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低温扫描探针显微镜

仪器信息网低温扫描探针显微镜专题为您提供2024年最新低温扫描探针显微镜价格报价、厂家品牌的相关信息， 包括低温扫描探针显微镜参数、型号等，不管是国产，还是进口品牌的低温扫描探针显微镜您都可以在这里找到。 除此之外，仪器信息网还免费为您整合低温扫描探针显微镜相关的耗材配件、试剂标物，还有低温扫描探针显微镜相关的最新资讯、资料，以及低温扫描探针显微镜相关的解决方案。

低温扫描探针显微镜相关的论坛

  • 【原创】比较下国内扫描探针显微镜

    我想问下大伙，有没有知道上海卓伦的扫描探针显微镜好用还是中科奥纳的扫描探针显微镜好用呢？另大家还有没有人知道国内有没有做得比较成熟的显微镜厂商呢？希望大家踊跃发言。

  • 扫描探针显微镜一套

    山东大学从美国维柯公司DI分部购进扫描探针显微镜一套,该设备是属于多功能配套设备。它包含如下功能:①原子力显微镜;②隧道力显微镜;③电力显微镜;④磁力显微镜;⑤摩擦力显微镜。工作模式可分为:接触式,非接触式,敲打式,力调制等。功能之全是国际上一流的。为此,山东大学于2001年9月9日派遣任可、刘宜华、孙大亮三人赴美国圣巴巴拉市维柯公司DI分部接受培训(扫描探针显微镜生产厂家为美国、、、、、、、

  • 【注意】扫描探针显微镜版讨论范围（发贴有惊喜哦！）

    扫描探针显微镜同其它的显微镜相比，历史比较短，只有20年的时间，大家了解的少一些，这个版也相对冷清了一些，但是发展相当迅速，大有取代SEM的趋势（大胆！^_^）。希望大家多发贴，发贴的内容主要集中在以下方面：1. 扫描隧道显微镜（STM）的构造、原理；2. 原子力显微镜（AFM）的构造、原理；3. 其它扫描探针显微镜，如MFM，EFM，LFM等的结构和原理；4．扫描探针显微镜的各种成像模式：如接触模式，轻敲模式，非接触模式以及相位成像模式等等；5．扫描探针显微镜的各种模式的技巧；6．各类扫描探针显微镜在各个方面的应用：物理，化学，材料，生物等等，包括各种制样技术；7．纳米蚀刻，纳米操纵等等；8．扫描探针显微镜的发展方向。 欢迎补充！欢迎交流！[em61] [em61] [em61] [em61] [em61]

  • 【分享】扫描探针显微镜及其在光盘开发中的应用

    【英文篇名】 The introduction of Scanning Probe Microscope and its application in optical disc R&D 【作者】 李伟权 【作者单位】 光盘及其应用国家工程研究中心 【刊名】 记录媒体技术 , China Mediatech, 编辑部邮箱 2004年 04期 期刊荣誉：ASPT来源刊 CJFD收录刊 【摘要】 本文简要介绍了扫描探针显微镜的原理和技术特点,并详细地阐述了它在光盘研究与开发中的应用。一、扫描探针显微镜扫描探针显微镜(ScanningProbeMicroscope),简称SPM。SPM技术是80年代发展起来的一种突破性的 【英文摘要】 The principle and technical features of Scanning Probe Microscope are introduced. Its application in R&D of optical disc is also illustrated in detail. 【DOI】 cnki:ISSN:1672-1268.0.2004-04-013 [img]http://www.instrument.com.cn/bbs/images/affix.gif[/img][url=http://www.instrument.com.cn/bbs/download.asp?ID=98699]扫描探针显微镜及其在光盘开发中的应用[/url]

  • 欢迎ative担任显微镜-扫描探针显微镜SPM版主

    欢迎ative担任显微镜-扫描探针显微镜SPM版主！我们希望有更多的热心用户能加入到版主队伍中来，也希望在职的版主能在版面中发现有能力的热心用户推荐给我们。论坛正在招募版主，有兴趣的用户请参见这个帖子：http://www.instrument.com.cn/bbs/shtml/20071101/1042199/

  • 欢迎x357485724担任显微镜-扫描探针显微镜SPM版主

    欢迎x357485724担任显微镜-扫描探针显微镜SPM版主！我们希望有更多的热心用户能加入到版主队伍中来，也希望在职的版主能在版面中发现有能力的热心用户推荐给我们。论坛正在招募版主，有兴趣的用户请参见这个帖子：http://www.instrument.com.cn/bbs/shtml/20071101/1042199/

