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SGH-2
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中国大陆
仪器介绍
近平行光入射到厚度变化均匀、折射率均匀的薄膜/空气间隙等物质上,其上下表面的反射光干涉而形成的干涉条纹。薄膜/空气间隙厚度相同的地方形成同条干涉条纹,故称等厚干涉。本实验除了研究典型的牛顿环和楔形平板干涉以外,还研究了一些牛顿环装置的变种,如正交柱面镜等形成的椭圆,双曲等干涉条纹现象。
可开设实验列表
观测牛顿环干涉现象
测量平凸透镜曲率半径
观测劈尖干涉现象
用劈尖干涉测量细丝直径
观测柱面镜双曲线干涉现象
通过柱面镜椭圆曲线测量柱面镜曲率半径
规格参数
DataRay 相机型光束质量分析仪 M2测量仪
美国TEK 泰克半导体参数分析仪4200A-SCS
LPC 500 液体颗粒计数器
释光测年仪丹麦热释光/光释光测年仪
HONLE紫外能量测试仪 UV METER
光学三维表面轮廓粗糙度形貌测量仪
深圳市中图仪器股份有限公司
样品架-qX3-天津瑞利-Quantum Northwest
天津瑞利光电科技有限公司
腔衰减相移式消光系数监测仪
北京崭晴环保科技有限公司
紫外线强度计
郑州沣颍环保技术有限公司
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品牌:赛默飞
型号:Trace1300 E