TE薄背式CCD 光谱仪

SM303 TE薄背式CCD 光谱仪

    科研级高性能 

    极低的暗噪声和杂散光 

    宽的动态范围和高的信噪比 

    高紫外量子效率 

    灵活的光纤输入直接到狭缝或通过光纤 

    广泛的应用设计 

    高速数据采集 

    标准设计允许最多200-1050nm范围

应用:

    光谱产品将提供新的SM303 TE致冷薄型背照式1024像素的CCD阵列光谱仪。 

    SM303是理想的UV / VIS/ NIR光谱法，需要非常高的信噪比和/或高动态范围，像荧光，拉马，LED特性测试的应用程序。的薄型背照式CCD具有在紫外线极好的灵敏度并允许深UV应用。精心设计的外壳使为从200纳米到1050nm（较小的测量窗口尺寸增加光谱分辨率和光敏感）具有非常低的杂散光850nm的测量窗口。的TE制冷detecor也有助于通过减少在长积分时间的噪声电平来测量非常低的光信号。 

    高动态范围和低噪音的SM303也是理想的辐射测量应用选择。 

    标准接口SM303-Si是16位在USB 1.1/2.0兼容接口。软件支持包括SDK和DLL的专用应用程序的开发，我们的SM32Pro基于Windows的光谱采集和分析软件。 

软件:

    SM32Pro - 视窗95，2000，XP，7的软件（支持32位和64位）进行数据采集和分析透射率，反射率，和吸光度测量 

    数据导出，放大和缩小，频谱覆盖，还有更多的功能 

    包括彩色分析工具 

    信号平均和积分时间控制 

    可在DOS和Windows用户方便的软件开发DLL库 

    用VC+ + / VB/ Labview的例子