不同角度和不同浓度的DLS数据外推才能得到准确的扩散系数D0。三、聚电解质共聚物的研究 聚电解质具有高分子溶液的特性,例如粘度、渗透压和光散射等。由于它带有电荷,并且这三方面的性质又不同于一般的高分子。在光散射测量方面,通常把聚电解质溶解在一定浓度的盐溶液中,再在不同角度下测量样品光强,从来评价样品是否已被屏蔽掉库伦力影响。四、体系聚集与生长 由于体系的变化可以通过粒度、光强、扩散系数、相关曲线等的变化加以表征,所以通常我们可以用光散射的方法来表征,从而得到体系的聚集、解离以及生长等信息。如在蛋白质晶体生长过程中,连续采集其光散射信号,通过对其光强、粒度、扩散系数及相关曲线等变化数据进行对比与分析,了解蛋白质晶体生长的情况及其性能变化的情况。如外加温控设备可以进一步研究体系的相变温度等溶液行为。五、超高分子量聚合物的表征 超高分子量聚合物(如PAM、烯烃等)因其具有极高的粘度性,采用传统的测量方法(如GPC与光散射联用技术,粘度法等)难以保证准确性,而采用特殊匹配液池设计的广角光散射仪完全避免了管路堵塞、杂散光影响等问题,成为此类样品测量最适合的仪器。六、自组装影响组装体系稳定性的因素有:分子识别、组分、溶剂、温度及热力学平衡状况。而通过测定组装体系的扩散系数、粒径、分子量、均方根回旋半径,第二维利系数等变化,可以方便地表征自组装体系的这些性能。七、DLS和SLS技术还可以用来进行以下表征:1)微乳液2)液晶3)本体聚合物及晶体转变4)复杂聚合物与胶体体系蛋5)白质和DNA
    留言咨询
  • 一、前言作为物质存在的第四种状态的等离子体通常由电子、离子和处于基态以及各种激发态的原子、分子等中性粒子组成。等离子体中带电离子间库伦相互作用的长程特性,是带电粒子组分的运动状态对等离子体特性的影响起决定性作用,其中的电子是等离子体与电磁波作用过程中最重要的能量与动量传递粒子,因此,等离子体中最重要的基本物理参数是电子密度及其分布以及描述电子能量分布的函数以及相应的电子温度。而对于中高气压环境下产生的非热低温等离子体来说,等离子体中的主要组分是处于各种激发态的中性粒子,此时除了带电粒子外,中性粒子的分布和所处状态对等离子体电离过程和稳定性控制也起着非常重要的作用,尤其是各种长寿命亚稳态离子的激发。为了可以充分描述等离子体的状态,在实验上不仅要对带电粒子的分布和运动状态进行诊断,如电子温度、电子密度、电离温度等参数,还需要对等离子体中的中性粒子进行必要的实验测量,来获得有关物种的产生、能量分布以及各个激发态布居数分布等信息,如气体温度、转动温度、振动温度、激发温度等参数。基于这种要求,结合相关学科的各种技术形成了一个专门针对等离子体开展诊断研究的技术门类,如对等离子体中电子组分的诊断技术有朗缪尔探针法(Langmuir Probe),干涉度量法(Interferometer),全息法(Holographic Method),汤姆逊散射法(Thomason Scattering, TS),发射光谱法(Optical Emmission Spectroscopy, OES)等,对离子组分的光谱诊断技术有光腔衰减震荡(Cavity Ring-Down Spectroscopy, CRDS)和发射光谱法(OES),而对中性粒子的光谱诊断技术包括了吸收光谱法(Absorption Spectroscopy, AS),发射光谱法(OES),单光子或者双光子激光诱导荧光(Laser Induced Fluorescence, LIF)等。二、汤姆逊散射(Thomson Scattering)基于激光技术发展起来的汤姆逊散射诊断原本用于高温聚变等离子体的测量,借助激光技术和光电探测技术的突飞猛进,汤姆逊散射在近年也大量应用于低温等离子体的密度和电子温度的测量。汤姆逊散射具有空间分辨率高(局域测量),测量值稳定可靠等优点。测量的物理量:电子温度:下限0.1e密度:下限1019m-3.图1. 汤姆逊散射分析系统结构示意图2.1、激光束在等离子体中的束斑大小(束径DLP)激光束经过透镜聚焦,等离子体应该位于透镜的焦点,以达到激光束在等离子体中有最小的束径,最高的功率密度。