锂电池集流体涂布层面密度测量解决方案

三元正极材料由锂、镍、钴、锰盐等前驱体组成，其中混料环节直接影响最终产品质量，最为主要的是主量元素摩尔比和混样均匀性。行业通常采用化学滴定测定锂含量，采用ICP测定金属元素（镍、钴、锰以及杂质元素等）含量，方法繁琐且耗费大量人力物力，滞后于生产混样环节的连续性要求。 单波长激发-能量色散X射线荧光光谱仪PHECDA系列可以同步分析三元材料中主量元素以及微量杂质，先进的快速基本参数法-Fast FP 2.0通过对全谱拟合，精确得到三元材料中锂（Li）含量。方法制样简单，分析速度快，为三元锂电材料元素定量分析提供更为精确与可行的解决方案。

常用测试Si-O元素含量方法极其复杂，传统的XRF分析超轻元素（C-F）灵敏度与稳定性不足；我司应用全聚焦型双曲面弯晶核心技术的单波长X射线荧光光谱仪，消除入射射线散射线背景，针对超轻元素的单色化聚焦入射技术，可以稳定与高灵敏分析超轻元素（C、N、O、F 等），样品处理简单，分析精度高，是锂电池负极材料SiO和PVDF粘结剂评价的高效测量方法。

随着锂离子电池对性能的要求提升，对于负极材料中杂质元素的限值越来越低，常规使用ICP-OES分析负极材料中杂质元素，样品处理复杂和费时费力，滞后于生产质量控制要求，且无法分析痕量的Si、P、S、Cl等非金属元素。 应用全聚焦型双曲面弯晶核心技术的单波长X射线荧光光谱仪，消除入射射线散射线背景，大幅提升元素检测灵敏度，对石墨负极材料中元素检出限将至1~3mg/kg，满足锂电池负极材料对微量杂质元素分析的严格要求。

目前锂电行业多采用ICP分析元素含量，样品处理周期长，对生产质量控制存在滞后性。常规X射线荧光光谱仪（XRF）分析轻元素能力不足，且无法分析主元素锂（Li）的含量。高灵敏度X射线荧光光谱仪采用全聚焦双曲面弯晶技术，实现对X射线管出射谱单色化聚焦衍射，消除散射线背景干扰，增强元素激发和探测效率，对锂电池中金属杂质元素检测限＜10mg/kg。快速基本参数法是X射线荧光领域的核心算法，提升元素定量精度与样品适应性。两项核心技术的结合，为锂电材料元素分析提供快速、精确、全元素分析的解决方案。