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直播预告!半导体材料分析技术进展:分析仪器如何助力材料检测

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分享: 2023/10/08 15:18:28
导读: 2023年10月18-20日,仪器信息网(www.instrument.com.cn) 与电子工业出版社将联合主办第四届“半导体材料与器件分析检测技术与应用”主题网络研讨会。

2023年10月18-20日,仪器信息网(www.instrument.com.cn) 与电子工业出版社将联合主办第四届“半导体材料与器件分析检测技术与应用”主题网络研讨会。

iCSMD 2023会议围绕光电材料与器件、第三代半导体材料与器件、传感器与MEMS、半导体产业配套原材料等热点材料、器件的材料分析、失效分析、可靠性测试、缺陷检测和量测等热点分析检测技术,为国内广大半导体材料与器件研究、应用及检测的相关工作者提供一个突破时间地域限制的免费学习平台,让大家足不出户便能聆听到相关专家的精彩报告。

本次大会分设:半导体材料分析技术新进展、可靠性测试技术新进展、半导体失效分析技术、缺陷检测和量测技术4个主题专场,诚邀业界人士报名参会。

主办单位:

仪器信息网,电子工业出版社

参会方式:

本次会议免费参会,参会报名请点击会议官网:

https://www.instrument.com.cn/webinar/meetings/icsmd2023/

或扫描二维码报名

“半导体材料分析技术新进展”专场预告

(注:最终日程以会议官网为准)

时间

报告题目

演讲嘉宾

专场1:半导体材料分析技术新进展

(10月18日)

专场主持暨召集人:汪正 中国科学院上海硅酸盐研究所 研究员

9:30

等离子体质谱在半导体用高纯材料的分析研究

汪正(中国科学院上海硅酸盐研究所 研究员)

10:00

有机半导体材料的质谱分析技术

王昊阳(中国科学院上海有机化学研究所 高级工程师)

10:30

牛津仪器显微分析技术在半导体中的应用进展

马岚(牛津仪器科技(上海)有限公司 应用工程师)

11:00

氮化物半导体的原子尺度晶格极性研究(拟)

王涛(北京大学 高级工程师)

11:30

集成电路材料国产化面临的性能检测需求

王轶滢(上海集成电路材料研究院 性能实验室总监)

午休

14:00

离子色谱在高纯材料分析中的应用

李青(中国科学院上海硅酸盐研究所 助理研究员)

14:30

拉曼光谱在半导体晶圆质量检测中的应用

刘争晖(中国科学院苏州纳米技术与纳米仿生研究所 教授级高级工程师)

15:00

半导体—离子色谱检测解决方案

王一臣(青岛盛瀚色谱技术有限公司 产品经理)

15:30

共宽禁带半导体色心的能量束直写制备及光谱表征

徐宗伟(天津大学精密测试技术及仪器国家重点实验室 教授)

嘉宾简介及报告摘要(按分享顺序)

汪正 中国科学院上海硅酸盐研究所 研究员

【个人简介】

汪正,博士,中国科学院上海硅酸盐研究所研究员、博士生导师、材料谱学组分表征与应用课题组组长。研究方向为原子光谱/质谱/色谱基础和应用研究、光谱质谱新型仪器的研发和先进材料制备表征及在分析化学和环境化学的应用研究。曾先后负责科技部国家仪器研制重大专项、国家自然科学青年和面上基金、中科院仪器研制项目、中科院仪器设备功能开发技术创新项目和上海科委基金等。是国际期刊《Atomic Spectroscopy》、《Chinese Chemical Letters》和《光谱学与光谱分析》期刊编委。以第一和通讯作者在国内外同行认可的高水平期刊Anal. Chem., J. Anal. At. Spectrom.,Spectrochim. Acta Part B,Anal. Chim. Acta 等发表论文100 余篇,出版学术专著2 部,建立国家标准3 项,获授权专利17项。2010 和2018 年两次获得中国分析测试协会科学技术奖励(排名均为第一)。

报告题目:等离子体质谱在半导体用高纯材料的分析研究

【摘要】材料是制造业的基础,高纯材料是半导体制造业的最重要环节之一,高纯材料的纯度分析与表征是纯化工艺中的一个重要环节,对材料性质研究和工艺改进至关重要。本报告主要介绍电感耦合等离子体质谱法在高纯有机/无机半导体用材料方向的工作。