DLP = f´ q其中f是聚焦透镜的焦距,q是激光束发散角,考虑各种综合因素,实际束径是上述公式的2倍左右。假设使用f=1000mm的聚焦透镜和q=0.5mrad的激光束,DLP大约是1mm。2.2、收集光学系统的光纤的像斑(fP)与等离子体中激光束径DLP的匹配为了有效的收集激光束上的散射光子,光纤的像斑fP应该完全覆盖激光的束径。理想情况是光纤的像斑与DLP尺寸完全相同,并且二者完全重合,这样激光的散射光最大,同时背景非散射光最小。但是考虑到实际的准直的难度,这样的理想条件在有限的资金投入下很难实现。建议fP是DLP的两倍,既能有效的收集散射光子,也能比较容易准直。如果DLP =1mm, fP =2mm是比较合适的。2.3、光纤的芯径、布局和光谱仪以及ICCD的选择汤姆逊散射谱线展宽与温度的关系如下:汤姆逊散射角度 Theta=90度;me是电子质量,c是光速,kB是玻尔兹曼常数,公式右边分母下面:是激光的波长 532nm;分子是谱线展宽,不过是1/e展宽因此汤姆逊散射光谱的半高宽△λ1/e(nm)与等离子体温度Te(ev)的关系可以简化为△λ1/e=1.487×Te1/2Te eV0.10.20.30.4124510△λ1/e nm0.470.530.810.941.492.102.973.324.70表1. 电子温度与汤姆逊散射谱半高宽对应值在光谱仪没有入射狭缝或者入射狭缝宽度超过光纤的芯径的情况下,光纤的芯径实际决定了谱仪的实际分辨率(仪器展宽):△λof = fof ´ LSPfof是光纤的芯径,LSP是谱仪的倒线色散率。针对于此应用,可以考虑选择两款光谱仪,分别是:1、Zolix 北京卓立汉光仪器有限公司的Omni系列 750mm的谱仪,如果使用1200l/mm的光栅,LSP = 1nm/mm。测量电子温度的原则是仪器展宽应该与最低温度的展宽相当,才能有效的测量到最低温度。2、选用207(670mm焦距)光谱仪,在搭配1200l/mm光栅的情况下,LSP=1.24nm/mm,可以满足要求。同时可以考虑搭配1800l/mm光栅,这样的话可以兼容高电子温度和低电子温度的同时测量,以及同时兼顾高分辨和宽光谱。原则上,使用芯径400mm的光纤,△λof=0.4-0.48nm,完全符合0.1eV的测量要求。但是还是建议谱仪安装入射狭缝,靠狭缝来控制分辨率,不仅确保0.1 eV的测量要求,还能实现更低的温度测量。同时在调试阶段,靠狭缝来控制通光量,以免532nm的激光杂散光太强,对ICCD造成破坏。另一方面ICCD的尺寸决定了光纤的排布数量。光纤数量越多,对汤姆逊散射这种微弱光测量是越有利的。在信号很弱的时候,可以把几道合成一道使用,以增加信噪比,提高信号质量。因此在波长覆盖范围(CCD的横向尺寸)满足要求的情况下,ICCD的纵向尺寸应该尽量大一些,以便容纳更多的光纤。选用iStar 334T探测器,这款CCD的尺寸是13.3 ´ 13.3 mm,对焦距目前的光谱仪无论是Omni-750还是207在搭配1200l/mm光栅的情况下,波长覆盖范围是13nm左右,同时纵向13.3mm,容纳的光纤数量也更多,可以做更多的多道光谱。如果已有更大面阵的CCDsCMOS或高速相机,可以考虑使用Zolix 卓立汉光的IIM系列镜头耦合像增强模组与之配合,达到类似ICCD的功能和效果,同时获得更大的相机选取自由度;IIM 内部可以选择25mm 尺寸的增强器,1:1耦合到CCD, 可以获得更大的成像面,双层增强器也可以获得更高的增益;光纤的布局是一字型密集排布,在13mm的长度内,尽量的密布尽可能多的光纤。同时光纤应该严格排列在一条直线上,整排光纤的偏心距小于20mm。2.4、收集透镜的选择等离子体中心到透镜的距离L和光纤的芯径,及像斑决定了收集透镜的焦距。举例如下:如果像斑要求是fP =2mm,光纤芯径400mm, 则物像比是4,如果L=320mm, 则透镜的焦距就是320/4=80mm。同时如果观测的等离子体范围是50mm,那光纤一字排开的范围就是50mm/4=12.5mm。这个宽度和连接谱仪一侧的光纤束的尺寸很接近了,连接收集透镜一侧光纤也应该是密集排布,这样两端容纳的光纤数量就是匹配的。