仪器简介：
JEM-2100F 应用广泛，从材料科学、生命科学、医疗、制药、半导体到纳米技术。
利用200kV场发射透射电镜JEM-2100F，不仅可实现超高分辨率图像的观察，同时，还可以得到纳米尺度的结构、成分等信息。
高亮度的场发射电子枪，轻松实现各种分析功能。
JEM-2100F最新设计的侧插式侧角台，在倾斜、旋转、加热、制冷时都不会造成机械飘移。
SJEM-2100F可与TEM, MDS, EDS, EELS, and CCD-camera实现一体化控制。
技术参数：
1.点分辨率：0.19nm
2.线分辨率：0.14nm
3.加速电压：80, 100, 120, 160, 200kV
4.倾斜角：25
5.STEM分辨率：0.20nm
主要特点：
1.高亮度场发射电子枪。
2.束斑尺寸小于0.5nm。
3.新式侧插测角台，更容易倾转、旋转、加热和冷冻，无机械飘移。
4.稳定性好、操作简便。
5.微处理器和PC两套系统控制，防止死机。