  • 欢迎unht担任显微镜-扫描探针显微镜SPM/AFM版主

    欢迎unht担任显微镜-扫描探针显微镜SPM/AFM版主！我们希望有更多的热心用户能加入到版主队伍中来，也希望在职的版主能在版面中发现有能力的热心用户推荐给我们。论坛正在招募版主，有兴趣的用户请参见这个帖子：http://www.instrument.com.cn/bbs/shtml/20071101/1042199/

  • 【求助】【扫描探针显微镜SPM/AFM】 诚征版主加盟

    仪器论坛材料表征版区自设立以来，在各位版主以及板油的默默支持下，版面逐渐繁荣以及专业。为了提高扫描探针显微镜SPM/AFM版的活跃讨论气氛，提高技术帖子的质量，为了更好的为版友服务，欲招聘版主多名，具体要求如下：招聘条件：1.熟悉扫描探针显微镜SPM/AFM方面的理论知识和实际操作；2.能带动板油发些扫描探针显微镜SPM/AFM等方面内容的话题讨论、活动等的帖子3.业余时间较多，方便上网，能够及时的解答版友的提问，处理版务；4.工作热情积极。版主福利：1.版主每个月都有工资，以积分声望的方式发放；http://bbs.instrument.com.cn/shtml/20090515/1891006/2.版主可以拥有参加每年论坛年会的机会；http://bbs.instrument.com.cn/shtml/20070719/914329/3.版主可以参加论坛不定期组织的版主聚会；4.版主可以拥有进入版主资源共享FTP中下载和分享各种资料；5.版主可以参加优秀版主的评选。自2011年开始，每4个月进行一次优秀版主评选，一年评3次，我们对优秀版主进行现金奖励。http://bbs.instrument.com.cn/shtml/20110212/3122148/6. 版主可以免费或优惠的参加仪器信息网举办的线下活动和培训班只要你有时间，有精力，能活跃本版，均可在此跟帖，我们将有积分奖励，也可以直接与我站内短信联系。申请版主的要求：1、申请人必须是非仪器厂商的工作人员；（硬性要求，如果您是仪器公司的工作人员可申请版面专家哦）2、对本版面有浓厚的兴趣，自愿、义务、积极、负责地为版友服务；3、具有较充足的上网时间，具备一定的相关专业技术水平和专业知识；4、申请版主必须是本网的认证VIP会员（如果您还不是认证VIP会员，可申请认证即可）。版主的职责：1、主要负责对本版版面的日常事务管理和维护工作；2、帮助和积极引导板油，使论坛向着深度专业化的技术讨论方向发展； 【版面现有管理团队】版面版主：unht版面专家：hitttr

  • 【原创】扫描探针显微镜操作规程

    扫描探针显微镜操作规程一、 接触模式：Contact mode1. 开启设备1.1 依次打开电脑、变压器电源、SPM 控制器电源。1.2 双击SPM 快捷方式，出现SPM manager 窗口，单击setting 的data path，预设数据的存储目录，待SPM 控制器电源显示栏底部显示ready 后点击online。2．固定样品，安装到检测台2.1 检查AFM 头部，确保探针与样品台之间有足够的空间放样，如果距离不够，点击工具栏中release 按钮，直至距离足够时，点击stop。2.2 用双面胶将样品固定于铁片中心上，随后将其置于样品台的中心位置。样品的最大尺寸不超过24mm（直径），8mm（高度）。3. 选择扫描模式在setting 下拉菜单中选择mode and scanner，选中扫描模式（contact mode）和扫描器的大小，点击ok。4. 光路调节4.1 打开setting 下拉菜单中scanner condition，将其operating 值设为0。4.2 打开setting 下拉菜单中panel display，选中vertical deflection，调节激光控制旋钮（样品台右边的前后旋钮），使激光打在悬臂尖端，至少保证信号显示面板上一半的LED 指示灯发亮。4.3 若显示面板上的数值在-5-5 之间，直接调节检测器控制旋钮（垂直方向，即样品台左边的后面旋钮）至显示面板上的数值为0；若显示面板上数值的绝对值大于5，需先调节反光镜使其在-5-5 之间（保持信号显示面板上至少一半的LED 指示灯发亮），再用同样方法将数值调零。4.4 选中panel display 中的horizontal deflection，调节检测器控制旋钮（水平方向，即样品台左边的前面旋钮）至显示面板上的数值为[