2.5、瑞利散射的滤除与使用瑞利散射信号通常也可以用来测试重粒子的相关信息比如中性原子。但是相比于瑞利散射法来说,作为弹性散射的汤姆逊散射法更多用于自由电子的测试。和离子与原子相比,由于自由电子的速度更快,质量更轻,因此具备更宽的光谱展宽。比较强的杂散光信号与更强的瑞利散射信号则可以通过例如布儒斯特窗、笼式结构或者黑丝挡板的方式滤除掉。图2 滤除瑞利散射的笼式结构示意光路因此在实际的测试过程中,如何合理地使用这些信号为等离子体诊断服务,则是另一个相关的话题。如图3[1]所示,为实际测试过程中得到的瑞利与汤姆逊散射信号如图4[2]所示,为实际测试过程中得到的滤除瑞利散射后的汤姆逊散射信号图3 包含瑞利散射与汤姆逊散射的实测信号图4 滤除瑞利散射后的汤姆逊信号2.6其他附属部件光电倍增管谱仪第二出射口配宽度可调的狭缝三维调整光学支架,用以调节镜头的方位和方向三、整体解决方案汇总推荐根据用户需求,一般推荐的配置如下:光谱仪:Zolix 北京卓立汉光仪器有限公司的Omni-500I 或750i光谱仪搭配1200l/mm和1800l/mm的全息光栅高光通量光谱仪,搭配120*140mm 或110*110mm 的大尺寸,高分辨率的1200l/mm光栅和1800l/mm光栅探测器:ICCD, 18mm 增强器,13*13mm 探测面;Zolix卓立汉光 公司的IIM-A系列 镜头耦合像增强模组,配合更大面阵的CCD或sCMOS相机, 18mm或25mm 的大面积增强器,灵活的CCD 相机选择; DG645数字延迟脉冲发生器:用于系统触发控制标准A光源,用于系统强度校准其他的配件:包括多道光纤,收集光路,可以后续一并考虑,先购买标准部件参考文献[1] Yong WANG, Cong LI, Jielin SHI, et al. Measurement of electron density and electron temperature of a cascaded arc plasma using laser Thomson scattering compared to an optical emission spectroscopic approach[J]. Plasma Sci. Technol. 19 (2017) 115403 (8pp) [2] Ma P, Su M, Cao S, et al. Influence of heating effect in Thomson scattering diagnosis of laser-produced plasmas in air[J]. Plasma Science and Technology, 2020.
    留言咨询
  • 激光小角散射仪 400-860-5168转6108
    激光散射属于光散射的重要分支,其特点在于利用激光作为光源。激光的最大优势在于极高的亮度、极小的发散角和优异的相干性,高亮度使激光散射信号远高于其他类型的散射技术;极小的发散角使激光散射非常适合进行小角散射研究,最大化该技术对表面轮廓和形状分布的灵敏度;优异的相干性使激光散射易于应用在动力学研究,即动态光散射。1、激光波长:350-800 nm2、功率:1-50 mW3、粒度测量范围:20 nm – 2 μm4、探测器类型:可选零维点探测器、一维阵列探测器、二维面探测器5、单次测量时间:0.1 s – 60 s6、样品环境:高低温(-196~300 °C)、真空、空气等应用领域:1、金属表面分析2、高分子薄膜3、溶液动力学
    留言咨询

激光散射仪相关的资讯

  • 全自动激光粒度仪散射理论的应用
    由于运用光散射参数的组合不同,形成了众多基于散射的颗粒粒径测量理论,米氏散射理论,夫朗和费衍射,衍射式散射,全散射,角散射等,不同理论的运用形成了多种粒度测试仪器共存的现状。  米氏理论是对均质的球形颗粒在平行单色光照射下的电磁方程的精确解,它适用于一切大小和不同折射率的球形颗粒。而夫朗和费衍射理论只是经典米氏理论的一个近似或一个特例,仅当颗粒直径与入射光波长相比很大时才能适用。这就决定了基于夫朗和费衍射理论的激光粒度仪的测量下限不能很小。正因如此,应用经典米氏散射理论的激光粒度仪以其适用范围广,在小粒径范围测量的极高精度,受到了广泛认可。
