分析比较原子探针离子探针俄歇谱仪

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    南通宏腾微电子技术有限公司(NTHT Semiconductor Technologies Limited)是一家专业的微纳材料、半导体和微电子材料及器件研发仪器及设备的供应商。南通宏腾微电子技术有限公司所销售的仪器设备广泛用于高校、研究所、以及半导体和微电子领域的高科技企业。南通宏腾微电子目前代理的主要产品包括: - 霍尔效应测试仪; - 快速退火炉; - 回流焊炉,共晶炉,钎焊炉,真空烧结炉; - 电子束蒸发镀膜机,热蒸发镀膜机 - 探针台,低温探针台,微探针台; - 金刚石划片机; - 球焊机,锲焊机; - 磁控溅射镀膜机; - 原子层沉积系统,等离子增强原子层沉积设备; - 电化学C-V剖面浓度分析仪(ECV Profiler); - 扫描开尔文探针系统; - 光学膜厚仪;-PECVD\CVD;-脉冲激光沉积系统-PLD-纳米压印;-等离子清洗机、去胶机;-反应离子刻蚀RIE - 光刻机、无掩膜光刻机; - 匀胶机; - 热板,烤胶板; -少子寿命、太阳能模拟器;-NMR-瞬态能谱仪-外延沉积-等离子清洗机光刻胶光刻机(针尖/电子束光刻机EBL,紫外光刻机,激光直写光刻机),镀膜机(磁控溅射机,电子束蒸发机,化学沉积机,微波等离子沉积机,原子层沉积机 等等…
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  • CAMECA SAS 铜牌12年
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    自1929年成立以来,CAMECA不断为国际一流科研机构提供大型材料分析仪器,并为半导体行业的精准测量需求提供解决方案。CAMECA在多个尖端微量分析技术上开拓进取,精益求精,所提供的设备包括: 二次离子质谱仪(SIMS) ,三维原子探针断层分析术(APT) ,电子探针微量分析 (EPMA) ,低能量电子激发X射线发射光谱(LEXES) CAMECA的总部邻近法国巴黎,分支机构遍及美国,德国,日本,韩国,中国,中国台湾,以及一个全球代理商网络,充分保证我们的支持服务惠及所有用户。 2007年,CAMECA加入AMETEK Inc.,成为这家全球电子和机电产品领先供应商的一部,隶属 AMETEK 材料分析部。
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  • 公司简介:    深圳市森东宝科技有限公司(Cindbest)是香港森东宝国际有限公司在大陆的全资子公司,自主研发CINDBEST品牌探针台、激光修复仪、集代理半导体测试仪表的综合型厂家。    激光修复仪类型 32寸半自动、32寸手动、70寸半自动、70寸手动激光修复仪    CINDBEST探针台类型   普通晶圆测试探针台、太阳能电池测试探针台、积分球探针台、高压探针台、磁场探针台、高低温探针台、气敏分析探针台、低温真空探针台    探针台配件   长工作距离体式显微镜、金相显微镜、三丰、motic显微镜、微光显微镜、样品加热变温台、防震桌、屏蔽箱、三轴调节探针座、RF四维探针座、高频探针夹具、管状同轴夹具、管状三轴夹具、弹簧同轴夹具、弹簧三轴夹具、钨探针(硬探针、软探针)、GGB高频探针等各类探针台配件 欢迎各位前来咨询,我们将竭诚为您服务!公司官方网址:www.cindbest.com