  • 【分享】各式扫描探针显微镜简介（PPT）

    好像是台湾某个课题组内部使用的PPT，主要介绍常用的SPM，如STM，AFM，LFM，MFM等的基本原理及其应用，比较全面，除了个人学习之外，还可以作为课件素材使用。[img]http://www.instrument.com.cn/bbs/images/affix.gif[/img][url=http://www.instrument.com.cn/bbs/download.asp?ID=151999]各式扫描探针显微镜[/url]

  • 【原创】扫描探针显微镜标样脏了怎么办？！

    扫描探针显微镜标准样品表面有微米级结构，一段时间后，脏了，怎么办？怎么清洗？我想会有朋友有这方面的困扰。目前有一种叫First Contact的溶液，是一种清洁保护剂，使用起来像面膜一样方便，不会有二次污染，溶液本事能渗透进50nm or 更小的缝隙，也可用于清洗微米级光栅，纳米级光栅，溶液完全干燥之后形成一层薄膜，可以很容易被揭掉，得到干净的表面。

  • 【原创大赛】扫描探针显微镜废针的改造再利用及分辨率的提高

    【原创大赛】扫描探针显微镜废针的改造再利用及分辨率的提高

    扫描探针显微镜废针的改造再利用及分辨率的提高前言：扫描探针显微镜（SPM）一般操作模式有轻敲模式，接触模式，非接触模式等。我们实验室一般采用接触和轻敲模式，由于这两种模式都会与样品有接触，这就不可避免的给探针尖端造成磨损使其变钝，由于针尖较粗，探针的侧面将先于针尖与样品发生接触，从而引起所成图像的失真，将导致扫描出来的图片有严重的“加宽效应”影响图像准确度，造成探针严重浪费增加检测成本。本人在一次做纳米颗粒搬迁实验的过程中，本来是想用探针去移动一个细小颗粒a，结果颗粒粘附到针尖上了，之后扫描出来的粉末颗粒尺寸明显变小，如下图（一）B图和C图作对比明显（框定区域为扫描区域）B图颗粒大于C图。通过这个现象，如果在磨损后的探针针尖上，堆积上一层金字塔形纳米级的金颗粒，会不会使磨损的探针针尖变得更加尖锐呢？如果可以的话以此①可以提高扫描样品时探针的分辨率②减小由于探针针尖不够尖锐带来的“加宽效应”③可以使磨损探针再利用减少耗材成本。http://ng1.17img.cn/bbsfiles/images/2013/12/201312011628_480183_2224533_3.jpg图（一）原理：通过对钝探针针尖堆积纳米金颗粒使其变得尖锐，如图二http://ng1.17img.cn/bbsfiles/images/2013/12/201312011628_480184_2224533_3.jpg图（二）实验设备：BRUKER布鲁克公司的扫描探针显微镜，仪器型号：Nanoman VSLeica莱卡的高真空镀膜仪，型号：LEICA EM SCD 500 探针为多次使用后磨损严重的废针，如图三http://ng1.17img.cn/bbsfiles/images/2013/12/201312011629_480185_2224533_3.jpg图（三）实验过程：选取一块玻璃片，取少量粉末颗粒分散在其上，然后在玻璃片上划一道刻痕做个标记。目的是为了保证整个扫描过程都能找到同一个区域同一个粉末上做比较，以次确保实验的有效性，如图四http://ng1.17img.cn/bbsfiles/images/2013/12/201312011629_480186_2224533_3.jpg图（四）随机选取一颗探针，不做任何处理在标记处扫描图像。如下图五http://ng1.17img.cn/bbsfiles/images/2013/12/201312020832_480224_2224533_3.jpg图（五）在图像里头随机选取两个粉末，上面颗粒命名为A，下面颗粒命名为B，进行测量其尺寸分别为A=163nm,B=204nm；如图五http://ng1.17img.cn/bbsfiles/images/2013/12/201312011629_480187_2224533_3.jpg图（六）取下探针放在另一快玻璃片上，然后放如高真空镀膜仪内，镀膜时间为20s。取出玻璃片拿下探针，可以明显看到玻璃片上探针放置处遮挡了玻璃片没有镀上膜的痕迹。如图六http://ng1.17img.cn/bbsfiles/images/2013/12/201312011630_480188_2224533_3.jpg图（七）装上探针，寻找到同一区域，同一粉末颗粒，仪器使用的扫描速率尺寸等条件不变。扫描后对颗粒测量A=127nm; B=172nm.如图七http://ng1.17img.cn/bbsfiles/images/2013/12/201312011630_480189_2224533_3.jpg[

