美国TEK 泰克半导体参数分析仪4200A-SCS

美国TEK Keithley  泰克半导体参数分析仪4200A-SCS

使用 4200A-SCS 加快半导体设备、材料和工艺开发的探索、可靠性和故障分析研究。 业内领先性能参数分析仪，提供同步电流-电压 (I-V)、电容-电压 (C-V) 和超快脉冲 I-V 测量。

直流电流-电压(I-V)

范围：10 aA - 1A，0.2 μV - 210 V

电容-电压：(C-V) 范围，1 kHz - 10 MHz，± 30V 直流偏置

脉冲 ：I-V
范围：±40 V (80 V p-p)，±800 mA，200 MSa/s，5 ns 采样率 

参数查看，快速清晰。

大胆发现从未如此容易。 4200A-SCS 参数分析仪可将检定和测试设置的复杂程度降低高达 50%，提供清晰且不折不扣的测量和分析功能。 另外，嵌入式测量专业知识（业界首创）可提供测试指南并让您对结果充满信心。

特点

· 内置测量视频采用英语、中文、日语和韩语

· 使用数百个用户可修改应用测试开始您的测试

· 自动实时参数提取、数据绘图、算数函数

测量、 切换、 重复。

4200A-CVIV 多通道切换模块自动在 I-V 和 C-V 测量之间切换，无需重新布线或抬起探头端部。 与竞争产品不同，四通道 4200A-CVIV 显示器提供本地可视查看，可快速完成测试设置，并在出现意想不到的结果时轻松排除故障。

特点

· 无需重新布线即可将 C-V 测量移动到任何设备终端

· 用户可配置低电流功能

· 个性化输出通道名称

· 查看实时测试状态

检定、 自定义、 最大化。

简单地说，4200A-SCS 可以完全自定义且全面升级，您可以对半导体设备、新材料、有源/无源组件、晶片级可靠性、故障分析、电化学或几乎任何类型的样本执行电气检定和评估。

特点

· NBTI/PBTI 测试

· 随机电报噪声

· 非易失内存设备

· 稳压器应用测试

带分析探测器和低温控制器的集成解决方案。

4200A-SCS 参数分析仪支持许多手动和半自动晶片探测器和低温控制器，包括 Cascade MicroTech、Lucas Labs/Signatone、MicroManipulator、Wentworth Laboratories.

特点

· “点击”测试定序

· “手动”探测器模式测试探测器功能

· 假探测器模式无需移除命令即可实现调试

降低成本并保护您的投资

保障计划以按需服务事件的一小部分成本提供快速、高质量的服务。 只需点击一下或拨打一个电话即可获得维修服务，在此过程中，无需报价或填写采购单，也不会有审批延误。