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法国Phasics 公司利用革新的技术研发的SID4 波前探测器，具有如下独特
技术优势：
●高分辨率的相位图，最高分辨率可达400ｘ300。
●具有直接测量高发散光束的能力
●消色差，匹配CCD整个探测范围，用于不同波长光而无需额外校准。
应用方向：
●激光束质量分析
●自适应光学
●光学元件表面测量
●生物成像
●热成像，等离子体表面物理
法国Phasics波前传感器主要型号相关参数如下：
型号 | SID4 | SID4-HR | SID4-DWIR | SID4-SWIR | SID4-NIR | SID4-UV | SID4 UV-HR |
孔径 | 3.6 × 4.8 mm2 | 8.9 × 11.8 mm2 | 13.44 × 10.08 mm2 | 9.6 × 7.68 mm2 | 3.6 × 4.8 mm2 | 7.4 × 7.4 mm2 | 8.0 × 8.0 mm2 |
空间分辨率 | 29.6 μm | 29.6 μm | 68 μm | 120 μm | 29.6 μm | 29.6 μm | 32 μm |
采样点/测量点 | 160 × 120 | 400 × 300 | 160 × 120 | 80 × 64 | 160 × 120 | 250 × 250 | 250 × 250 |
波长 | 400 nm ~ 1100 nm | 400 nm ~ 1100 nm | 3 ~ 5 μm , 8 ~ 14 μm | 0.9 ~ 1.7 μm | 1.5 ~ 1.6 μm | 250 ~ 450 nm | 190 ~ 400 nm |
动态范围 | > 100 μm | > 500 μm | N/A | ~ 100 μm | > 100 μm | > 200 μm | > 200 μm |
精度 | 10 nm RMS | 15 nm RMS | 75 nm RMS | 10 nm RMS | > 15 nm RMS | 20 nm RMS | 10 nm |
灵敏度 | < 2 nm RMS | < 2 nm RMS | < 25 nm RMS | 3 nm RMS ( 高增益）< 1 nm RMS ( 低增益） | < 11 nm RMS | 2 nm RMS @ 250 nm, 2 μJ/cm2 | 0.5 nm |
采样频率 | > 60 fps | > 10 fps | > 50 fps | 25/30/50/60 fps | 60 fps | 30 fps | 30 fps |
处理频率 | 10 Hz ( 高分辨率) | 3 Hz ( 高分辨率) | 20 Hz | > 10 Hz ( 高分辨率） | 10 Hz | > 2 Hz ( 高分辨率） | 1 Hz |
尺寸 | 54 × 46 × 75.3 mm | 54 × 46 × 79 mm | 85 × 116 × 179 mm | 50 × 50 × 90 mm | 44 × 33 × 57.5 mm | 53 × 63 × 83 mm | 95 × 105 × 84 mm |
重量 | 250 g | 250 g | 1.6 kg | 300 g | 250 g | 450 g | 900 g |
其他 2015-07-01
其他 2015-07-01
| 用户单位 | 采购时间 |
|---|---|
| 武汉华工激光 | 2014-05-12 |
| 南京理工大学 | 2014-11-20 |
| 中科院上海光学精密机械研究所 | 2014-12-10 |
Phasics波前探测器SID4
型号：SID4 50万 - 100万
波前传感器 波前测试仪
型号：SID4-HR 45万
PHASICS SID4-HR 波前探测器
型号：波前传感器 面议
PHASICS SID4-NIR 波前探测器
型号：SID4-NIR 0 - 5万剪切干涉波前测量是将待测波前和其自身的一个微小平移进行干涉的测量技术。由于剪切干涉测量具 有不需要参考波前、采用共光路系统、可抵抗外界扰动影响、对照明光源的相干性和干涉装置平台稳定性 要求低等特点，既能保证较高的波前检测精度，又能获得较高的空间分辨率，该方法在许多实际波前检测 中显示出其特有的优势。
法国Phasics 公司利用革新的技术研发的SID4 波前探测器，具有如下独特 技术优势： ●高分辨率的相位图，最高分辨率可达400ｘ300。 ●具有直接测量高发散光束的能力 ●消色差，匹配CCD整个探测范围，用于不同波长光而无需额外校准。 应用方向： ●激光束质量分析 ●自适应光学 ●光学元件表面测量 ●生物成像 ●热成像，等离子体表面物理
Phasics光学测量仪波前探测器的工作原理介绍
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Phasics波前探测器多少钱一台?
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光学测量仪波前探测器使用的注意事项？
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