  • 【原创大赛】Flatten在扫描探针显微镜图片后期处理中的神奇作用

    【原创大赛】Flatten在扫描探针显微镜图片后期处理中的神奇作用

    首先普及一下扫描探针显微镜的知识：http://simg.instrument.com.cn/bbs/images/default/em09502.gif 原子力显微镜（Atomic Force Microscopy，AFM）是20世纪80年代初问世的扫描探针显微镜（Scanning Probe Microscope，SPM）的一种。1986年，Dr.Binning 因发明扫描探针显微镜而获得诺贝尔物理奖。这种显微镜可以直接观察物质的分子和原子，为进一步探索微观世界提供了理想的工具，对于材料的研制开发，生物分子的表征起到了巨大的作用。进入正题 http://simg.instrument.com.cn/bbs/images/default/em09503.gif Flatten原理：对每条扫描线上没有被MASK的数据根据最小二乘法计算出一个拟合的多项式，然后把这条扫描线上所有的数据点减去此多项式。 用途：用来去除由于扫描管垂直方向的漂移，扫描过程中出现的跳线，扫描管的弧线运动等原因而引起的扫描线之间产生的垂直方向错位。 上面只有文字的描叙有点抽象了http://simg.instrument.com.cn/bbs/images/default/em09512.gif那让我们来看看它神奇的效果吧，有图有真相http://simg.instrument.com.cn/bbs/images/default/em09507.gifhttp://ng1.17img.cn/bbsfiles/images/2013/07/201307051727_449680_2224533_3.jpg （Flatten前的图片）http://ng1.17img.cn/bbsfiles/images/2013/07/201307051728_449682_2224533_3.jpg （Flatten前要框住亮点）http://ng1.17img.cn/bbsfiles/images/2013/07/201307051730_449684_2224533_3.jpg （Flatten后）在来看看它3D图的变化http://ng1.17img.cn/bbsfiles/images/2013/07/201307051731_449686_2224533_3.jpg Flatten前http://ng1.17img.cn/bbsfiles/images/2013/07/201307051732_449687_2224533_3.jpg Flatten后 很明显Flatten前后的差别，当然有人会问你这样Flatten之后是不是图像变得不真实了呢？那么我们在Flatten时应该注意这些事项： 在做flatten时，一定要把图象中不在同一平面内的特征stopband框起来，然后再进行处理，否则在具有高特征区域的水平线上会处理低的区域；而在具有低特征区域的水平线上会出现高的区域。对图像分析产生的影响：由于flatten去除了扫描线与扫描线之间的垂直方向的offset，它同时也就修改了图象Y方向的信息，所以在分析图象时要注意到这点，比如1. 在做roughness分析时，flatten对结果的影响会很大。2. 在测量台阶高度时，如果扫描方向与台阶垂直，flatten没有什么影响；但是如果扫描方向与台阶平行，用flatten处理图象则会产生很大的影响。以上就是我对Flatten的神奇效果的理解http://simg.instrument.com.cn/bbs/images/default/e

  • 使用过扫描探针显微镜SPM/AFM的版友，请进此贴获取积分！---长期有效

    此贴最主要的目的是聚集有扫描探针显微镜SPM/AFM使用经验的版友，方便大家的讨论，其次才是显微镜的统计。人多力量大，有关扫描探针显微镜SPM/AFM的问题也好知道向哪些战友求助，交流和讨论！格式如下：编号：（1）显微镜型号：（2）主要用途：（3）你的经验感受：多少写两句http://assets.dxycdn.com/third-party/xheditor/xheditor_emot/default/tongue.gif（4）相关资料（5）其他加分说明：（1）完成1.2项的，加2分；注意一定要加编号，重复的仪器不加分！（2）如果能提供经验感受的，即第3点，则至少再追加5分；每个战友得分最多10分。（3）相关资料的内容：在我看来就是战友觉得有用的，而且与描探针显微镜SPM/AFM有关的，比如使用方法，技巧等。 （4）哈哈，想想就兴奋，有那么多的战友用过描探针显微镜SPM/AFM，如果有问题需要讨论的话，岂不是很热闹，问题解决会更快了。呵呵，还是那句话，我为人人，人人为我，人多力量大，三个臭皮匠赛过诸葛亮！ （5）本贴的最主要的目的是聚集有描探针显微镜SPM/AFM使用经验的战友，方便大家的讨论，其次才是显微镜的统计。 （6）如果您的经验整理成文可以参加第四届原创大赛哦~~参赛即可有礼品哦……

