核心参数
产地类别: 进口
仪器种类: FIB-SEM
(电子光学系统)发射源: 0
(电子光学系统)分辨率: 0
(电子光学系统)探针电流: 0
(电子光学系统)视野范围: 0
(离子光学系统)发射源: 0
(离子光学系统)分辨率: 0
(离子光学系统)探针电流: 0
(离子光学系统)视野范围: 0
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2020/04/16
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能源/新能源
2019/03/05
赛默飞世尔科技电子显微镜
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上海市浦东新区张江高科技园区金科路2517号中国芯科技园A栋(赛默飞世尔科技)
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