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  • 岛津原位探针离子化质谱仪DPiMS-2020 是基于岛津单四极质谱分析仪LCMS-2020同时配备探针电喷雾离子源为一体的新型质谱分析仪。该仪器通过精密的探针取样式设计在无需样品制备的情况下实现快速便捷的样品分析。技术基于探针电喷雾离子化技术及原理(PESI)适用于化工领域,食品和生物制品领域中样品无样品制备条件下的快速质谱分析。 该仪器具有多项应用优势:1) 样品直接质谱分析,简化样品制备过程;2)容易氧化或讲解的化合物快速分析,分时段实时样品成分含量监测;3) 微量样品离子化能力,有效避免高浓度样品对质谱的污染。
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  • 电子探针简介:电子探针(EPMA)是用极细的电子束对样品表面进行照射产生特征性X射线,对特征性X射线进行分光和强度测定,得到微小区域的元素组成及样品表面元素浓度分布的分析装置。EPMA 采用波长色散型X 射线分光器(WDS),与能量色散型X 射线分光器(EDS)相比,具有高分辨率的特点。因此,EPMA与扫描型电子显微镜(SEM)配置EDS 检测器比较,可以进行更高精度和更高灵敏度的分析。 技术特点:岛津电子探针EPMA-1720系列优势在于传承52.5°的高X射线取出角技术,可以进行高灵敏度的X射线测定。高速稳定驱动的样品台,可以高精度设定分析位置和分析区域。配备各种自动功能和联动功能,电子束的设定简单易行。集多年分析经验于一体的控制?分析软件,实现了从数据采集到数据解析及报告制作的清晰易懂、操作便捷的良好操作环境。对于初学者,装备了从SEM 观察到定性分析?成图分析的简易可行的简单模式。数据浏览程序可以方便地进行数据的批次管理。
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  • 大气压分析探针 (ASAP) 质谱是原位质谱分析技术,用于升级现有的商品化液-质(LC/MS) 联用平台,快速简便分析固体、液体、组织或材料(如聚合材料)样品中挥发性和半挥发性化合物而无需样品制备和分离。 携带样品的 ASAP 探针插放于商品化的质谱离子源的源体内,热的氮气流使样品快速脱附至空气中,经电晕放电离子化产生质子化(正离子方式)或去质子化(负离子方式)离子,随后进行质谱或多级质谱定性、定量分析。ASAP 不干扰同一源体上的电喷雾(ESI)源或 APCI 源的运行,互为补充,且切换即时便捷。该离子化方式尤其适用于高端液质平台,充分展示其多级质谱的选择性碰撞碎裂能力,进行快速(30秒钟以下)鉴定和高灵敏度定量(pg 级),以及精确质量分析能力,实现复杂混合物中化合物的快速鉴定和定量分析。成功的例子已经包括(但不限于) Bruker Qh-FTMS&trade , Thermo Ortitrap&trade , Waters Synapt HDMS,和 QTOF 等。ASAP 将成为替代现有的 EI/CI 固体分析探针的优选技术。同时,由于 ASAP 将 LC 分离和质谱分析相隔离,对于实现复杂液相色谱分离体系(如使用磷酸盐等非挥发性缓冲盐)的液质联用,将成为可能。  例如,ASAP 用于轻松观察比较植物叶在正常气候条件下和在寒冷和黑暗条件下的不同化学变化。又比如,聚合物添加物可以 ASAP 快速鉴别,同时,在较高温度下聚合物本身热裂解,更增加鉴定可靠性。 ASAP 还可快速检测生物体液如尿样中的药物而无需样品前处理,或应用于检查钱币上的毒物等。环境污染物比如多环芳烃(PAH),以及石油中的高馏分成份,均可以ASAP 轻松分析。