  • 我国成功研制先进的高速高精度激光汤姆逊散射仪
    p  近日,中国科学院空天信息研究院和中国科学技术大学等单位联合研制出高速高精度激光汤姆逊散射仪。/pp  今年5月,在“科大一环”磁约束聚变等离子体装置开展实验中,基于重复频率200赫兹、单脉冲能量5焦耳的激光脉冲,实现了小于5电子伏特的电子温度测量精度,电子温度安全预警时间间隔达5毫秒,所获得的预警时间是国际同类系统的一半,指标提高一倍。这标志着我国在该领域进入国际领先水平行列,为我国未来磁约束聚变能装置的高精度测量奠定了坚实基础。/pp  据了解,在磁约束聚变反应装置工作过程中,偏滤器将承受巨大的能量泄放,需要对等离子体电子温度进行提前预警和实时反馈控制,实现脱靶而避免等离子体损伤器壁进而导致灾难性后果。基于高频高能激光的汤姆逊散射测量是精确测量等离子体电子温度的唯一可靠测量手段,激光的工作频率决定了温度预警的采样时间间隔,间隔越小系统预警越及时,装置运行安全系数越高。/pp  受限于激光器能量和频率水平,我国以往等离子体温度诊断采用数十赫兹的低频激光器,采样间隔宽,遇到紧急情况无法及时预警,导致装置运行存在巨大风险。虽然采用多台低频率激光器合束技术可以满足预警时间间隔要求,但是这种方法可靠性大幅降低。欧洲和日本已经掌握了100赫兹工作频率的高能激光技术,预警时间间隔达到10毫秒,但这个预警时间间隔仍然较长,无法完全保证装置安全运行。/pp  从2015年起,空天信息研究院联合中国科学院光电技术研究所和同济大学等单位历时3年时间,突破了高能量高光束质量激光传输与放大、激光相位共轭波前畸变校正、大口径/大尺寸激光放大模块、大功率脉冲激光驱动电源等关键技术,于2017年4月在国际上首次发布重复频率200赫兹、脉冲能量5焦耳、脉冲宽度6.6纳秒、光束质量1.7倍衍射极限的高频高能激光指标,将我国纳秒脉宽激光器的功率水平提高了1个数量级。研究团队研发出基本完善的工艺流程,核心器件/部件实现国产化,形成整机工程化制造能力。以200赫兹/5焦耳激光器为光源,中国科学技术大学攻克了大功率激光传输系统综合降噪、收集光学精准对焦、弱光信号探测提取等难题,成功地研制我国迄今精度最高的激光汤姆逊散射检测系统。/pp  未来,研究团队将开展更高功率、更高频率激光器研发和更高精度的诊断实验,计划将激光器的工作频率提高至500赫兹,检测系统提供2毫秒的安全预警时间间隔和1电子伏特的电子温度测量精度,为下一代磁约束聚变装置安全运行提供高速预警手段。/ppbr//p
  • 大塚电子发布大塚电子小角激光散射仪PP-1000新品
    小角激光散射仪 PP-1000 PP-1000小角激光散射仪利应用了小角光激光光散射法(Small Angle Laser Scattering,简称SALS),可以对高分子材料和薄膜进行原位检测,实时解析。与SAXS和SANS的装置相比,检测范围更广。利用偏光板的Hv散射测量可以进行光学各向异性的评价,解析结晶性胶片的球晶半径,Vv散射测量可以进行聚合物混合的相关距离的分析。 特点l 0.33 ~ 45°散射角度的测量,最短测试时间10 毫秒l 检测范围0.1μm ~数十微米l 可以在专用溶液单元中测量溶液样本l Hv散射,Vv散射测量可以在软件上轻松切换 用途l 高分子材料评价→结晶性胶片结晶化温度、球晶直径、结晶化速度配光、光学异方性→聚合物混合相分离过程和相关距离(分散度)→高分子凝胶三维架桥结构的大小→树脂热硬化树脂和UV硬化树脂的硬化速度 l 粒子物性评价粒子直径,凝聚速度 检测原理 小角激光散射仪由光源、偏振系统、样品台和记录系统组成。单色激光照射到样品时发生散射现象,散射光投射到屏幕上并被拍摄下来,得到样品的散射条纹图。操作过程:1.在样品台上放置样品。2.根据想要测量的对象调整检偏片。3.来自样品的散射图案会被相机记录下来。 当起偏片与检偏片的偏振方向正交时,得到的光散射图样叫做Hv散射;当起偏片与检偏片的偏振方向均为垂直方向时,得到的光散射图样叫做Vv散射。