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核心参数
产地类别： 进口
仪器种类： FIB-SEM
(电子光学系统）发射源： 冷场场发射型
（电子光学系统）分辨率： 2.1 nm@1 kV ，1.6 nm@15 kV
（电子光学系统）探针电流： 无
（电子光学系统）视野范围： 无
（离子光学系统）发射源： 镓
（离子光学系统）分辨率： 4.0 nm@30 kV
（离子光学系统）探针电流： 100 nA
（离子光学系统）视野范围： 无
追求理想的三维结构分析
通过自动重复使用FIB制备截面和进行SEM观察，采集一系列连续截面图像，并重构特定微区的三维结构。
采用最理想的镜筒布局，从先进材料、先进设备到生物组织——在宽广的领域范围内实现传统机型难以企及的高精度三维结构分析。
SEM镜筒与FIB镜筒互成直角，形成三维结构分析最理想的镜筒布局
融合高亮度冷场发射电子枪与高灵敏度检测系统，从磁性材料到生物组织——支持分析各种样品
通过选配口碑良好的Micro-sampling®系统*和Triple Beam®系统*，可支持制作高品质TEM及原子探针样品
垂直入射截面SEM观察可忠实反映原始样品结构
SEM镜筒与FIB镜筒互成直角，实现FIB加工截面的垂直入射SEM观察。
旧型FIB-SEM采用倾斜截面观察方式，必定导致截面SEM图像变形及采集连续图像时偏离视野，直角型结构可避免出现此类问题。
通过稳定获得忠实反映原始结构的图像，实现高精度三维结构分析。
同时，FIB加工截面（SEM观察截面）与样品表面平行，有利于与光学显微镜图像等数据建立链接。
样品：小白鼠脑神经细胞
样品来源：自然科学研究机构/生理学研究所 窪田芳之 先生
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企业名称
日立科学仪器(北京)有限公司
企业信息已认证
企业类型
有限责任公司(台港澳法人独资)
信用代码
91110105MA01F0W46B
成立日期
2018-10-10
注册资本
人民币元1000万元
经营范围
批发机械设备、仪器仪表、电子产品、1类医疗器械;维修机械设备、仪器仪表、电子产品、I类医疗器械;技术咨询;租赁建筑工程机械与设备、仪器仪表;货物进出口、技术进出口、代理进出口(涉及配额许可证管理，专项规定管理的商品按照国家有关规定办理);企业管理咨询;经济贸易咨询。(市场主体依法自主选择经营项目,开展经营活动;依法须经批准的项目,经相关部门批准后依批准的内容开展经营活动;不得从事国家和本市产业政策禁止和限制类项目的经营活动。)
日立科学仪器（北京）有限公司
公司地址
北京市朝阳区酒仙桥路10号恒通国际商务园中央大厦B22座102室
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