产品性能:1、可升级 FT-MS、TOF、QTOF、离子阱、Orbitrap,单四极杆、三重四级杆、或其他各种类型的质谱仪2、兼容安捷伦、布鲁克、SCIEX、赛默飞、沃特斯等厂家的 LC-MS 液质质谱仪3、可分析液体、粘液、固体、粉末样品4、无需繁杂的样品制备和耗时的色谱分离5、样品分析在 30 秒内完成6、采用氮气为载气,无需消耗化学溶剂,无需处理化学废液,为“绿色”检测技术7、无需流动相,无需色谱设备及分离用消耗品(如色谱泵、色谱柱、进样器、试管)8、可供调节的实验参数少,简便易学9、不干扰 ESI 和 APCI 离子化。同一源体可安装 ASAP 和 APCI(或 ESI)离子化探针10、载气(氮气)流速取决于质谱仪随机携带的 APCI 源的氮气流速,通常为2.0-6.0 L/分之间(可依质谱仪型号不同而有所不同) 11、放电电压:利用质谱仪随机携带的 APCI(或ESI)源的放电电压12、气体加热:利用质谱仪随机携带的 APCI(或ESI) 源的加热传感功能,通常为 25℃ - 500℃(取决于自带源的温度范围)13、质量范围:取决于质谱仪本身的质量范围,通常为 5~3000 amu14、检测限:取决于质谱仪本身的灵敏度,通常为 1-10 pg 绝对量或 ppb 级浓度15、调节式探针:可调节电绝缘样品管的伸出幅度,便于灵敏度调谐16、无真空切换,样品分析在常压下进行17、工作环境条件:工作电压:230V,+/-10V;操作环境温度:10-400℃18、该仪器不属于含放射源设备或射线装置制造厂商:IonSense,Inc.(美国),大中华区代理为华质泰科生物技术(北京)有限公司。
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  • 群贤毕至,继往开来|离子与原子探针专业委员会成立大会成功召开
    仪器信息网讯 2023年12月22日,由中山大学承办的中国计量测试学会离子与原子探针专业委员会成立大会在广州从化文轩苑会议中心成功召开。离子与原子探针专业委员会是根据离子与原子探针相关领域的生产、研究、应用及教学的发展需要,由中国计量测试学会(以下简称“学会”)批复设立的分支(代表)机构。来自离子与原子探针领域的近百位专家齐聚一堂,共同见证了专委会成立。大会现场会议开幕式由中山大学分析测试中心陈建研究员主持,中国计量测试学会副理事长兼秘书长马爱文教授、中山大学副校长邰忠智和中国计量测试学会副理事长李献华院士分别致辞。中山大学分析测试中心 陈建研究员 主持开幕式中国计量测试学会副理事长兼秘书长 马爱文教授 致辞中国计量测试学会副理事长兼秘书长马爱文教授在致辞中表示,自2019年5月20号开始,国际计量七个单位全部定义到基本物理常数上,代表着国际测量科学全面进入量子化时代,量子测量将成为未来测量的主要技术手段,也将成为引领新一轮科技革命的重要主题。量子测量就是利用量子基本特性进行的高精度高灵敏度的测量工作,离子和原子探针技术就是利用离子和原子特性进行测量,是一项前沿先进的测试技术。马爱文希望委员会能够紧紧围绕国内外离子与原子探针技术开展调查研究,为政府和产业发展提供政策建议。紧紧围绕离子与原子探针前沿技术发展方向,不断开展学术交流学术会议,推动量子测量技术的不断进步;要紧紧围绕量子化测量方法,评价体系的开展,团体标准的制定,推动相关科研成果的转化以及产业链的不断发展;同时也要加强科普创新宣传工作,让更多的人了解离子与原子测量技术,让更多的领域应用这些先进技术。中山大学副校长 邰忠智 致辞中山大学副校长邰忠智指出,计量是实现单位统一,保证量值准确可靠的活动,是科技创新、产业发展、国防建设、民生保障的重要基础,是构建一体化国家战略体系和能力的重要支撑。党的十八大以来,在以习近平同志为核心的党中央坚强领导下,我国的计量事业的得到了快速的发展。作为中国科协的一级学会,中国计量测试学会聚集了我国计量测试领域中一大批具有高科技学术水平的专家学者,充分发挥学会科研院所、高校等单位的优势和作用,集聚各方资源和力量,共同推动国家现代先进测量体系建设,对国家的经济建设和国防领域发展起到了积极的作用。