2022/11/21 10:03
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产品配置单:
安科慧生高灵敏度X射线荧光光谱仪台式机
型号: PHECDA-HE&HES
产地: 北京
品牌: 安科慧生
¥50万 - 100万
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安科慧生便携式高灵敏度XRF重金属分析仪 PHECDA-ECO
型号: PHECDA-ECO
产地: 北京
品牌: 安科慧生
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方案详情:
锂电池正极材料元素含量分析解决方案
一、 应用概述
锂电材料中主量元素和杂质元素的含量对锂电池的性能与安全性有着关键性影响,锂电池相关材料的元素检测是原材料以及产品质量控制的关键。
当前,锂电行业多采用ICP-OES分析元素含量,样品处理周期长,对生产质量控制存在滞后性。
常规X射线荧光光谱仪(XRF)分析轻元素能力不足,且无法分析主元素锂(Li)的含量。高灵敏度X射线荧光光谱仪采用全聚焦双曲面弯晶技术,实现对X射线管出射谱单色化聚焦衍射,消除散射线背景干扰,增强元素激发和探测效率,对锂电池中金属杂质元素检测限<10mg/kg。快速基本参数法是X射线荧光领域的核心算法,提升元素定量精度与样品适应性。两项核心技术的结合,为锂电材料元素分析提供快速、精确、全元素分析的解决方案。
二、 方法原理
1、硬件核心技术:单波长激发-能量色散X射线荧光光谱仪(HS XRF)
X 射线管出射谱经双曲面弯晶单色化聚焦入射样品,消除X射线管韧致辐射所产生的散射线背景,同时光路符合偏振消光光路设计,进一步降低单色化入射射线散射线背景。
聚焦激发,增加有限的SDD窗口面积接收样品元素荧光射线强度,实现对元素的高灵敏度检测。
发明专利:ZL 2017 1 0285264.X
2、软件核心技术:快速基本参数法(Fast FP2.0)
基本参数库和先进数学模型相结合
三、 性能数据
1、样品制样
A. 压片制样:取4g正极材料样品—>压片机压片—>制成压片样品—>上机测试
B. 涂布层直接测试:剪取2cm*2cm涂布层样品—>放入样品口直接测试
2、谱图
图1:LiFePO4元素荧光能量谱图
图2:三元锂电正极材料(NCM523)元素荧光能量谱图
高灵敏度X射线荧光光谱仪PHECDA同步分析LFP与NCM电池材料中主量元素以及杂质元 素,快速基本参数法通过全元素化学平衡计算得到锂电池材料中锂(Li)含量。
3、精密度
表1:磷酸铁锂正极材料主量元素分析表
表2:磷酸铁锂正极材料杂质元素分析表
表3:三元锂电正极材料(NCM523)主量元素含量与摩尔比分析表
四、 特点优势
精密度:主量元素LFP(P、Fe)、NCM(Ni、Co、Mn)RSD<0.5%,LiRSD<1.0%;
快速:仅需要对电池材料粉末样品压片处理,仪器分析时间5分钟/样品;
可以直接分析锂电材料涂布层元素摩尔比和杂质元素含量;
扩展性:可以扩展分析各类锂离子电池相关电解液、涂布层面密度。
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NCM(Li)元素含量与混合均匀性
三元正极材料由锂、镍、钴、锰盐等前驱体组成,其中混料环节直接影响最终产品质量,最为主要的是主量元素摩尔比和混样均匀性。行业通常采用化学滴定测定锂含量,采用ICP测定金属元素(镍、钴、锰以及杂质元素等)含量,方法繁琐且耗费大量人力物力,滞后于生产混样环节的连续性要求。 单波长激发-能量色散X射线荧光光谱仪PHECDA系列可以同步分析三元材料中主量元素以及微量杂质,先进的快速基本参数法-Fast FP 2.0通过对全谱拟合,精确得到三元材料中锂(Li)含量。方法制样简单,分析速度快,为三元锂电材料元素定量分析提供更为精确与可行的解决方案。
能源/新能源
2023/06/26
单波长XRF在锂电池SiO与PVDF材料分析中的应用
常用测试Si-O元素含量方法极其复杂,传统的XRF分析超轻元素(C-F)灵敏度与稳定性不足;我司应用全聚焦型双曲面弯晶核心技术的单波长X射线荧光光谱仪,消除入射射线散射线背景,针对超轻元素的单色化聚焦入射技术,可以稳定与高灵敏分析超轻元素(C、N、O、F 等),样品处理简单,分析精度高,是锂电池负极材料SiO和PVDF粘结剂评价的高效测量方法。
能源/新能源
2022/11/24
锂电池负极材料元素分析
随着锂离子电池对性能的要求提升,对于负极材料中杂质元素的限值越来越低,常规使用ICP-OES分析负极材料中杂质元素,样品处理复杂和费时费力,滞后于生产质量控制要求,且无法分析痕量的Si、P、S、Cl等非金属元素。 应用全聚焦型双曲面弯晶核心技术的单波长X射线荧光光谱仪,消除入射射线散射线背景,大幅提升元素检测灵敏度,对石墨负极材料中元素检出限将至1~3mg/kg,满足锂电池负极材料对微量杂质元素分析的严格要求。
能源/新能源
2022/11/21
锂电池集流体涂布层面密度测量解决方案
锂电池极片制造中涂布质量直接影响电池性能优劣,传统重量法检测繁琐耗时,只能对于一定面积的涂布层进行检测,无法完成点与点的差异检测。安科慧生单波长高灵敏度X射线荧光光谱仪(HS-XRF)结合第二代快速基本参数法(Fast FP2.0),胜任各类镀(涂)层样品定量分析,为锂电池极片制作测量提供先进解决方案。
能源/新能源
2022/10/23