SWIFT原位拉伸台

简介  

为了满足现代材料研究的挑战，Swift开发了一系列完全可定制的原位拉伸试样台。这些拉伸试样台适合多种显微观测系统，比如扫描电镜、透射电镜、光学显微镜、共聚焦显微镜等。支持EBSD，样品加热和冷却,可实现原位“拉伸—剪切”、“压缩—剪切”、“单轴拉伸/压缩”、“纯剪切”及疲劳力学测试等多重测试模式，实现原位复合载荷测试薄膜及细丝力学实验。

Swift原位拉伸试样台也可立使用测定材料力学参数；同时由于结构紧凑微小、充分考虑了真空兼容性和电磁兼容性，因此可实现与金相显微镜、扫描电镜、拉曼光谱仪、X射线衍射仪、原子力显微镜等显微成像设备的兼容，所采用的超低速准静态加载方式有利于在成像仪器下对载荷作用下材料细微的变形损伤变化状况进行连续的可视化原位监测，便于系统深入的研究揭示载荷作用、材料变形损伤机制与微观结构变化间的规律。

应用

Swift拉伸试验台是通用的，能够在各种材料上进行各种机械测试。在静态或动态条件下观察材料表面纳米级微观形态和结构变化。通过实时获取的载荷，形变和温度等数据，并结合扫描电子显微镜提供的材料微观结构分析数据，实现了定量分析材料微观力学性质，相变行为，取向变化，裂纹萌生和扩展，材料疲劳和断裂机制，材料弯曲机制，高温蠕变性，分层，形成滑移面以及脱落等现象。

- 半导体器件，薄膜

- 硬质涂层，电镀层

- 金属材料，陶瓷材料

- 玻璃，块体材料

- 复合材料，聚合物材料

- 电镀层，钎焊或焊接接头

- 矿物，木材

- 有机材料等等

测试方法

拉伸试样台型号

Swift开发了一系列基础拉伸试样台，可以实现完全定制和增强，以适应任何应用。

型号 A 倾斜台

该模型设计了一个带有旋转和倾斜工作台，测试样品可以在任意一个0°平角或70°EBSD角度。标准加载装置大加载力5KN,可升级10kN测压元件。样品台行程26mm。

型号 B 试验台

型号B试验台具有较低的外形系数以适合受限的SEM室，并且可以在0°或70 °EBSD下测试样品。负载范围可达5kN。样品台行程可达26mm。

型号 C 试验台

    C型微型拉伸台是专门为小型或台式SEM开发的，并配置为在0°或70 °EBSD下测试样品。负载范围高达2kN。样品台行程可达16mm。

控制器和软件

   Swift仪器的拉伸台采用计算机控制的工作流程设计，使操作简单高效。

控制器

Swift Instruments的控制器和软件为拉伸台和其他选项提供了一个计算机界面，并与运行Windows 10的台式电脑、笔记本电脑和平板电脑兼容。

软件

程序测试例程通过一个拖放界面，能够控制力和温度。记录试验荷载、位移和温度，自动计算应力和应变。测试数据可以导出进行外部分析。