视频号
抖音号
哔哩哔哩号
前沿资讯手机看
简单做人，用心做事！
分享到微信朋友圈
打开微信，点击底部的“发现”，
使用“扫一扫”即可将网页分享到朋友圈。
仪器信息讯 2019年10月23日-26日，第十八届北京分析测试学术报告会暨展览会(BCEIA2019)在北京国家会议中心召开。
会议期间，仪器信息网特别采访了北京天美高新科学仪器有限公司电镜销售副总监刁雪莲 ，请其为大家介绍日立最新推出的纳米尺度3D光学干涉测量系统VS1800以及台式扫描电子显微镜TM4000PlusⅡ的技术特点。据悉，TM4000PlusⅡ刚从日本空运过来，直接进入展会，展会结束将入住北京的DEMO实验室。
详细内容请查看视频：
[来源：仪器信息网] 未经授权不得转载
实验室安全干货——氢气篇
2024.02.18
《科技追梦人》开年献映：按下快门，纪录北师大电镜专家三十五载匠心路
2024.01.10
“相聚云端 赓续精彩——日立北上广Lab云参观”活动圆满落幕
2023.12.21
三地实验室云参观！日立科学仪器北-上-广Lab线上参观报名开启！
2023.12.04
合作延续、升级|河北医科大学——日立科学仪器（北京）有限公司联合实验室揭牌
2023.11.27
品牌合作伙伴
版权与免责声明：
① 凡本网注明"来源：仪器信息网"的所有作品，版权均属于仪器信息网，未经本网授权不得转载、摘编或利用其它方式使用。已获本网授权的作品，应在授权范围内使用，并注明"来源：仪器信息网"。违者本网将追究相关法律责任。
② 本网凡注明"来源：xxx（非本网）"的作品，均转载自其它媒体，转载目的在于传递更多信息，并不代表本网赞同其观点和对其真实性负责，且不承担此类作品侵权行为的直接责任及连带责任。如其他媒体、网站或个人从本网下载使用，必须保留本网注明的"稿件来源"，并自负版权等法律责任。
③ 如涉及作品内容、版权等问题，请在作品发表之日起两周内与本网联系，否则视为默认仪器信息网有权转载。
谢谢您的赞赏，您的鼓励是我前进的动力~
打赏失败了~
评论成功+4积分
评论成功，积分获取达到限制
收藏成功
取消收藏成功
点赞成功
取消点赞成功
投票成功~
投票失败了~
