HORIBA JY荧光寿命成像显微系统-FLIM
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¥100万 - 200万

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堀场

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DeltaMyc

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美洲

  • 银牌
  • 第12年
  • 一般经销商
  • 营业执照已审核
该产品已下架
核心参数

仪器简介:
 

HORIBA ScientificJobin Yvon光谱技术)----荧光光谱仪器的全球领导者,提供全套稳态、瞬态和稳-瞬态以及各种偶联技术的解决方案。
 

在细胞科学、生物物理和材料科学领域,重要变化经常会发生在时间和空间的微小尺度里。时间分辨荧光显微镜是研究细胞结构和纳米材料领域中动态事件的终极工具。
 

与传统的荧光强度成像(由荧光显微镜获得)不同,荧光寿命是荧光基团的一个内在特性,因此它的测量不受非均匀负载,光漂白,激发光不稳定和光散射的影响。更重要地是时间分辨测试通过辨别显微点在样品中的位置获得更多关于分子运动、尺寸、所处环境、相互作用和键合的信息。借助于共聚焦显微镜的力量,可以得到清晰的样品成像、测定细胞内的局部作用和细胞结构的动力学。
 

HORIBA科学仪器部是荧光光谱仪的领导者,推出的DynaMyc是基于滤光片式,全自动共焦显微镜系统,可在微观尺寸下测试荧光寿命和强度。
 

DynaMyc采用高灵敏度的时间相关单光子计数(TCSPC)技术,荧光寿命范围100ps~100μs。整机包括:模块光学部件和Olympus BX51显微镜。它的成像部分包含X,Y,Z自动快速扫描平台,以及共聚焦设计,可在微米级的空间分辨率条件下实现荧光寿命成像。
 

DynaMyc是一款灵活的研究工具,针对您的不同应用需求,可选多种波长的皮秒脉冲激光二极管光源,涵盖较宽的光谱范围(270~980nm),宽重复频率可调(CW~100MHz),多种滤光片以及不同检测器可选。可配置高动态范围、低噪声、制冷型照相机和高强度荧光照明,获得宽场荧光成像。
 

DynaMycDataStation软件交互控制的一款全自动系统。基于去卷积分析后,可以生成各种参数的成像图,例如,寿命,相对振幅,平均寿命和荧光强度。DynaMyc是研究蛋白动态结合或解离及FRET的理想工具。

可选附件:

l    物镜(60/100X可选)

l    皮秒脉冲激光二极管光源(多种波长可选)

l    制冷型荧光相机

 

技术参数:
 

l    样平台:分辨率0.5μm,行程范围75 x 50 mm

l    时间相关单光子计数(TCSPC)技术,寿命范围100ps~10μs

l    光谱检测范围:185-650 nm/300-850 nmTBX快速检测器)

l    可配置DeltaDiode 100MHz高频率激光器,连续输出CW可选

l    单点、多点和荧光寿命成像三种数据采集模式

l    专业DAS6寿命分析软件能够快速数据分析

l    可实现宽场荧光成像(制冷型荧光相机可选)
 

主要特点:
 

l    时间相关单光子计数(TCSPC)技术,寿命范围100ps~10μs

l    全自动紧凑光学寿命模块,可自动切换滤光片,二向色滤光片和针孔

l    光纤耦合不同激光二极管(370~980nm

l    共焦头单元可自动切换针孔(100~1000μm

l    最新激光二极管(DeltaDiode),高重复频率可调(~100MHz),CW或脉冲模式可调

l    直观的数据采集和分析软件

l    宽场荧光成像(制冷型荧光照相机可选)

 


相关方案

  • 介绍采用矢量图方法,解析采用频域荧光寿命测试技术,涉及寿命数值的拟合及意义。 对比TCSPC,我们获得的是直接的衰减曲线,通过对衰减曲线的直观观察,在对数纵坐标情况下,直线或弧线,倾斜的差异,我们可以读出寿命的个数或者是寿命平均值的差异。但是对于频域技术测试荧光寿命,我们获得是相差以及模的变化,无法直接给出寿命的判断,但是我们利用创造性的矢量图,可以快速直接得到寿命的细节信息,包括指数个数、寿命的数值大小。为进一步利用频域技术的快速测试打下基础,也是测试技术突破性进步。

    生物产业 2016-08-03

  • 介绍采用矢量图方法,解析采用频域荧光寿命测试技术,涉及寿命数值的拟合及意义。 对比TCSPC,我们获得的是直接的衰减曲线,通过对衰减曲线的直观观察,在对数纵坐标情况下,直线或弧线,倾斜的差异,我们可以读出寿命的个数或者是寿命平均值的差异。但是对于频域技术测试荧光寿命,我们获得是相差以及模的变化,无法直接给出寿命的判断,但是我们利用创造性的矢量图,可以快速直接得到寿命的细节信息,包括指数个数、寿命的数值大小。为进一步利用频域技术的快速测试打下基础,也是测试技术突破性进步。

    生物产业 2016-08-03

典型用户
用户单位 采购时间
中科院广东地球化学所 2012-03-14
中国检验检疫科学研究院 2012-03-14
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