X-Cite® XP750 

小巧的显微镜载玻片尺寸

适合标准的显微镜压片夹，更方便的直接从物镜测光，无需移除或重新配置设备

兼容灯泡，激光和 LED 光源

不仅技术ling先，还能适配多种显微镜，更经济

探测面积高达 – 10mm

同时适用低倍和高倍物镜

无聚焦要求

快速精确测量

宽广的波长和功率测量范围

适合多样化的用途和显微镜配置

根据NIST/NRC标准进行校对

测量结果准确，深受用户信任

* NIST指美国国家标准技术研究所（ National Institute of Standards and Technology）**NRC指（美国）全国科学研究委员会（National Research Council）***建议每12个月对 X-Cite® XR2100 和 X-Cite® XP750校准一次。Lumen Dynamics集团获得更多信息。

内含

物体平面功率传感器，配备电缆和连接器，适用于X-Cite® XR2100设备

功率范围

5μW-500mW

测量分辨率

0.01μW-1mW

误差***

±6%

响应时间

600ms（起始），3s（确保稳定显示）

校准

符合NRC** 标准

波长范围

320nm-750nm

灯管类型/光源兼容性

X-Cite® exacte，X-Cite®120系列，汞/HBO，金属卤化物灯，氙灯，LED，激光

物镜兼容性

4X-63X，空气耦合，FOV直径小于10mm

显示

通过X-Cite® XR2100显示

波长选择

使用X-Cite® XR2100的上/下按钮或直接使用PC界面，以1nm为度量进行调节

数据容量

经X-Cite® XR2100

PC控制

查看/改变设置，确定波长，记录多个物镜的数据/滤光片/强度设置，下载/输出存储数据

指令协议

通过X-Cite® XR2100

电源

重量

2.9oz (82g)

尺寸（无盖）

3″ x 1″ x 0.35″ (75mm x 25mm x 9mm)

世界认证

通过 X-Cite® XR2100

质保

一年

X-Cite®包含的技术受下列保护：US#6,437,861; US#7,335,901

*NIST指美国国家标准技术研究所（ National Institute of Standards and Technology）**NRC指（美国）全国科学研究委员会（National Research Council）***建议每12个月对 X-Cite® XR2100 和 X-Cite® XP750校准一次。Lumen Dynamics集团获得更多信息。