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1.EIGER2 R CdTe: 高能量 HPC 技术的全面优势
EIGER2 R CdTe-X射线探测器将混合光子计数 (HPC) 技术的新一代研发成果和碲化镉感光器件的高量子效率集合在一起。因此，在使用高能量X射线源或需要双波长设置时，EIGER2 R CdTe-X射线探测器便会是您实验室的上佳选择。作为德科特思（DECTRIS） 公司的专利技术即时触发技术带来了前所未有的高计数率能力，以便更精确地测量实验室X射线源所能达到的高强度。EIGER2 R CdTe-X射线探测器配有两个能量鉴别阈值，与上一代相比，在环境背景下具有更低的暗计数。这极大地提高了弱信号和长时间曝光的信噪比，能够在更短的测量时间内提供更优质的数据质量。单光子计数与连续读/写数技术相结合，克服了所有积分探测器容易饱和以及动态范围有限的问题。除此之外，直接探测计数配合 75μm 的小像素尺寸使得探测器具有更高的空间和角度分辨率。
2.核心优势
– 由于零背景噪音，出色的计数率和同时读写，所以具有很高的动态范围
– 直接检测和小像素尺寸以获得光斑分离和最小背景重叠
– 双能识别有助于抑制低能量和高能量的背景
– 由于直接检测 X 射线，没有图像滞后和余辉
3.应用领域
– 大分子晶体学(MX)
– 化学晶体学
– 小角X射线散射和广角X射线散射(SAXS/
WAXS）
– μCT
4、技术规格：
型号 | EIGER2 R CdTe 500K | EIGER2 R CdTe 1M | EIGER2 R CdTe 4M | EIGER2 R CdTe 2M-W | EIGER2 XE CdTe 1M-W |
有效面积：宽x高 [mm2] | 77.1 X 38.4 | 77.1 x 79.7 | 155.1 x 162.2 | 311.1 x 38.4 | 155.1 x 38.4 |
像素大小 [μm2] | 75 x 75 | ||||
总像素数量 | 1028x512 | 1028 x 1062 | 2068 x 2162 | 4148 x 512 | 2068 x 512 |
帧频* [Hz] | 100 | 100 | 20 | 50 | 100 |
计数器深度 [ bit ] | 32 | 32 | 32 | 32 | 32 |
读出时间 | 连续读数 | ||||
点扩散函数 | 1 pixel | ||||
传感器材料 | CdTe | ||||
传感器厚度 [μm] | 750 | ||||
能量范围 [keV] | 8-25 (8-100, with optional extended energy range calibration) | ||||
计数率 [ph/s/pixel] | 5.5 x 106 | ||||
尺寸（WHD）[mm3] | 114 x 133 x 242 | 235 x 237 x 372 | 340 x 370 x 500 | 400 x 430 x 500 | 340 x 370 x 500 |
重量 [kg] | 3.7 | 4.7 | 15 | 9.7 | 5.8 |
冷却方式 | 水冷（模块）/风冷（电子学） | 水冷（模块）/风冷（电子学） | 水冷（模块）/风冷（电子学） | 水冷（模块）/风冷（电子学） | 水冷（模块）/风冷（电子学） |
**所有规格如有更改，恕不另行通知。
| 用户单位 | 采购时间 |
|---|---|
| 郑州信息工程大学 | 2020-08-05 |
保修期: 1年
是否可延长保修期: 是
现场技术咨询: 无
免费培训: 有
免费仪器保养: 视情况而定
保内维修承诺: 免费维修更换零件
报修承诺: 24小时之内响应
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