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薄膜厚度的红外或近红外区域半导体晶片自动分析
2023/06/15 09:02
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方案摘要：
产品配置单：
JASCO傅立叶变换红外光谱仪FT/IR-6000
型号： FT/IR-6000
产地： 日本
品牌： 日本分光JASCO
¥20万 - 25万
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jasco紫外可见分光光度计 V-700
型号： v-700
产地： 日本
品牌：
¥10万 - 15万
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MSV-5000显微紫外可见近红外分光光度计
型号： MSV-5000
产地： 日本
品牌： 日本分光计器
面议
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JASCONRS5000/7000共聚焦激光拉曼光谱仪
型号： NRS-5000/7000
产地： 日本
品牌： 日本分光JASCO
¥150万 - 200万
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方案详情：
测量厚度的光学方法适用于各种材料的研究和开发，如新型电介质和半导体涂层。这些方法的主要优点是提供无损和非接触的测量，以及从亚nm到！m的广泛测量范围。JASCO可以根据薄膜厚度、多层数和基材提供最合适的测量和分析方法。
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化妆品
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