XEMIS是一款高精度的吸附微量天平，用于极端环境下的精密测量。它可作为微量天平单独使用，也可作为完整的吸附分析仪器。XEMIS有着出色的灵活性以及卓越的称量精度和稳定性。
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XEMIS微量天平采用了Hiden Isochema特有的外部感知技术，可在高温、高压条件下进行重量吸附分析，也可与其他商业化的吸附微量天平仪器联用。
产品特点
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外部感知技术，把敏感元件置于天平室外部，允许腐蚀性和易燃气体的操作
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几何对称、精密设计的微量天平
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内部容积最小化
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大容量微量天平（5克），分辨率0.2μg和长期稳定性±5μg
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宽动态称量范围（0-200毫克）
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操作压力高达200bar
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单独的反应器可进行从77 K到773 K的全温度范围测量
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无需重新归零或原位校准
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采用IGA特有的终点预测方法
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全金属结构由高品质的VCR装配
模块化设计，与所有配件兼容且可升级
产品应用
XEMIS的应用领域:
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气体吸附分析
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等温线的测定
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动力学分析
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热力学研究
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储氢
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甲烷存储
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二氧化碳封存
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气体的分离与纯化
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超临界气体吸附
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页岩气和煤层沼气研究
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离子液体中的气体溶解度测量
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化学吸附研究
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化学反应的研究 (例如 氧化/氮化)
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金属有机骨架(MOFs)/多孔配位框架
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活性炭、碳分子筛和模板碳
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沸石和沸石类物质
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多孔聚合物
该XEMIS可广泛应用于不同的吸附气体。如有具体要求请与我们联系。