从这些散射图形中可以获取球晶半径、相分离结构、分散相颗粒平均粒径、配向状态等信息。l Hv散射 球晶半径解析:R = 4.09 / qmax(R:球晶半径,qmax:散射光强度最大的散射向量) q = 4πn/λsin(θ/ 2)(q:散射向量, λ:介质中的波长,n:样品折射率,θ:散射角) l Vv散射 对聚合物混合的相分离过程的评价连续相与分散相的大小,分散相颗粒平均粒径(分散度)粒子直径的评价相分离构造与相关距离检测 技术参数 应用案例 l PVDF球晶半径分析 溶融温度230℃結晶化温度160℃PP-1000散射图样 偏光显微镜图样 各时间45°方向的散射向量提取 球晶半径计算创新点:1.0.33 ~ 45° 散射角度的测量,最短测试时间10 毫秒2.检测范围0.1μ m ~数十微米3.可以在专用溶液单元中测量溶液样本4.Hv散射,Vv散射测量可以在软件上轻松切换大塚电子小角激光散射仪PP-1000

激光散射仪相关的方案

  • 土壤粒径的激光散射法和沉淀法分析及模拟转化
    土壤质地是土壤最基本的物理性质之一,它能表明不同的土壤的粒径分布和粒径组分比例。目前,有多种通过物理方法对土壤粒径进行测试,其中的吸管法是根据不同大小粒子的沉降速度来测粒径,是目前认为的标准方法。随着科技的发展,激光散射等光学测试法也逐渐被用于土壤粒径的测试。但不用的物理方式(此文基于激光散射)测得的结果与传统的沉降法的结果不是1:1的关系,这导致很多研究者不愿意接受激光散射技术。随着多线性回归模型的发展,使得传统沉降法的结果可以与激光散射法之间进行转化。因此我们对河床深度在15-20cn和40-45cm的河床土壤132个样本用激光散射法进行了分析,再将结果与吸管法对比。并应用线性函数、指数函数、幂函数、多项式推导回归关系,并对回归系数(R2)较高的函数进行了进一步的研究。 发现最符合的是多项式回归模拟。从结果来看, 0.01mm的黏土的多项式回归函数模拟得到了一个比较可信的值(R2),例如在15-20cm深度的土壤是0.72-0.95,在40-45深度的土壤是0.90-0.96。由于粘粒是土壤类型的重要指标,在利用激光散射分析时,我们推荐使用土壤科学的模拟推导关系进行分析。激光散射分析耗时短、用量少、适用多粒径组分、各种土壤类型和广的测试范围,所以有必要在此领域做一个深度的研究,以强调土壤科学研究的急需性,并用先进的激光散射方法代替传统的吸管法。
  • 380DLS动态光背散射技术用来描述墨水粒度
    喷墨油水是一种纳米颗粒分散体系,能够发生动态光散射(DLS)。喷墨墨水通常原配方浓度比使用动态散射光不稀释检测时要高很多。在某种程度上,这就可能导致在分析浓度较高的喷墨墨水时,多重散射变得没有效果。通过激光在样品池里聚焦和定位的检测器来接收背面散射出来光,这样可以完成动态光散射DLS对高浓度分散体系的检测。Nicomp 380独特地增加了多角度检测器,可以从90度到170度进行检测。一个特制的小池样品容器固定器被用来移动,使得激光的焦点可以优化成为适合每种类型样品的检测。
  • 氦气等离子体射流电子密度诊断(激光汤姆逊散射)
    逐光2DSPC单光子计数相机的外部触发稳定抖动小于35ps,增益高,稳定连续且区分度高。单光子计数模式十分适合微弱信号的探测,例如拉曼光谱、汤姆逊散射、二次谐波等应用,可以在高增益下对微弱信号进行高精度地累加,对sCMOS噪声的过滤效果很好。

激光散射仪相关的资料

激光散射仪相关的论坛

  • 聊一聊激光散射

