看了X射线能谱仪(EDS)的用户又看了
Ultim Max TEM,搭载于透射电子显微镜(TEM)主要用于纳米尺度成分分析和元素面分布分析。
全新设计80mm2的传感器,进一步接近样品并提供更多的x射线计数。UltimMax TEM结合了无窗设计和低噪音电子元器件 , 为 200kV下EDS分析提供高质量数据。
· 0.2 - 0.6 srad的立体角
· 对低能量x射线的灵敏度可提高8倍
· 可在400,000cps的计数率下进行定量分析
· 在原位实验中,可在1000°C的温度下采集谱图
保修期: 详询工程师
是否可延长保修期: 是
现场技术咨询: 有
免费培训: 详询工程师
免费仪器保养: 详询工程师
保内维修承诺: 详询工程师
报修承诺: 详询工程师
牛津仪器Andor TechnologyX射线能谱仪UltimMax TEM的工作原理介绍
X射线能谱仪UltimMax TEM的使用方法?
牛津仪器Andor TechnologyUltimMax TEM多少钱一台?
X射线能谱仪UltimMax TEM可以检测什么?
X射线能谱仪UltimMax TEM使用的注意事项?
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牛津仪器Andor TechnologyX射线能谱仪UltimMax TEM报价含票含运吗?
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