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KLA Instruments科磊仪器部

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Nano Indenter® G200X 纳米压痕仪

品牌： KLA

型号： Nano Indenter® G200X

产地：美国

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Zeta™ -20HR光学轮廓仪(专用于太阳能电池)

品牌： KLA

型号： Zeta™ -20HR

产地：美国

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Tencor® P-7 探针式轮廓仪

品牌： KLA

型号： Tencor® P-7

产地：美国

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探针式轮廓仪Tencor® P-170(台阶仪)

品牌： KLA

型号： Tencor® P-170

产地：美国

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探针式轮廓仪Alpha-Step®D-500 (台阶仪)

品牌： KLA

型号： Alpha-Step®D-500

产地：美国

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iNano® 纳米压痕仪

品牌： KLA

型号： iNano®

产地：美国

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Filmetrics®R54-系列高级方块电阻测试仪

品牌： KLA

型号： R54-200/300-4PP/EC

产地：美国

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Candela8520表面缺陷检测系统

品牌： KLA

型号： Candela8520

产地：美国

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Filmetrics® Profilm3D® 光学轮廓仪

品牌： KLA

型号： Filmetrics® Profilm3D®

产地：美国

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Filmetrics F20台式薄膜厚度测量系统

品牌： KLA

型号： F20

产地：美国

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Filmetrics F60-t系列薄膜厚度测量仪

品牌： KLA

型号： F60-t系列

产地：美国

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Filmetrics F60-C系列薄膜厚度测量仪

品牌： KLA

型号： F60-C系列

产地：美国

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Filmetrics F54-XY系列薄膜厚度测量仪

品牌： KLA

型号： F54-XY系列

产地：美国

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Filmetrics F54系列薄膜厚度测量仪

品牌： KLA

型号： F54系列

产地：美国

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Filmetrics F50系列薄膜厚度测量仪

品牌： KLA

型号： F50系列

产地：美国

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Filmetrics F40系列薄膜厚度测量仪

品牌： KLA

型号： F40系列

产地：美国

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Filmetrics F32系列薄膜厚度测量仪

品牌： KLA

型号： F32系列

产地：美国

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Filmetrics F30系列薄膜厚度测量仪

品牌： KLA

型号： F30

产地：美国

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Filmetrics F3-sX薄膜厚度测量仪

品牌： KLA

型号： F3-sX

产地：美国

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Filmetrics F3-CS快速厚度测量系统

品牌： KLA

型号： F3-CS

产地：美国

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测厚仪FilmetricsF10-RT薄膜厚度测量仪

品牌： KLA

型号： F10-RT

产地：美国

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FilmetricsF10-HC薄膜厚度测量仪

品牌： KLA

型号： F10-HC

产地：美国

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FilmetricsF10-ARc薄膜厚度测量仪

品牌： KLA

型号： F10-ARc

产地：美国

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FilmetricsF10-AR薄膜厚度测量系统

品牌： KLA

型号： F10-AR

产地：美国

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Filmetrics®R50系列电阻测试仪

品牌： KLA

型号： R50-4PP R50-EC

产地：美国

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Candela®7100系列缺陷检测和分类系统

品牌： KLA

型号： Candela®7100

产地：美国

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Candela®6300系列光学表面分析仪系统

品牌： KLA

型号： Candela®6300

产地：美国

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Candela 8720 表面缺陷检测系统

品牌： KLA

型号： Candela 8720

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探针式轮廓仪Alpha-Step® D-600 (台阶仪)

品牌： KLA

型号： Alpha-Step® D-600

产地：美国

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探针式轮廓仪HRP®-260(台阶仪)

品牌： KLA

型号： HRP®-260

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