搜全网
搜本展位
当前位置:仪器信息网 > 日本电子 >

JEOL JIB-4700F 聚焦离子束(FIB)

产品详情

JEOL JIB-4700F 聚焦离子束(FIB)

JEOL JIB-4700F 聚焦离子束(FIB)
参考报价:
 1500000元 USD (美元)
型号:
 JIB-4700F
品牌:
 日本电子
产地:
 日本
样本:  【暂无】 信息完整度:  
典型用户:  0
产地类别:
 进口
背散射电子图像分辨率:
 2.5nm
二次电子图象分辨率:
 1.2 nm(15 kV)1.6 nm(1KV)
加速电压:
 0.1-30kV
放大倍数:
 25-1000000X
价格区间:
 700万-1500万
仪器种类:
 场发射
分享:
400-860-5168转0507
仪器信息网认证,请放心拨打
产品简介

仪器简介:

JIB-47000F是集成扫描电镜和聚焦离子束于一身高性能仪器。电子光学系统采用场发射电子枪,可以对进行实时研磨监控。该仪器又是一个微区观察、样品分析、微区研磨的集合体,应用范围广泛。



技术参数:

FIB 分辨率: 5nm, 30kV
SEM分辨率: 1.2 nm15 kV1.6 nm1KV
FIB束流:最大90nA

SEM束流:最大300nA

气体输入系统 x1-3



主要特点:

  1. 监控、切割、组装和三维图像重构连续操作
    2大束流,最大90nA
    3.提供空前稳定的图像
    4.气体注入系统用于刻蚀和沉积
    5.最大装样 150 mm
    6.气锁式样品交换
    7.五轴全对中样品台
    8.多个样品分析接口

    9.三维图像、能谱、EBSD

注:该仪器未取得中华人民共和国医疗器械注册证,不可用于临床诊断或治疗等相关用途

  • 推荐产品
  • 供应产品
  • 产品分类
400-860-5168
分机号:0507
仪器信息网认证,
请放心拨打
访问手机展位
日本电子官方展位由仪器信息网设计制作,工商信息已核实。
展位地址:https://www.instrument.com.cn/netshow/SH100507/