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奥林巴斯
暂无样本
USPM-RU-W
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亚洲
产地类别： 进口
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奥林巴斯的近红外显微分光测定仪USPM-RU-W可以高速&高精细地进行可视光区域至近红外区域的
大范围波长的分光测定。由于其可以很容易地测定通常的分光光度计所不能测定的细微区域、曲面的
反射率，因此最适用于光学元件与微小的电子部件等产品。
测定以物镜聚光的Φ17~70μm的微小点的反射率。
反射率测定光路图
反射率测定例：镜片 反射率测定例：镜片周边部位
活用反射率数据，测定约50nm~约10μm的单层膜、多层膜的膜厚。
膜厚测定的图例
根据反射率数据显示XY色度图、L*a*b*色度图及相关数值。
物体色的测定图例
数码相机镜片 /投影仪镜片 / 眼镜片
LED包装 /半导体基板
液晶彩色滤镜 /光学薄膜
棱镜 /反射镜
备注：标配价格区间为50万-80万，根据选择的配置价格可能会高出标配价格。
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奥林巴斯光学测量仪USPM-RU-W的工作原理介绍
光学测量仪USPM-RU-W的使用方法?
奥林巴斯USPM-RU-W多少钱一台?
光学测量仪USPM-RU-W可以检测什么？
光学测量仪USPM-RU-W使用的注意事项？
奥林巴斯USPM-RU-W的说明书有吗？
奥林巴斯光学测量仪USPM-RU-W的操作规程有吗？
奥林巴斯光学测量仪USPM-RU-W报价含票含运吗？
奥林巴斯USPM-RU-W有现货吗？
