OSP镀层测厚仪

OSPrey800@仪器利用光谱分析原理无损检测OSP镀层厚度。无需准备样品，可实时检测实际产品上的OSP镀层厚度。
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光源激发
- 420nm-665nm复合波长光源，通过V形刻痕滤
光片选择特定波长光学
- 20倍光学变焦的照明和成像系统
- 1/8英寸光导纤维
探测器
- CCD 探测器.
分析
- 处理由OSP的膜厚反射而形成的反射光谱
- 自行编程的编辑器来输入需预先设定的参数
计算机
-奔腾D (Pentium D)或奔腾 4(Pentium 4)处理器，
需包含超线程技术
- 时钟速率: >/= 3.0 GHz
- 前端总线 (FSB)速率: >/= 800MHz
- 硬盘容量: >/= 80 GB

- 内存: 1 GB DRAM
- 显示器分辨率: 1280 X 1024
- 操作系统: Window XP - 外接端口:至少两个 USB 2.0 端口

电源
- 100-240 V, AC, 50-60 Hz, 230 Watts
- Maximum. Fuse provided: 4A, 250V

工作环境
- 50°F (10°C) 至 104°F (40°C)
湿度： 使用中至98%, non-condensing

样品台
- XY 轴固定样品放置平台
- Z轴自动光学聚焦

仪器尺寸
- 操作台: 25 宽 x 30 长
x 46.5 高 (cm)
- 主控制器 : 27.5 长 x 20.7 宽
x 14.5 高 (cm).

仪器重量
- 操作台: 6.6 kg (14.5 lbs)
- 主控制器: 5.7 kg (12.5 lbs)

无损实时检测
不再使用检验铜箔，无需样品制备
超小检测点
二维图象分析功能
可在粗糙表面测量OSP镀层厚度
人性化操作流程设计