OLED多片式IVL测试系统
OLED多片式IVL测试系统

¥20万 - 30万

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TEO

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多片式IVL

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中国大陆

  • 金牌
  • 第15年
  • 一般经销商
  • 营业执照已审核
核心参数

系统说明:OLED多片式IVL测试系统应用于大批量测试IVL 性能曲线以及在视角变化过程中亮度的变化。主要面向OLED 材料制作和OLED 屏体的生产厂商。
一、系统原理
6、多片式-OLED-IVL-测量系统.jpg

二、系统特点
· 灵活多片式
· 大视角测量
· CCD 自动对位系统
· 系统高度集成
· 温度控制单元(选配)

三、设备系统实物展示
6、多片式-OLED-IVL-测量系-2.jpg

四、测试项目
多片式-OLED-IVL-测量系统-3.jpg

售后服务承诺

保修期: 1年

是否可延长保修期:

现场技术咨询:

免费培训: 免费培训

免费仪器保养: 最短 72 小时内更换零配件,修复故障货物,或联系工厂提出解决方案

保内维修承诺: 1年内提供保修服务(人为造成的损坏除外)

报修承诺: 7*24h维修服务响应

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