C12562 纳米膜厚测量仪系列
C12562 纳米膜厚测量仪系列

面议

暂无评分

滨松

暂无样本

C12562

--

亚洲

  • 白金
  • 第14年
  • 一般经销商
  • 营业执照已审核
核心参数

C12562 纳米膜厚测量仪系列


C12562型光学膜厚测量仪是一款利用光谱相干度量学工作的非接触型膜厚测量系统。光学膜厚测量仪系列可以测量薄至10nm的薄膜,而可测范围达到10nm到1100μm,因此可用来测量多种目标。此外,该测量仪可达到100Hz的高速测量,因此可进行快速移动的产品线进行测量。欢迎您登陆滨松中国全新中文网站  查看该产品更多详细信息!


特性

  • 可测量10nm薄膜

  • 缩短测量周期(频率高达100Hz)

  • 增强型外部触发(适合高速测量)

  • 涵盖宽波长范围(400 nm到1100 nm)

  • 软件增加了简化测量功能

  • 可进行双面分析

  • 不整平薄膜精确测量

  • 分析光学常数(n,k)

  • 可外部控制

参数

型号C12562-02
可测膜厚范围(玻璃)10 nm to 100 μm*1
测量可重复性(玻璃)0.02 nm*2 *3
测量准确度(玻璃)±0.4 %*3 *4
光源卤素灯
测量波长400 nm to 1100 nm
光斑尺寸Approx. φ1 mm*3
工作距离10 mm*3
可测层数最多10层
分析FFT 分析,拟合分析,光学常数分析
测量时间3 ms/点*5
光纤接口形状FC
外部控制功能RS-232C, Ethernet
电源AC100 V to 240 V, 50 Hz/60 Hz
功耗80W

*1:以 SiO2折射率1.5来转换

*2:测量400 nm 厚SiO2 薄膜的标准偏差

*3:取决于所使用的光学系统或物镜的放大率

*4:可保证的测量范围列在VLSI标准测量保证书中

*5:连续数据采集时间不包括分析时间



用户评论
暂无评论
问商家

滨松其它计量仪器C12562的工作原理介绍

其它计量仪器C12562的使用方法?

滨松C12562多少钱一台?

其它计量仪器C12562可以检测什么?

其它计量仪器C12562使用的注意事项?

滨松C12562的说明书有吗?

滨松其它计量仪器C12562的操作规程有吗?

滨松其它计量仪器C12562报价含票含运吗?

滨松C12562有现货吗?

C12562 纳米膜厚测量仪系列信息由滨松光子学商贸(中国)有限公司为您提供,如您想了解更多关于C12562 纳米膜厚测量仪系列报价、型号、参数等信息,欢迎来电或留言咨询。
移动端

仪器信息网App

返回顶部
仪器对比

最多添加5台