中国计量测试学会副理事长 李献华院士 致辞李献华院士表示,从1993年开始,以清华大学查良镇教授为代表的老一辈科学家,就自发组织了二次离子质谱研讨会,而原子探针技术用户研讨会到目前也举办了十二届。离子与原子探针技术专业委员会的成立,将为提升中国离子与原子探针研究的国际地位和影响力提供了组织保障,同时也将为我国举办2026年的国际二次离子质谱大会提供了有力支撑。今天离子与原子探针专业委员会成立大会是我们大家多年的夙愿,也是我国离子与原子探针专业领域的新起点。我们要以此为契机,共享资源,协同创新,建立产学研用交流服务的大平台,促进科研和产业的高质量发展。开幕式致辞结束后,会议议程环节由天津工业大学科学技术研究院院长赵丽霞教授主持。天津工业大学科学技术研究院院长 赵丽霞教授 主持会议议程赵丽霞在会上回顾了专委会成立前的历史和前期工作,并宣读了《中国计量测试学会关于同意成立离子与原子探针专业委员会的批复》。之后,会议审议和表决通过了《中国计量测试学会离子与原子探针专业委员会工作条例》草案;选举产生了中国计量测试学会离子与原子探针专业委员会委员、主任委员、副主任委员,并宣读最终选举结果及颁发聘书;提名表决产生了专委会秘书长和副秘书长;研讨了《中国计量测试学会离子与原子探针专业委员会“十四五”工作计划》草案。颁发聘书会议总结发言会议选举中山大学分析测试中心陈建研究员任主任委员,中国科学院地质与地球物理研究所研究员李秋立、北京国家质谱中心主任汪福意研究员、沈阳材料科学国家实验室公共技术服务部负责人张磊研究员和南京工业大学胡蓉教授任副主任委员,天津工业大学赵丽霞教授任秘书长,上海大学分析测试中心副研究员李慧任副秘书长。会议最后,由新当选的主任委员、副主任委员及其他领导分别做会议总结发言。至此,中国计量测试学会离子与原子探针专业委员会正式成立。之后,大会进入特邀报告环节。报告人:中国科学院地质与地球物理研究所研究员 李秋立报告题目:《原子探针分析诠释锆石离子探针U-Pb体系年龄怪现象》锆石是大型离子探针U-Pb定年技术应用最早和最广的矿物,离子探针U-Pb定年可以有效获取粒径微小锆石或具有复杂环带结构的锆石中不同区域的年龄信息。但高U锆石的离子探针U-Pb分析中存在随U含量升高而表现更老的现象,称之为"高U效应"。对此,李秋立团队利用原子探针分析揭示出锆石微观尺度为锆石-磷钇矿-铀石等多项成分固溶体;高U锆石中U原子以铀石-锆石-磷钇矿的过渡成分赋存;高U锆石微观尺度下基体成分与锆石标准样品存在明显差别,造成离子探针分析校正结果出现偏差。报告人:中国科学院大连化学物理研究所首席研究员 李海洋报告题目:《高质量分辨连续离子束源二次离子飞行时间质谱装置研制》据介绍,质谱与快速检测研究中心面向国家安全、生态环境和生命健康领域对现场、原位和快速分析仪器的新需求,用创新的离子精准调控技术和集成化方案,做能解决问题而且用户体验好的新仪器。SIMS是高灵敏的微区化学成分分析的工具,TOF-SIMS(飞行时间二次离子质谱)具有独特优势及应用范围,是目前应用最广泛的表面分析技术之一,是一种具有高质量分辨本领(质量分辨率)和高空间分辨(空间分辨率)的表面分析技术。但用SIMS实现分子的定性更需要质谱的高分辨率。针对于此,李海洋在报告中介绍了团队在DC- TOF SIMS 设计和单元技术进展和DC- MTOF SIMS 研究进展。报告人:北京科技大学教授 吴渊报告题目:《Effects of local chemical orderings on properties of high-entropy alloys revealed by atom probe tomography》高熵合金,以其多主组元,高构型熵的设计理念以及独特的性能,成为近十多年来合金领域内的热点材料。