赛默飞 ARL QUANT'X 能量色散X荧光光谱仪

太阳能薄膜电池具有质量小、厚度极薄、可弯曲等优点。当前工业化制作太阳能薄膜电池的材料主要有：碲化镉、铜铟镓硒、非晶体硅、砷化镓等。其中，铜铟镓硒(CuIn1-xGax Se2) 具有成本低、转换效率高、性能稳定、弱光性好、几乎不衰减等优点，是世界上潜力的太阳能电池材料。 XRD和EDXRF作为快速无损的分析技术，已经越来越广泛的应用于科研和工业生产。在CIGS薄膜电池领域，XRD和EDXRF技术与实际的应用需求十分契合。本方案将展示使用赛默飞世尔科技的XRD和EDXRF产品，对CIGS薄膜样品进行薄膜层结构、物相、层厚、层元素组成分析。

石油工业里的很多ASTM、IP、ISO规范和其它标准方法采用了WDXRF。 赛默飞世尔科技根据待测元素及其浓度范围、样品类型（固体和液体）和工作量要求提供了多种X射线仪器。从成本效益的ARL OPTIM'X光谱仪，适合简单而专用的分析任务（例如分析石油中的硫、汽油中的铅或者少量样品中的少量元素），到最为先进的ARL PERFORM’X系列光谱仪，可用于中心实验室，赛默飞世尔为石油工业的各个领域提供了适合的分析手段。由于灵敏度高、稳定性好，赛默飞世尔的X射线荧光光谱仪已经被应用于各种标准方法中，如ASTM D2622、 ASTM D4927、ISO 20884等。

X射线荧光光谱仪能够用于定量分析，对于无限厚的样品来说，所测量的元素特征谱线的强度与样品中该元素的浓度成正比，但是对于非无限厚的样品如镀层样品来说，测量的谱线强度不仅与元素浓度有关，而且还与样品的厚度有关。而对于组成单一或恒定的镀层样品来说，测量得到的X射线强度只与镀层的厚度有关。 对于镀锌板来说，其镀层为纯的金属锌。因此，可以用测得的Zn特征谱线强度与镀层的厚度建立对应关系。

将熔窑中流出的玻璃液引流到锡槽中，理想的情况是玻璃经平面成型抛光，从而制得高质量低成本的浮法玻璃。然而在生产过程中锡离子也进入玻璃下表面即玻璃渗锡，成为浮法玻璃的固有缺陷。渗锡后玻璃的光散射及渗锡层和玻璃块体的折射率差异增大，且玻璃透光率也降低。经热处理后的玻璃表面2价锡被氧化成4价锡从而引起区域体积变化，形成玻璃缺陷。所以渗锡量是浮法玻璃渗锡过程的一个重要控制参数，通过波长色散X射线荧光光谱仪（WDXRF）建立校准曲线可以测定不同规格类型的浮法工艺玻璃，X射线荧光光谱法可以直接测定玻璃表面的锡层并得到对应的强度信息，进而算出较为通俗的厚度计量单位（ug/cm2），适用于玻璃表面的锡层厚度分析，从而达到快速控制生产的目的。

玻璃中的着色剂(氧化钴、氧化镍、氧化铁、氧化铬、氧化锰)的含量直接影响玻璃的色度和透过率。在研究高、中、低透玻璃转换过程中,其含量对及时调整配方,使高、中、低透玻璃顺利转换都有很大的指导意义，通常所应用的化学方法须要4~6小时,这些方法对于日常的检查是不适合的。因此,及时而准确地测定玻璃中着色剂显得尤为重要。X射线荧光光谱法可以直接测定玻璃中的微量元素，无需复杂的样品制备，可在3~5分钟内完成测试。

玻璃通常以石英砂、纯碱、长石及石灰石等为原料，经混和、高温熔融、匀化后，加工成形，再经退火而得。对于浮法玻璃来说,由于厚度的均匀性比较好,透明度也比较强,是光学性能较好的玻璃类型,广泛用于建筑、日用、医疗、化学、电子、仪表、核工程等领域，同时它也是进行玻璃深加工的最为重要的原片之一。在生产工艺水平飞速发展的今天，对其常见组分的准确、快速分析就显得尤为重要。

本方案以扑热息痛样品为例，研究了用粉末X射线衍射技术（XRD）测定药物活性成分（API）晶体结构的原理和方法，旨在为行业用户提供应用参考 。 通过赛默飞 ARL EQUINOX 100型台式XRD 获得较高质量XRD图谱。利用 Match ！软件对其API定性分析，通过数据库获取与该API相近的晶体结构文件。结果表明，在无法获得单晶的情况下，粉末XRD也是一种解析晶体结构的重要手段。

美国国家环境保护局 (U.S. EPA) 承诺改善美国的空气质量，这使得愈加迫切需要监测住宅、工业和娱乐场所过滤器采集的大气颗粒物中的特定元素。X射线荧光光谱法由于其无损检测特性、超高的灵敏度而成为了分析与空气监测样品的方法。 Thermo Scientific™ ARL™ QUANT’X 型能量色散X射线荧光能谱仪 (EDXRF) 是测定空气过滤器采集的多种元素浓度的理想选择。台式仪器能够分析元素周期表中从钠到镅的元素，并且需要制备的样品最少。 ARL QUANT’X 型能谱仪配备了先进的硅漂移探测器 (SDD)，具有出色的分辨率，可减少光谱干扰，同时具备出色的响应能力。确保达到较大的立体角，可有效收集X射线。高通量铑阳极管的设计保证了可从X射线管直接激发，或通过选择九种不同的滤波器定制激发，提高了对各种元素的灵敏度。

硅石是脉石英、石英石英砂岩的总称，多用于冶金，化学等工业，是建材工业中生产玻璃的重要原材料。硅石品位的高低直接影响与各原料的配比，而其他元素，诸如Fe2O3的含量则直接关系到成品玻璃的透光率等。在生产工艺水平飞速发展的今天，对其常见组分的准确、快速分析，为生产控制提供参考依据就显得尤为重要。目前，硅石的主要分析方法可采用湿法化学，原子吸收法和电感耦合等离子体原子发射光谱法等等，但这些方法共同的缺点是样品前处理较为繁琐，分析时间长，消耗成本高。X射线荧光光谱法可以测定硅石中的主次量元素的含量，分析范围广，适用于硅石的常规组分分析，从而达到快速控制生产的目的。

随着对无线数据传输需求的逐年增长，人们对传输速度和存储容量的需求也在不断扩大。考虑到 6 GHz 以下的传输频段已经过于拥堵，因此，人们正在研究将 10 GHz 以上的大部分未使用的频谱用于第五代无线数据传输平台 (5G)。为确保产品的质量和性能，控制混合物和原始化合物的化学和结构组成都至关重要。对于常规质量控制/质量保证 (QC/QA) 过程，以及在研究实验室中进行的更为复杂的分析，最简单、最方便的解决方案是将能量色散X射线荧光能谱仪 (EDXRF) 和X射线衍射仪 (XRD) 组合使用。