扫描电镜SEM
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日立

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customized-29

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其他

  • 银牌
  • 第2年
  • 一般经销商
  • 营业执照已审核
核心参数

FE-SEM获得的图像分辨率高,信息丰富,样品处理相对简单,并且它可以观察、测量并分析样品的细微结构,因此被广泛应用于纳米技术、半导体、电子器件、生命科学、材料等领域

电子枪种类:冷场发射

二次电子图象分辨率:0.6 nm@15kV0.7nm@1kV

放大倍数:20-2,000,000x

加速电压:0.5-30kV


售后服务承诺

产品货期: 60天

整机质保期: 1年

培训服务: 安装调试现场免费培训

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