在研究初期,高/中熵合金所形成的单相固溶体,其组成原子被认为是完全无序分布在晶体点阵中。由于多组元元素间的复杂相互作用,使得合金在凝固或者热处理后,呈现局部短程有序结构,成为了高熵合金的一个关键特征。局部化学有序性对高熵合金的性能有显著影响。吴渊在报告中指出,原子探针层析成像(APT)可以在表征LCOs和揭示其对HEAs力学行为的影响方面发挥强大作用。报告人:中国科学院广州地球化学研究所教授级工程师 夏小平报告题目:《矿物水中的SIMS测试及其地球与行星科学应用》水,即使是微量的,对岩浆性质影响很大,是成岩、成矿等地质过程的关键因素。地球内部藏着海洋。水含量是星体演化的重要因素,确定水的含量和同位素组成对理解行星体的形成和演化具有重要意义。夏小平团队利用二次离子质谱仪(SIMS)同时测试锆石中水含量和氧同位素组成的分析方法,研究了月球、火星、地球晚期大轰炸的地质事件,分享了来自月球陨石锆石同位素及水含量可能代表的“星际故事”,并表示早期陨石撞击曾经给月球带来大量的水。报告人:中国计量科学研究院研究员 任同祥报告题目:《计量+离子/原子探针=?》质谱法测全血中锌元素含量的方法有外标法、标准加入法、同位素稀释法等,其中同位素稀释质谱法 (IDMS) 被化学计量公认为5个绝对测量方法之一,是痕量、超痕量成分的权威性测量方法。报告中,任同祥介绍了如何用同位素稀释法测锌,以及中国计量科学研究院研制的浓缩同位素标准物质和相应的规范和标准。与会人员合影留念
  • 北京离子探针中心离子探针质谱仪器研发进入攻坚阶段
    2010年1月16-17日,由北京离子探针中心主办的“2009北京SHRIMP成果报告会”在京隆重举行。中国科学院多位院士、政府相关部门负责人以及来自全国各地的地学界同仁等约100人出席了开幕式。自2002年起,一年一度的“北京SHRIMP成果交流会”已经成为中国地学界同仁们进行学术交流、展示成果的一个重要平台,其在学界的地位得到了业内人士越来越高的重视。  2010年1月16-17日的“2009北京SHRIMP成果报告会”开幕式上,“中心”主任刘敦一研究员向与会领导及来宾总结汇报了“中心”2009年度的主要工作进展 ,其中他也谈到了北京离子探针中心自主研发离子探针质谱类大型科学仪器的相关情况:  目前,在科技部和财政部的支持下,该项建议已在“十一五”国家科技支撑计划重大项目《科学仪器设备研制与开发》中立项,其中《二次离子质谱仪器核心技术及关键部件的研究与开发》子项目由北京离子探针中心牵头负责并开始实施。在各协作单位的共同努力下,课题的各项研究工作进展顺利,对主要关键技术的攻关有了突破进展;完成了TOF-SIMS和Trap-TOF的整机设计、气体离子源的整体设计,加工了部分关键部件;液体金属源创新研究顺利进行,样品台三维微聚焦系统完成了方案设计及关键部件选型;离子光学系统、二次离子源及质谱接口完成了理论模拟、方案设计及优化;TOF专用高速数字转换器(ADC)已完成方案设计,实现了部分电路子系统;实现了飞行时间质谱模块和模拟电路系统模块、数字测控模块及软件系统模块;搭建了离子阱离子反应器实验装置,完成了角反射式TOF系统的设计及关键器件的研制。  而据“中心”近期透露,仪器研发项目的最新进展是:已经进入攻坚阶段,并已显示出中心在技术创新方面具有雄厚的基础和发展前景。
  • 世界最先进离子探针质谱仪将落户山东 可用于探月工程
