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产品简介
单次测量能谱可覆盖2到4kev
用于在线光束表征的背散射模式
研究材料样品的X射线发射谱
能量分辨率为0.3eV
设备结构紧凑且可移动
TXS光谱仪可对HHG光束线，X射线自由电子激光和台式X射线激光进行准确的光诊断。单次测量能谱可覆盖2到4kev。
在具有高效率背向散射的von Hamos光路几何中，对于光束的在线表征，可实现对X射线光谱的指纹识别。 透射光束保持> 90％的透射率，可使进一步的实验不受透射光强的影响。
通过简单地将背散射探针与材料样品交换，hardLIGHT TXS即可用于X射线发射光谱（XES）。 中能X射线波段对许多材料的化学态都非常灵敏，如在电池研究中，2keV附近的硫光谱的精细结构可反映出重要的信息和线索。
TXS光谱仪的定制设计需求是可讨论的。
硫的K边X射线吸收谱 (XAS) 中能X射线波段对许多材料的化学态都非常灵敏，如在电池研究中，2keV附近的硫光谱的精细结构可反映出重要的信息和线索。 |
hardLIGHT: 通过高透射率散射探针和发射光谱进行 无干扰在线光束诊断 |
Topology/类型 | von Hamos |
能量范围 | 2-4keV |
光源距离 | 可根据用户实际光路灵活调整 |
探测器类型 | CCD/MCP/CMOS/或根据需要混搭 |
真空兼容度 | <10-6mbar (UHV version available) |
晶体定位 | 闭环电控台 |
滤光片插入单元 | 可选 |
数据接口 | USB 或 Ethernet |
软件 | Windows UI and Labview/VB/C/C++ SDK |
定制能力 | 可根据需求定制 |
应用
高次谐波光源的光子诊断，
x射线自由电子激光，桌面x射线激光
原位X射线发射谱测量
