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MC方案：钙钛矿薄膜厚度的测量
2020/03/10 14:51
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方案摘要：
产品配置单：
进口纳米狭缝涂布机
型号： nRad
产地： 美国
品牌：
面议
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便携式光学膜厚仪
型号： FR-portable
产地： 希腊
品牌：
¥10万 - 20万
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Inspex HD 1080p数码显微镜
型号： Inspex HD 1080p
产地： 爱尔兰
品牌：
面议
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方案详情：
钙钛矿薄膜厚度的测量
简介：钙钛矿广泛用于太阳能电池的开发。由于这些类型的太阳能电池具有良好的光伏性能，因此对它们进行了系统的研究。钙钛矿薄膜的厚度和形态是影响太阳能电池性能的重要因素。特别地，人们发现，当钙钛矿的厚度小于400nm时，钙钛矿太阳能电池的效率很大程度上取决于薄膜厚度；而当钙钛矿的厚度大于400nm时，效率则很大程度上取决于钙钛矿层的薄膜形态。在本应用说明中，我们使用FR工具测量钙钛矿薄膜的厚度。
测量方法：用于表征的样品是两种不同厚度的CH3NH3PbBr3钙钛矿薄膜，它们位于标准ITO/SiO2/Soda-lime基底上， 使用ThetaMetrisis FR-Basic VIS / NIR进行反射测量，在350-1020nm的光谱范围内操作。
结果： 两种样品的典型获得的反射光谱（黑线）和拟合的反射光谱（红线），如FR监控软件所示，分别在图2a）和b）中所示。 两种测量方法的拟合在500-750nm光谱范围内进行，样品1中钙钛矿薄膜的厚度在516.9nm处测量，而样品2中的厚度在394.4nm处测量。
结论： 对钙钛矿薄膜厚度测量的基本性能进行了验证。
FR的工具基于白光反射光谱(Reports) 。
准确同步的厚度测量及薄膜的折射率
-一个广泛的多样化的应用范围广泛的光电
特性的工具和整体解决方案，如:
半导体、有机电子、聚合物、涂料和涂料、
光伏、生物传感、化学传感...
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