产地类别： 进口
能量分辨率： 在100,000cps计数率下同时保证Mn Kα <129 Ev, F Kα <70 eV, C Kα <62 eV
峰背比： N/A
最大计数率： 元素面分布分析>1,000,000cps, 定量分析>100,000cps.
探测器面积： 20mm2/35mm2
看了X射线能谱仪(EDS)的用户又看了
牛津仪器发布紧凑型Xplore硅漂移探测器（SDD）。
Xplore的推出纳米分析提供了更为广泛EDS产品组合，这意味着牛津仪器Azteclive的实时化学成像功能现在可供所有用户使用。
Xplore系列探测器的紧凑设计，可提供20平方毫米和35平方毫米的传感器面积，结合软件的多功能性，并可根据客户未来需求进行功能扩展，是一个多功能性的选择。
Xplore系列成功地将高通量计数率的硬件、方便易用的软件和AztecLive整合起来，可用于以下领域：
失效分析
质量控制
常规研究
是质量控制应用的理想选择
可进行快速进行点分析、生产样品和控制样品的实时比对
假冒伪劣产品或者侵权产品的鉴别
假冒仿制药品的生产和销售是一个全球问题（估计年损失在1600～2000亿美金之间），除了经济损失，还会给客户的客户带来巨大的潜在风险
AztecLive可以帮助用户快速找到真假产品之间关键元素分布及含量的差异和相似之处
膜层及复合物
造纸业会利用各种添加物和涂层来赋予产品不同的性能。比如，碳化钙可以减少纸张褶皱，提高白度
观察样品的断面是分析样品结构效果非常好的方法。将元素分布图和电子图像叠加起来可以清晰地区分分层、涂层和添加物的分布
保修期: 详询工程师
是否可延长保修期: 是
现场技术咨询: 有
免费培训: 详询工程师
免费仪器保养: 详询工程师
保内维修承诺: 详询工程师
报修承诺: 详询工程师