    由于场流分离仪FFF可以分析的样品种类繁多,既有溶解型的高分子材料,又有分散型的纳米-微米材料,因此,很难找到合适的标准物质来做标准曲线,特别是纳米-微米材料的标样,目前基本都是进口的,价格昂贵,限制了其使用,就不如采购动、静态激光散射检测器来的划算了。因此,激光散射仪器,几乎成了FFF的标准配置了。实际使用中,还是动态激光散射粒度仪/粒度检测器DLS应用更加广泛一些,而且,多数进口品牌的DLS仪器都可以估算分子量的,也是有参考意义的数据,因此更合算了。关于激光散射检测器MALS/DLS的原理,此处不再赘述,感兴趣的朋友可以参看我们相关的帖子,以及动、静态激光散射的相关资料、教材课本等。我们主要讨论的是,MALS/DLS在FFF上的应用,特别是与FFF仪器的在线直接联用的配置问题。为了是更广大的用户能够买得起、用得起FFF仪器,德国postnova公司不仅仅在其软件NovaFFF上下了很大功夫,使该软件在不带静态多角激光散射检测器MALS的情况下,就具有dn/dc值的输入与输出功能,从而方便了那些已经有了HPLC/GPC上的RI检测器的用户,使其无需再配置购买专用的、带dn/dc值输入输出功能及软件的RI检测器了,从而可以方便准确地测试和计算绝对分子量了。需要指出的是,虽然绝大多数HPLC仪器上的RI检测器使用的是红外波长的光源,在dn/dc值的测试的时候,是会产生一些误差的——MALS均使用可见光区的波长的光源,但是,针对不同的应用,这一误差也是不同的,大部分情况下,误差是可以接受的、可以容忍的,不是很大,呵呵。对于动态光散射DLS,postnova公司则专门开发了一款设备:PN9020型多功能标准化接口扩展板,用于将马尔文公司、美国布鲁克海文公司(brookheaven)的台式机的、在线的动态激光散射粒度仪/粒度检测器DLS,接入到我们postnova的各型场流仪当中,从而实现台式机的在线直接联用。其电路部分的信号传输路径是:从(手动或自动)进样器传输出来一路电信号给PN9020接口板,再通过这个接口板传输给Malvern的各型DLS台式机,或者是传输给布鲁克海文的在线DLS检测器,从而给其一个启动信号,使其纵坐标开始计时(保留时间)。目前,Malvern的多数激光粒度仪DLS都有了流动模式的软件了,因此使用较为方便;而brookheaven的在线DLS检测器,就更方便了,本身就有软件的,只是需要另开一个软件窗口。PN9020型接口板,极大地拓展了场流仪的应用客户群,使得许多已经有了台式DLS的客户,都可以再采购postnova的FFF仪器,而不必再另购一台在线的DLS了。不仅如此,在FFF上使用知名大厂家的DLS仪器,也保证了分析效果:由于我们主要的竞争对手,实际上是代理德国superon公司的AF4,因此才把他们自己的静态激光散射检测器接入到AF4中,并且采用了在90度角加一个动态发生器之类的机器就算是DLS的配置方案,表面上看似高大上,其实这个90度另加的动态DLS,肯定是远远赶不上Malvern和Brookheaven公司的专门的动态粒度仪/粒度检测器DLS的,这俩厂家的DLS,早就采用了先进的光纤技术了,而光纤技术在动态激光散射领域的应用效果,也即:灵敏度、稳定性,要远远好于竞争对手使用的光电二极管式取光。此外,专用的DLS,也具有更加强大的测试功能、计算功能。最后,Malvern和Brookheaven的DLS,是一台独立的仪器,跟静态光散射MALS无关的,既可以与MALS一起使用,也可以单独使用;反观竞争对手那边,在90度角上加动态,不仅仅性能大打折扣,而且使用也不方便、不灵活,静态MALS不开机,动态DLS使不了啊,呵呵。我们的主要竞争对手,总是“忽悠”客户采购他们的多角激光散射检测器外加90度角的动态,这样的配置,实际上对于许多搞纳米材料表征的用户来说,就是浪费钱了,因为基本用不上静态光散射MALS,但是又不得不买,因为没有静态MALS的主机,90度加动态的也就不可能有了。原本花较少钱就能解决的分析功能,不得不花很多钱来解决。[b]这背后的根本原因,就是竞争对手他们没有类似我们的PN9020型接口板的设备、无法接入别的厂家的或者是他们自己的DLS台式机!所以,归纳总结一下,竞争对手这种配置,不仅仅使得已经有了台式DLS仪器的用户无法发挥已有设备的用途以节省采购费用,还使得那些无需测试分析绝对分子量的用户也不得不购买静态光散射MALS !也就是说,甭管你测不测绝对分子量,只要你测纳米尺寸,你就得买在纳米尺寸测试方面基本用不上的静态光散射MALS,否则动态DLS也使不了。这等于是绑架了用户啊![/b]

激光散射仪相关的耗材

  • 光散射专用凝胶柱