  • 请unht领取原创作品《Flatten在扫描探针显微镜图片后期处理中的神奇作用》的奖励！

    作品链接：Flatten在扫描探针显微镜图片后期处理中的神奇作用unht让我们见识了又一窥探微观的工具——扫描探针显微镜（原子力显微镜），并利用flatten这一后期处理技术，最大程度地还原样品的真实情况。喜欢它就投它一票！http://simg.instrument.com.cn/bbs/081223/images/vote_topic.gif第六届原创大赛7月电镜版区投票帖预祝获奖！unht，这168积分就是你的啦！

  • 新型电化学测量仪器——电化学扫描探针显微镜（EC-SPM）

    新型电化学测量仪器——电化学扫描探针显微镜（EC-SPM） 材料2106 李昊哲新型电化学测量仪器——电化学扫描探针显微镜（EC-SPM）是一种具有创新性的技术，它在电化学领域的研究和应用中起到了重要的作用。EC-SPM采用了先进的技术和方法，可以对电化学反应进行精确的测量和分析，为科学家们提供了更为准确和可靠的数据。EC-SPM的创新之处在于其结合了扫描探针显微镜（SPM）和电化学技术，实现了对电化学反应的原位观察和测量。传统的电化学测量仪器往往只能提供宏观的电化学数据，而EC-SPM通过在电极表面放置微小的探针，可以实现对电化学反应的纳米级别的测量。这种纳米级别的测量能够更加准确地了解电化学反应的动态变化，提供了更为详细和全面的信息。EC-SPM在前处理合计数方面也进行了改进和优化。传统的电化学测量仪器在前处理过程中往往需要复杂的操作和多个步骤，容易出现误差和不确定性。而EC-SPM通过引入自动化和智能化的前处理系统，可以实现对样品的快速处理和准确计数。这不仅提高了测量的效率，还减少了人为因素对结果的影响，提高了测量的精确度和可靠性。我有幸在实验室使用了电化学扫描探针显微镜（EC-SPM），并且对其性能和使用体验有了一些真实的心得体会。我认为EC-SPM的性能非常出色。它采用了先进的扫描探针显微镜技术，可以实现纳米级的高分辨率测量。在我的实验中，我使用EC-SPM对一种新型材料进行了表面形貌和电化学性质的同时测量，结果非常令人满意。EC-SPM能够清晰地显示出样品的表面形貌，并且能够通过电流-电压曲线来研究材料的电化学行为。这对于我研究材料的结构与性能之间的关系非常有帮助，其次，EC-SPM的操作非常简便。它采用了直观的用户界面，使得操作人员能够快速上手。在我使用的过程中，我只需要按照仪器的操作指南进行操作，就能够轻松地完成测量。而且，EC-SPM还具有自动化的功能，能够实现自动扫描和测量，省去了繁琐的手动调整步骤，提高了实验效率。最后，EC-SPM的数据处理和分析功能也非常强大。它可以对测量得到的数据进行实时处理和分析，并且能够生成高质量的图像和曲线。在我的实验中，我使用EC-SPM获得了一系列的电流-电压曲线，并且通过对这些曲线进行分析，我能够得到材料的电化学性质，比如电荷转移速率和电化学反应动力学参数。这对于我研究材料的电化学性能非常有帮助。EC-SPM在电化学领域的研究和应用中取得了重要的成果。例如，在电池研究中，EC-SPM可以帮助科学家们更好地了解电池中的界面反应和电化学性能，从而提高电池的效率和稳定性。在催化剂研究中，EC-SPM可以实时观察催化剂表面的电化学反应，揭示催化剂的活性和稳定性等关键性质。此外，EC-SPM还可以应用于材料科学、生物医学等领域，实现对材料表面性质和生物分子相互作用的研究。EC-SPM作为一种新型电化学测量仪器，具有创新性的技术和方法。它通过纳米级别的测量，实现了对电化学反应的精确观察和分析。在前处理合计数方面的改进，使得测量结果更加准确和可靠。研究成果在电化学领域的应用广泛，为科学家们的研究和实践提供了重要的支持。它的高分辨率测量能力、简便的操作和强大的数据处理功能使得我能够更好地研究材料的电化学性质。我相信，随着电化学扫描探针显微镜技术的不断发展，EC-SPM将会在材料科学、电化学等领域发挥更加重要的作用。

