透射电镜元素分析系统 牛津仪器能谱仪UltimMax TEM
透射电镜元素分析系统 牛津仪器能谱仪UltimMax TEM

¥60万 - 100万

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牛津仪器Andor Technology

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UltimMax TEM

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欧洲

  • 白金
  • 第23年
  • 一般经销商
  • 营业执照已审核
核心参数


Ultim Max TEM,搭载于透射电子显微镜(TEM)主要用于纳米尺度成分分析和元素面分布分析。

全新设计80mm2的传感器,进一步接近样品并提供更多的x射线计数。UltimMax TEM结合了无窗设计和低噪音电子元器件 , 200kVEDS分析提供高质量数据。

·       0.2 - 0.6 srad的立体角

·       对低能量x射线的灵敏度可提高8

·       可在400,000cps的计数率下进行定量分析

·       在原位实验中,可在1000°C的温度下采集谱图


售后服务承诺

保修期: 详询工程师

是否可延长保修期:

现场技术咨询:

免费培训: 详询工程师

免费仪器保养: 详询工程师

保内维修承诺: 详询工程师

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