    光散射检测器对于溶剂体系和柱子有非常高的要求,一些细小的柱流失都会引起很大的噪音。PLGel LS系列是专用于光散射检测器的柱子,适用于光散射检测器。
  • 光散射比色皿
    德国Hellma公司成立于1922年,是全球最著名的比色皿供应商与光学元件供应商,1995年荣获TUV Sudwest的DIN EN ISO 9001质保认证。为了确保优越品质,Hellma采用出自著名的德国Heraeus公司的SUPRASIL高级石英为原材料,每一件比色皿都经过了严格的质量审查。 Hellma一直为PE、Shimadzu、Jasco等全球各大仪器厂商提供OEM比色皿,Hellma比色皿完全适用于各厂牌各种型号光谱仪的需要!光散射比色皿,用于散射分析,多种规格可选。540.11光散射比色皿0/540.111/540.114/540.115/540.135-QS规格:目录外径尺寸H × D(mm)内径尺寸H × D( mm)容量( µ L)产品号备注540.110-QS75 x 1074 x 82800540-110-80540.111-QS75 x 1074 x 82800540-111-80外圆柱面磨光540.114-QS75 x 2573 x 22.622000540-114-80540.115-QS75 x 2573 x 22.622000540-115-80外圆柱面磨光540.135-QS75 x 2074 x 1814000540-135-20-40光散射比色皿其它规格咨询请联系我们!!各规格比色皿现货特惠促销!!!
  • 光腔衰荡低色散高反射镜片,激光反射镜 3000-3500nm
    总览激光反射镜: 熔融石英 ( 红外) | pl-凹面 | Ø=25. 0(- 0. 1) mm | te=6. 35( ± 0. 10) mm | // 5min S1: Øe21 | 3/ 0. 2( 0. 2) [ L/ 10] | 5/ 1x0. 04 L1x0. 004 | 倒角 0. 3 减反射( 0° , 3000- 3500nm)0. 25% S2( ^): r=5000mm( ± 2%) CC | Øe21 | 3/-( 0. 5) [ L/ 4 reg.] | 5/ 1x0. 04 L1x0. 004 | 倒角 0. 3 Øe10 | 5/ 1x0. 016高反射( 0° , 3000- 3500nm) 99. 7% (低色散) T( 0° , 3250nm) ~0. 02%技术参数 产品名称111798类别激光反射镜激光器类别低散射激光镜片涂覆层材料(下面)114592涂覆层材料(背面)134671光学参数材质红外硅302形状圆形直径(Ø)25 mm (-0.1 mm)厚度(t)6.35 mm (±0.1 mm)平行度5ʹ 光学参数正面(S2)光学参数背面 (S1)形状凹面形状平面曲率半径5,000 mm(±2 %)测试区 Øe21倒角0.3 mm (±0.1 mm)倒角0.3 mm(±0.1 mm)测试区 Øe21曲面容差3/0.2(0.2) [L/10 @546.1nm]曲面容差3/-(0.2) [L/10 reg. @546.1nm]清洁度5/1x0.04 L1x0.004清洁度 5/1x0.04 L1x0.004内部测试区 Øe10 清洁度 5/1x0.016涂覆层规格 正面 (S2) (115246)涂覆层规格 背面 (S1) (126133)1st 工作范围 部分反射(0°,3000-3500nm)99.7%1st 工作范围 减反射(0°,3000-3500nm)0.25%类别 部分反射偏振 unpol.入射角 0°波长范围 3000 - 3500 nm高反射 99.7 %类别 减反射偏振 unpol.入射角 0°波长范围3000-3500nmAR / HT 0.25 %2nd工作范围 T(0°,3150nm)~0.015%类别 透射率偏振 unpol.入射角 0°波长范围 3150nmT ~ 0.015 %
Instrument.com.cn Copyright©1999- 2023 ,All Rights Reserved版权所有,未经书面授权,页面内容不得以任何形式进行复制