  • 【原创大赛】实验室不容忽视的湿度变化对扫描探针显微镜测试结果的影响

    【原创大赛】实验室不容忽视的湿度变化对扫描探针显微镜测试结果的影响

    前言：扫描探针显微镜它包括扫描隧道显微镜、原子力显微镜、扫描近场光学显微镜、静电力显微镜、磁力显微镜等20多个品种的庞大显微镜家族。这类显微镜的问世不仅仅是显微技术的长足发展，而且标志着一个科技新纪元——纳米科技时代的开始。这类显微镜自问世以来，在物理学、化学、医学、生物学、微电子学与材料科学等领域获得了极为广泛的应用，并一直是国内外科技人员研究的热点。作为仪器使用技术人员，虽不能开发出更出色的仪器，但是如何充分利用它，如何让它发挥到极至得到理想的结果，是我们仪器使用者应该探索的。实验室不容忽视的温湿度变化，对扫描探针显微镜测试结果影响有多大呢？本文研究了扫描探针显微镜，在四种不同湿度环境下（实验室温度调节受限这里不做研究）测试三种不同材料表面形貌，并对测试结果进行对比，得出仪器最佳使用湿度环境。 一、仪器介绍http://ng1.17img.cn/bbsfiles/images/2017/01/201701191701_669577_2224533_3.jpg 图A图A为布鲁克公司型号为Nano man VS 扫描探针显微镜http://ng1.17img.cn/bbsfiles/images/2017/10/2016082509141228_01_2224533_3.jpg 图B图B为海瑞弗公司的精密空调机（有快速除湿功能） 二、测试过程及分析选择一个阴雨天气，首先关闭精密空调机除湿功能，等待室内湿度加大，湿度显示90%时，对实验材料表面扫描成像（不需要抬起探针保持扫描状态）开启除湿机，湿度显示80%时保存一张形貌图，等湿度降到70%、60%分别保存一张形貌图。如此，重复以上操作步骤，分别对普通载玻片、普通硅片、非晶材料三种不同材料表面测试，得到如下图结果。 http://ng1.17img.cn/bbsfiles/images/2017/10/2016082509174389_01_2224533_3.jpg http://ng1.17img.cn/bbsfiles/images/2017/10/2016082509175648_01_2224533_3.jpg 上图随机选取普通载玻片某个区域，在湿度90%时，图1.1a、b区域，出现非常明显的干扰条纹，这种条纹的出现，一般是由于测试表面比较湿或者样品在微动引起的。这里很明显是因为空气湿度过大，在载玻片表面已经形成了水珠，对扫描过程干扰过强导致扫描失败。再看图1.2，这时候湿度降到80%，强烈的干扰条纹基本消失，但是图片上颗粒状不明显，棱角模糊，这是因为样品表面还残留着一层水膜，有的区域探针无法穿透水膜扫描到真实的样品表面，所以扫描出来的图像在感官上有一种朦胧的感觉。再看图1.3湿度降到70%，图像上的颗粒明显，棱角清晰，这说明残留水膜基本消失。图1.4湿度降至60%的时候已经达到理想效果。http://ng1.17img.cn/bbsfiles/images/2017/10/2016082509192148_01_0_3.jpghttp://ng1.17img.cn/bbsfiles/images/2017/10/2016082509193007_01_2224533_3.jpg上图非晶材料做完纳米压痕实验后残留的一个压痕印迹，图2.1湿度90%时虽然没有出现强烈干扰条纹，但是a、b区域有着很厚的水膜，显然扫不出清晰的图片。图2.2湿度80%，可见上半部小部分处于模糊状态，水膜未彻底消失，当湿度降至70%[color=windowtex

  • 欢迎Ins_2afd51b8担任电子显微镜-扫描探针显微镜SPM/AFM版主

    欢迎[url=https://www.instrument.com.cn/bbs/user.asp?username=Ins_2afd51b8]Ins_2afd51b8[/url]担任电子显微镜-扫描探针显微镜SPM/AFM版主！我们希望有更多的热心用户能加入到版主队伍中来，也希望在职的版主能在版面中发现有能力的热心用户推荐给我们。论坛正在招募版主，有兴趣的用户请参见这个帖子：[url=https://www.instrument.com.cn/bbs/shtml/20071101/1042199/]https://www.instrument.com.cn/bbs/shtml/20071101/1042199/[/url]

