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JIMS800轴对准测试系统
JIMS测试系统作为JT测试系统的特殊版本,适用于测试光学口径超过1000mm的光电系统。是一套对于水平方向布局的光电系统测试理想的解决方案。由于CEB模块产生的内部对准误差较小, JIMS测试系统的测试精度(0.2mrad)会比JT测试系统(低于0.1mrad)略差。JIMS可以看作JT400系统带有CEB平行光管折镜的附加模块,可以在某方向(通常是水平方向)将平行光管孔径增加到1000毫米。对于成像/激光传感器位于大型水平平台上的超大型地球观测监视系统,JIMS是一个理想且经济的轴对准测试解决方案。
表1 基于**大距离的JIMS系统型号
产品型号 | 被测光电系统两传感器**距离 |
JIMS600 | 600mm |
JIMS700 | 700mm |
JIMS800 | 800mm |
JIMS900 | 900mm |
JIMS1000 | 1000mm |
表2 JIMS测试系统版本
编码 | 计算机化控制/轴对准/测试功能 | 模块 |
X1 | 非计算机化测试系统 | CJT400平行光管,VIR-A光源,CVIR-A控制器,USAF1951靶标,IR-USAF1951靶标,多图形靶标,CEB扩展器 |
X2 | 非计算机化测试系统 | CJT400平行光管,VIR-A光源,CVIR-A控制器,USAF1951靶标,IR-USAF1951靶标,多图形靶标,一组MON卡,一组TEG卡,一组TEP卡,一组OA衰减器,AH1适配器,CEB扩展器 |
X3 | X2+多脉冲激光测距机与激光指示器可以被校准,增加了ABS卡,LIC卡以及两个ILU卡。 | CJT400平行光管,VIR-A光源,CVIR-A控制器,USAF1951靶标,IR-USAF1951靶标,多图形靶标,一组MON卡,一组TEG卡,一组TEP卡,一组OA衰减器,AH1适配器,ABS卡,LIC卡以及两套ILU卡,CEB扩展器 |
Y1 | 计算机化测试系统 | CJT400平行光管,VIR-A光源,CVIR-A控制器,USAF1951靶标,IR-USAF1951靶标,多图形靶标,一组MON卡,一组TEG卡,一组TEP卡,一组OA衰减器,AH1适配器,图像采集卡,计算机,BOR软件,CEB扩展器 |
Y2 | Y1+多脉冲激光测距机与激光指示器轴对准 | CJT400平行光管,VIR-A光源,CVIR-A控制器,USAF1951靶标,IR-USAF1951靶标,多图形靶标,一组MON卡,一组TEG卡,一组TEP卡,一组OA衰减器,AH1适配器,图像采集卡,计算机,BOR软件,ABS卡,LIC卡以及两套ILU卡,CEB扩展器 |
Y3 | Y2+ JT系统的光轴可以垂直于被测系统所在的平台参考机械平面 | Y2+更新了自动准直CJT平行光管、及BRL相机 |
Y4 | Y2+**测量被测激光测距机的发散角 | CJT平行光管,VIR-A光源,CVIR-A控制器,USAF1951靶标,IR-USAF1951靶标,多图形靶标,一组MON卡,一组TEG卡,一组TEP卡,一组OA衰减器,AH1适配器,图像采集卡,计算机,BOR软件,ABS卡,LIC卡以及两套ILU卡,BRL相机,SR10相机,CEB扩展器 |
保修期: 1年
是否可延长保修期: 否
现场技术咨询: 有
免费培训: 按照合同履行
免费仪器保养: 无
保内维修承诺: 免费维修
报修承诺: 8小时内响应
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