ESCAD硅片检测仪
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ESCAD硅片检测仪

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欧洲

  • 金牌
  • 第19年
  • 一般经销商
  • 营业执照已审核
该产品已下架
核心参数
eWl ology是为太阳能电池片制作过程中不受材料、色差、硅片角度而设计的硅片表面测量系统。
该系统可以测量硅片的厚度,弯曲值,TTV ,MTV,LTV,锯痕等
的结果都可以自动传输到数据库或保存在本地计算机,可以将来用作分析。
系统可根据客户定义的要求来划分检测硅片的等级。
ology采用了现代高性能的部件得以*的结果和提高产品的质量。系统设计同时满足了生产线及研发实验室的环境要求。 
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