  • 【原创大赛】Flatten命令在扫描探针显微镜图片处理中的应用

    【原创大赛】Flatten命令在扫描探针显微镜图片处理中的应用

    Flatten命令在扫描探针显微镜图片处理中的应用 Flatten命令，其可以消除扫描线（如噪音，弓和倾斜）等不需要的特征。在采用Depth, Roughness, Section图片分析命令时是要先把图像Flatten的，因为一般扫描出来的图片其中有的图片显示倾斜，弓形或有低频噪声，使得图片出现水平移位或有条纹等假象。如下图http://ng1.17img.cn/bbsfiles/images/2014/11/201411281742_525101_2224533_3.jpgFlatten主要原理是通过扫描的每行数据进行多项式拟合，如选择下表合适的多项式来进行拟合数据处理表1 项目多项式0 orderz = a1 orderz = a + bx2 orderz = a + bx + cx23 orderz = a + bx + cx2 + dx3Flatten命令程序具体操作步骤：1.打开图像

  • 请教关于Veeco公司的DI D3100扫描探针显微镜的 隧道电流问题

    我们现在想用Veeco公司的DI3100扫描探针显微镜的扫描隧道模式下，想进行纳米加工。但问题是探针和试件间距离很近时，加1~15V范围内的脉冲电压，探针针尖材料滑移和试件瞬间产生接触，这样的话不知道这个仪器的隧道电流反馈系统能否接受这突然增大的电流。望各位老师和用过此设备的各位高手请多多指教，谢谢！

