直播 | TESCAN SOLARIS X 提升你在半导体领域的分析能力

直播 | TESCAN SOLARIS X 提升你在半导体领域的分析能力

摘要：2024年3月5日16:00直播，从半导体分析的最新进展，到提高吞吐量和质量的工具演示，您将收获克服半导体样品分析挑战的宝贵经验。

随着半导体行业朝着集成度、密度和小型化的更大目标发展，保持领先势在必行。

标记日历2024年3月5日，我们诚邀您参加一场“将改变您处理半导体样品分析的方式”的网络研讨会。本次会议将深入探讨影响半导体样品分析的最新趋势和技术，并展示TESCAN SOLARIS X的尖端功能。

主题：无论是半导体深度截面切割，制作无镓离子污染的TEM样品，以及实现逐层剥离，高吞吐量与质量保证TESCAN SOLARIS X 皆可兼顾

时间：2024年3月5日（周二）下午4:00

演讲人：Lukas Hladik | TESCAN集团 产品市场经理

内容预告

行业发展洞察

全面了解半导体行业对小型化和高密度集成化的追求。了解这些趋势如何重塑设备的功能、速度和功耗。

技术深度探究

了解所有关于TESCAN SOLARIS X的信息，该系统具有快速、大面积切割和样品制备的能力，而不会受到Ga+离子暴露的不利影响。

实际演示

体验现场演示，展示TESCAN SOLARIS X 熟练处理各种复杂样品，从OLED显示组件到14nm FinFET CPU材料等等。

您将收获

从半导体分析的最新进展，到提高吞吐量和质量的正确工具演示，您将收获克服半导体样品分析挑战的宝贵经验。

想要深入了解半导体技术的各个方面，我们诚邀您访问我们的新网站

相约专家

Lukas Hladik, 是TESCAN集团经验丰富的产品市场经理，自2012年以来一直在公司发挥重要作用。他专注于等离子FIB-SEM和失效分析解决方案，他的专业知识深深植根于半导体研发，并与全球半导体行业密切相关。

现在预订您的位置，加入半导体前沿技术的专家社区。具体参加会议可移步至公众号：TESCAN公司