集成能谱场发射扫描电镜Apreo ChemiSEM新品发布会
Spectra ETEM: 用于在纳米和原子尺度上原位动态探索材料变化的环境透射电子显微镜
邀请函丨防腐院金属表面腐蚀微观表征技术研讨会
助力半导体检测,赛默飞将发布全新Helios 6 HD 双束电镜和Metrios 6透射电镜
十年传承与探索:Quanta 650FEG电镜与内蒙古工业大学分析测试室的特色管理典范之旅
历经岁月,Magellen/Verios传承低压扫描电镜经典:上海硅酸盐所分析测试中心探寻之旅
会议邀请丨 “飞”越千万里——赛默飞电镜全国巡回技术沙龙 昆明理工大学站
邀请函丨太原科技大学站—金属材料微观表征解决方案
电子通道衬度成像(ECCI)原理及在晶体缺陷分析中的应用
历经岁月,MLA自动矿物分析系统传承科学:广东省科学院资源稀土所探寻之旅
浑然一体的ChemiSEM技术:集成式扫描电镜成像与 X 射线能谱解决方案
ChemiSEM技术结合了扫描电镜 (SEM) 和与 X 射线能谱 (EDS),可简化对金属、陶瓷、电池、涂层、水泥和软材料等多种材料的复杂分析。
小束斑+特色SnapMap快照成像功能分析SnOx成分半导体器件
近几年来,随着国内科技产业的不断升级,对微电子器件的需求日益增加。特别是高科技产品的快速发展,比如智能手机、电脑、无人机、新能源汽车、智能机器人等,对高性能微电
XPS在半导体材料的应用
XPS 一般用于分析材料表面、薄膜材料和一些界面材料的元素信息。该技术无需外部校准便可得到量化的结果,很少需要或无需样品制备。XPS的应用十分广泛,包含教学研究
微合金钢碳复型样品中金属析出相分析检测方案(透射电镜)
利用传统的TEM 方法可以对析出相的化学成分进行手动分析,或在没有化学信息的情况下进行单独粒子成像。此外,因为析出相在整个样品中成分很可能不均一,还可以在TEM