  • 【原创大赛】扫描探针显微镜在纳米力学测试中的应用

    【原创大赛】扫描探针显微镜在纳米力学测试中的应用

    [b] [/b][color=windowtext][b] 扫描探针显微镜在纳米力学测试中的应用[/b][/color][b] [/b][color=windowtext][b] [/b][/color][b] [/b][color=windowtext][b]一、什么是扫描探针显微镜[/b][/color][b] [color=windowtext] 扫描探针显微镜（[/color][color=windowtext]Scanning Probe Microscope, SPM[/color][color=windowtext]）是在扫描隧道显微镜基础上发展起来的各种新型探针显微镜的统称。是国际上近年发展起来的表面分析仪器，其分辨率高、实时、实空间、原为成像，对样品无特殊要求，可在大气、常温环境甚至溶液中成像，同时具备纳米操纵及加工功能等。广泛应用于纳米科技、材料科学、物理、化学和生命科学等领域，并取得许多重要成果。[/color][color=windowtext] [/color][color=windowtext]二、扫描探针显微镜特点[/color]1、 [color=windowtext]SPM[/color][color=windowtext]具有极高的分辨率[/color]2、 [color=windowtext]SPM[/color][color=windowtext]得到的是实时的、真实的样品表面的高分辨三维图像。[/color]3、 [color=windowtext]SPM[/color][color=windowtext]可以观察单个原子层的局部表面结构。而不是体相或整个表面的平均性质。[/color]4、 [color=windowtext]SPM[/color][color=windowtext]使用环境宽松，可在大气、低温、常温、高温下工作。[/color] [/b][color=windowtext][b]三、扫描探针显微镜在纳米力学测试中原位成像的应用[/b][/color][b] [/b][color=windowtext][b]下面以某系非晶材料为例，说一说扫描探针显微镜的具体应用[/b][/color][b] 1、 [color=windowtext]采用某公司超纳米压痕仪对非晶样品表面纳米压入[/color][/b][color=windowtext][b][/b][/color][color=windowtext][b]压入参数：[/b][/color][b] [/b][table][tr][td][b] [/b][color=windowtext][b] [/b][/color][b] [/b][/td][td][b] [color=windowtext]加载速率[/color][color=windowtext](mN/min)[/color] [/b][/td][td][b] [color=windowtext]保载时间[/color][color=windowtext](S)[/color] [/b][/td][td][b] [color=windowtext]卸载速率[/color][color=windowtext](mN/min)[/color] [/b][/td][td][b] [color=windowtext]最大载荷（[/color][color=windowtext]mN)[/color] [/b][/td][/tr][tr][td][b] [color=windowtext]点[/color][color=windowtext]1[/color] [/b][/td][td][b] [/b][color=windowtext][b]60[/b][/color][b] [/b][/td][td][b] [/b][color=windowtext][b]10[/b][/color][b] [/b][/td][td][b] [/b][color=windowtext][b]60[/b][/color][b] [/b][/td][td][b] [/b][color=windowtext][b]30[/b][/color][b] [/b][/td][/tr][/table][b] [color=windowtext]加卸载曲线[/color][color=windowtext]图[/color][color=windowtext]([/color][color=windowtext]一[/color][color=windowtext])[/color][/b][color=windowtext][b][/b][/color][color=windowtext][b][img=,690,563]http://ng1.17img.cn/bbsfiles/images/2017/09/201709300951_01_2224533_3.jpg[/img][/b][/color][b][color=windowtext]通过[/color][color=windowtext]SPM[/color][color=windowtext]原位成像[/color][color=windowtext]图（二、三）[/color][/b][color=windowtext][b][/b][/color][color=windowtext][b][/b][/color][color=windowtext][b][img=,401,470]http://ng1.17img.cn/bbsfiles/images/2017/09/201709300951_02_2224533_3.jpg[/img][img=,690,442]http://ng1.17img.cn/bbsfiles/images/2017/09/201709300951_03_2224533_3.jpg[/img][/b][/color][b] [/b][color=windowtext][b] [/b][/color][b] [color=windowtext] SPM[/color][color=windowtext]原位成像压痕图明显看到三角形边出现似有规律性台阶堆积现象，然而加载曲线比较光滑，丝毫没有异像。于是通过改变在加载速率[/color][/b][color=windowtext][b][/b][/color][color=windowtext][b]压入参数：[/b][/color][b] [/b][table][tr][td][b] [/b][color=windowtext][b] [/b][/color][b] [/b][/td][td][b] [color=windowtext]加载速率[/color][color=windowtext](mN/min)[/color] [/b][/td][td][b] [color=windowtext]保载时间[/color][color=windowtext](S)[/color] [/b][/td][td][b] [color=windowtext]卸载速率[/color][color=windowtext](mN/min)[/color] [/b][/td][td][b] [color=windowtext]最大载荷（[/color][color=windowtext]mN)[/color] [/b][/td][/tr][tr][td][b] [color=windowtext]点[/color][color=windowtext]2[/color] [/b][/td][td][b] [/b][color=windowtext][b]3[/b][/color][b] [/b][/td][td][b] [/b][color=windowtext][b]10[/b][/color][b] [/b][/td][td][b] [/b][color=windowtext][b]60[/b][/color][b] [/b][/td][td][b] [/b][color=windowtext][b]30[/b][/color][b] [/b][/td][/tr][/table][b] [color=windowtext]加载曲线[/color][color=windowtext]图（四）[/color][/b][color=windowtext][b][/b][/color][color=windowtext][b][/b][/color][color=windowtext][b][img=,690,567]http://ng1.17img.cn/bbsfiles/images/2017/09/201709300952_01_2224533_3.jpg[/img][/b][/color][color=windowtext][b][/b][/color][color=windowtext][b][/b][/color][b] [color=windowtext]SPM[/color][color=windowtext]原位成像[/color][color=windowtext]图（五、六）[/color][img=,401,469]http://ng1.17img.cn/bbsfiles/images/2017/09/201709300953_01_2224533_3.jpg[/img][img=,690,437]http://ng1.17img.cn/bbsfiles/images/2017/09/201709300953_02_2224533_3.jpg[/img][/b][color=windowtext][b] [/b][/color][b] [color=windowtext]四、结论[/color][color=windowtext] 图（五、六）图（二、三）现象基本一致，然而采用低速率的加载曲线，出现了明显小平台，在排除外界震动等因素的情况下，我认为在采用仪器压入法研究材料的纳米力学性能时，常规加载速率很可能由于仪器的灵敏度导致无法捕捉到更多的微观信息，如果没有借助[/color][color=windowtext]SPM[/color][color=windowtext]成像（为什么没有推荐扫描电镜的原因，因为扫描电镜属于二次电子成像，无法得到样品表面凹凸高度信息）很可能就发现不了非晶材料的这种滑移等微观信息，不能更深入的研究材料的纳米力学性能。这就是为什么在仪器压入法进行纳米力学性能测试的时候引入[/color][color=windowtext]SPM[/color][color=windowtext]原位成像技术。[/color] [color=windowtext]SPM[/color][color=windowtext]在纳米尺度上是人类观察、改造世界的一种新工具，目前被广发应用于教学、科研及工业领域，特别是半导体集成电路、光盘工业、胶体化学、医疗检测、存储磁盘、电池工业、光学晶体等领域；随着[/color][color=windowtext]SPM[/color][color=windowtext]的不断发展，它正在进入食品、石油、地质、矿产及计量领域。[/color][/b][color=windowtext][b][/b][/color][color=windowtext][b][/b][/color][color=windowtext][/color]

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