产地类别： 进口
仪器种类： FIB-SEM
(电子光学系统）发射源： 冷场场发射型
（电子光学系统）分辨率： 4 nm @ 30 kV、60 nm @ 2 kV
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追求最完美的大样品仓FIB系统
在高端设备及高性能纳米材料的评价和分析领域，FIB-SEM已成为不可或缺的工具。
近来，目标观察物更趋微细化；更薄，更低损伤样品的制备需求更进一步凸显。
日立高新公司，整合了高性能FIB技术和高分辨SEM技术，再加上加工方向控制技术以及Triple Beam®＊1（选配）技术，推出了新一代产品NX2000。
保修期: 面议
是否可延长保修期: 否
现场技术咨询: 无
免费培训: 面议
免费仪器保养: 面议
保内维修承诺: 面议
报修承诺: 面议
日立聚焦离子束NX2000的工作原理介绍
聚焦离子束NX2000的使用方法?
日立NX2000多少钱一台?
聚焦离子束NX2000可以检测什么？
聚焦离子束NX2000使用的注意事项？
日立NX2000的说明书有吗？
日立聚焦离子束NX2000的操作规程有吗？
日立聚焦离子束NX2000报价含票含运吗？
日立NX2000有现货吗？