王昊阳 中国科学院上海有机化学研究所 高级工程师

【个人简介】

2000年本科毕业于中国药科大学药学院药物分析专业;2003年获得中国药科大学与上海有机化学研究所联合培养硕士学位;2006年获得中国科学院上海有机化学研究所的博士学位;后前往德国奥尔登堡大学化学系博士后;2008年开始任中国科学院上海有机化学研究所,副研究员;2017年–至今担任中国科学院上海有机化学研究所公共技术服务中心质谱组课题组长。

报告题目:有机半导体材料的质谱分析技术

【摘要】根据有机半导体材料领域具体的测试需求和测试对象的不同,建立体系化的质谱分析方法与手段,结合顶空气相色谱对挥发性有机物进行分析,结合ESI以及(AP-)MALDI对小分子有机半导体材料进行表征与分析,再结合热裂解分析对有机半导体材料中的聚合物及其相关添加剂进行分析。

马岚 牛津仪器科技(上海)有限公司 应用工程师

【个人简介】

2012年获得上海交通大学材料科学与工程学院博士学位,博士研究镁合金的时效强化机制及变形机制,主要利用TEM、SEM、 EBSD等手段进行表征。2012-2015年间在日本物质材料研究所进行博后工作,期间研究的课题为高强韧镁合金的开发及磁性材料微结构表征,利用HAADF-STEM、SEM、EBSD及3DAP进行材料表征,熟悉掌握FIB及纳米操作手。2015年回国加入牛津仪器公司,主要负责EDS、WDS、EBSD、OP的推广及技术支持。

报告题目:牛津仪器显微分析技术在半导体中的应用进展

摘要】能谱(EDS)是半导体失效分析中常用的检测手段,但它只能揭示元素的异常,如果要对晶圆进行其他物性(如粗糙度、掺杂浓度、电势电位和内应力等)的分析,则需借助电子背散射衍射(EBSD)、原子力显微镜(AFM)和拉曼光谱(Raman)进行多尺度、多方位的检测和分析。 本报告将从结合三代半导体的痛点,展开介绍牛津仪器材料分析手段的进展及其在三代半导体中的应用,内容包括使用EBSD检测外延片位错,利用Raman分析碳化硅晶芯片晶型和微管类型及其带来的应力变化,以及采用AFM的SCM模式检测电容,并定量载流子浓度的最新应用。

王轶滢 上海集成电路材料研究院 性能实验室总监

【个人简介】

从事半导体与集成电路领域技术研发、战略研究与规划工作多年。现承担负责上海市及国家集成电路材料重大项目测试平台课题,推进集成电路材料测试的科学评价体系建设,加速促进国产化替代。

报告题目:集成电路材料国产化面临的性能检测需求

李青 中国科学院上海硅酸盐研究所 助理研究员

【个人简介】

博士,中国科学院上海硅酸盐研究所助理研究员。主要从事高纯材料分析方法开发、光谱质谱仪器研制等工作。先后主持承担了包括国家自然科学基金、上海科委项目、中国科学院仪器功能开发项目等各类研发项目5项。目前在Anal. Chem., Anal. Chim. Acta等国际期刊发表论文10余篇,获授权国内专利14项,美国专利1项。

报告题目:离子色谱在高纯材料分析中的应用

【摘要】 阴阳离子分析涉及生物医学、集成电路、环境、食品安全等重要研究课题。利用离子色谱技术测定离子态物质的检测方法,分析速度快、灵敏度高、选择性好,已被广泛应用。本报告将主要介绍高纯电子试剂、高纯晶体、OLED材料中痕量卤素离子的分析方法。

