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奥林巴斯 近红外显微分光测定仪 USPM-RU-W

产品详情

奥林巴斯 近红外显微分光测定仪 USPM-RU-W

奥林巴斯 近红外显微分光测定仪 USPM-RU-W
参考报价:
 面议
型号:
 USPM-RU-W
品牌:
 奥林巴斯
产地:
 日本
样本:  【暂无】 信息完整度:  
典型用户:  0
产地类别:
 进口仪器
价格区间:
 20万-30万
分享:
400-860-5168转2223
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名 称: 奥林巴斯(北京)销售服务有限公司
认 证: 工商信息已核实
信用积分:2100
公司介绍
奥林巴斯集团(OLYMPUS)创立于1919年。迄今为止,奥林巴斯株式会社已成为日本乃至世界精密、光学技术的代表企业之一,事业领域包括医疗、生命科学、影像和产业机械。奥林巴斯作为社会的一员,正默默地为社会做出力所能及的贡献。1921年奥林巴斯自主研发了日本第一台光学显微镜“旭”。百年来,奥林巴斯显微镜产品凭借“光学-数字技术”的核心竞争力,始终走在这个行业的最前沿,向工业领域以及生命科学领域提供了精密、专业的显微镜产品,深受广大用户
奥林巴斯手机版
产品简介

从380nm~1050nm的可视光至近红外实现大范围波长区域中的分光测定

奥林巴斯的近红外显微分光测定仪USPM-RU-W可以高速&高精细地进行可视光区域至近红外区域的

大范围波长的分光测定。由于其可以很容易地测定通常的分光光度计所不能测定的细微区域、曲面的

反射率,因此最适用于光学元件与微小的电子部件等产品。

  

测定反射率

测定以物镜聚光的Φ17~70μm的微小点的反射率。

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反射率测定光路图


           image008                    image009

             反射率测定例:镜片                                                        反射率测定例:镜片周边部位


测定膜厚

活用反射率数据,测定约50nm~约10μm的单层膜、多层膜的膜厚。

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膜厚测定的图例

  

测定物体颜色

根据反射率数据显示XY色度图、L*a*b*色度图及相关数值。

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物体色的测定图例

多样化应用

通过测定球面、非球面的镜片、滤镜、反射镜等光学元件的反射率,进行涂层评价、物体颜色测定、膜厚测定。

数码相机镜片  /投影仪镜片 / 眼镜片

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适用于LED反射镜、半导体基板等微小电子部件的反射率测定、膜厚测定。

LED包装    /半导体基板

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适用于平面光学元件、彩色滤镜、光学薄膜等的反射率测定、膜厚测定、透过率测定。

液晶彩色滤镜       /光学薄膜

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适用于棱镜、反射镜等45度入射产生的反射率测定。

棱镜    /反射镜     

                    
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400-860-5168
分机号:2223
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展位地址:https://www.instrument.com.cn/netshow/SH102223/