刘争晖 中国科学院苏州纳米技术与纳米仿生研究所 教授级高级工程师

【个人简介】

正高级工程师、博士生导师、中科院青年创新促进会会员、中科院关键技术人才。中科院苏州纳米所真空互联实验站工作,研发基于扫描探针的微纳米尺度光、电、力学综合测试分析设备和相关技术;开展基于新装备和新方法的应用基础研究。 主要成果: (1) 主持和参与中科院、基金委和科技部的多项仪器和表征技术研发项目,自主研制基于扫描开尔文探针的深紫外扫描近场光电探针系统,实现深紫外时间分辨光谱与表面光电压谱的同位微区测量,从时间和空间两个维度,以皮秒的时间分辨率和纳米级的空间分辨率对半导体光电材料的表面性质进行表征,从而为微观机制的探索提供有力的武器。 (2) 发展了基于光辅助扫描开尔文探针显微镜的新型扫描扩散显微术方法,定量测量光吸收系数、扩散长度、载流子寿命以及扩散系数的空间分布和变化,揭示了缺陷、相分离等微观结构对纳米光电性质的影响。 (3) 对氮化镓与石墨烯二维材料的界面输运性质进行了系统的研究,从实验和理论上系统阐明了石墨烯浮动费米面的特性对异质结电学输运性质的影响,发展了半导体表面测量二维材料微区迁移率的方法。 (4) 制定了国家标准GB/T 32189-2015 《氮化镓单晶衬底表面粗糙度的原子力显微镜检验法》,并取得相关实验室认证资格,为产业提供了大量支撑服务。

报告题目:拉曼光谱在半导体晶圆质量检测中的应用

【摘要】 半导体晶圆质量检测目前普遍采用工业视觉检测方法对全晶圆质量和缺陷进行评估,但诸如组分、应力、载流子浓度等关键物理性质的分布不均匀,难以通过视觉检测方法获得,这时光谱学的手段是重要的补充方法。光穿过介质时被原子和分子散射的光发生频率变化,该现象称为拉曼散射。拉曼光谱的强度、频移、线宽、特征峰数目以及退偏度与分子的振动能态、转动能态、对称性等紧密相关,广泛地应用于半导体材料的质量监控、失效分析,可用于检测组分、应力、载流子浓度、温度、晶向和缺陷等信息。通常的共聚焦拉曼测试由于信号较弱、对聚焦稳定性要求较高,常常只局限于单点或少量采样点。而对大到8寸乃至12寸全晶圆范围的覆盖性检测,可能会极大地帮助改进工艺制程和产品质量。我们通过一些的典型的案例,例如结晶硅薄膜晶化率测试,第三代半导体晶圆的应力和载流子浓度检测,以及多层复杂器件结构的综合性质检测,展示了拉曼光谱在半导体晶圆质量检测中的应用前景。

王一臣 青岛盛瀚色谱技术有限公司 产品经理

【个人简介】

硕士研究生,现任青岛盛瀚色谱技术有限公司产品经理。目前主要负责青岛盛瀚公司离子色谱实验室类、在线类仪器以及联机类仪器的应用方法的开发和技术支持工作,拥有仪器分析行业多年的工作经验。对离子色谱行业有深刻见解,对设备选型、市场调研、需求管理等有丰富经验。

报告题目:半导体—离子色谱检测解决方案

【摘要】 针对半导体行业中,离子色谱技术对于检测其中的杂质阴离子具有的得天独厚的优势,本次盛瀚就针对半导体行业离子色谱方面做出的工作进行分享。

徐宗伟 天津大学精密测试技术及仪器全国重点实验室 教授

【个人简介】

徐宗伟,天津大学,教授,博士/硕士生导师。中国电子显微镜学会聚焦离子束FIB专业委员会委员,中国微米纳米技术学会微纳米制造及装备分会理事。主要从事宽禁带半导体,微纳/原子尺度制造,拉曼/光致发光光谱,以及纳米功能器件设计、制备及应用。作为负责人获批十余项国家级项目,包括五项国际合作交流项目,其中一项被英国皇家学会列入“牛顿基金”项目。与德国弗朗霍夫协会、中电集团等宽禁带半导体企业和研究所开展紧密合作。研究成果受邀作主题报告/特邀报告30余次。

报告题目:宽禁带半导体色心的能量束直写制备及光谱表征

【摘要】碳化硅SiC、六方氮化硼hBN和金刚石等宽禁带半导体是制造量子及高功率半导体器件的优良材料。基于氦离子束、飞秒激光等超快能量束加工、变温光致发光光谱、分子动力学模拟等研究方法,研究了SiC硅空位/双空位色心、hBN和金刚石色心等加工产率,开展了飞秒激光原位退火、微结构阵列等色心荧光增强方法研究,基于共聚焦光致发光光谱表征了色心三维分布。

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