    p  8月14日上午,经过一年多的努力,在山东省国土资源厅的领导下,在北京离子探针中心的大力支持和帮助下,山东省地质科学研究院与澳大利亚科学仪器公司签约,世界上最先进的高分辨二次离子探针质谱仪(SHRIMP V)将落户山东,这是全世界第一台第五代离子探针仪,是国际上最先进的微区原位轻同位素分析仪器,将来可为探月工程做贡献。/pp style="text-align: center "img title="1.jpg" src="http://img1.17img.cn/17img/images/201708/insimg/181eda97-f10d-44dc-9871-e108305c44f1.jpg"//pp  strong山东省地质科学院与澳大利亚科学仪器公司签约,订购全世界第一台第五代离子探针仪/strong/pp strong 多次调研,决定引进/strong/pp  2016年6月3日,山东省地质科学研究院与国家科技基础条件平台——北京离子探针中心达成战略合作协议,建设山东离子探针中心,拟引进世界上最先进的高分辨二次离子探针质谱仪。当年10月26日,山东离子探针中心建设项目顺利通过了包括5位院士在内的专家委员会的可行性论证;10月27日,省国土资源厅副厅长宋守军带队赴北京离子探针中心调研,为在省地科院成立山东离子探针中心做准备。/pp  离子探针分析仪是一种分析“神器”,它最擅长的是测定岩石年龄,对石油、大气、地质构造、地震等学科的研究也大有用处。但设备昂贵,目前我国仅有2台Ⅱ代产品。在通过院士、专家论证及广泛调研基础上,山东省地科院做出了一个惊人之举,决定花3000余万元订购目前世界上最先进、最高分辨率的第V代离子探针分析仪。这台离子探针,比北京离子探针中心的还要先进三代。/ppstrong  为新旧动能转换打造科技平台/strong/pp  8月14日上午10点,山东省地质科学院与澳大利亚科学仪器公司签约,订购全世界第一台第五代离子探针仪。离子探针仪将于两年后完成生产,运抵济南,在山东离子探针中心投入使用。/pp  这台离子探针仪将是全世界第一台第五代离子探针仪,是目前国际上最先进的微区原位轻同位素分析仪器,将来,我国探月工程采集的月岩样品有可能会拿到山东离子探针中心,通过这台仪器来进行年代学研究。/pp  省地科院党委书记、理事长于学峰说,“山东离子探针中心的建设将有助于创新地学研究的新技术和新方法,促进金矿资源领域国家重点实验室建设,完善我省国土资源创新平台体系,更是贯彻落实国家和省创新驱动发展战略、有效推动新旧动能转换的重要举措。”/pp  strong培养人才,用五年打造国际影响力/strong/pp  作为山东离子探针中心项目的促成者——北京离子探针中心主任刘敦一教授介绍,之所以选择与山东省地科院合作,促成第五代离子探针仪的引进,就是看重了山东省地科院积极向上的科研追求精神,“这种主动性非常可贵,而且山东省国土资源厅又特别支持科技创新,将来的山东离子探针中心成就显而易见。”/pp  “引进第五代离子探针仪只是关键一步,与之配套的实验室建设、人才培养都要跟上。”在签约仪式上,山东省国土资源厅副厅长宋守军表示,离子探针仪是世界领先的高精尖科技仪器,仪器引进来从使用到维修保养都需要专业人才,省地科院要加快人才培养,在五年的时间里将山东离子探针中心建设成一个方向明确、特色突出、技术先进、向全国和国际开放的国际化实验室,尽快将山东离子探针中心推向国际地学研究的舞台前沿。/pp /p

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  • 【分享】关于布鲁克台阶仪探针、原子力显微镜AFM/SPM探针

    提供实验室整体解决方案......BRUKER探针 -AFM探针原子力显微镜AFM探针: 探针的工作模式:主要分为 扫描(接触)模式和轻敲模式探针的结构:悬臂梁+针尖探针针尖曲率半径Tip Radius:一般为10nm到几十nm。制作工艺:半导体工艺制作常见的探针类型:(1)、导电探针(电学):金刚石镀层针尖,性能比较稳定(2)、压痕探针:金刚石探针针尖(分为套装和非套装的)(3)、氮化硅探针:接触式 (分为普通的和锐化的)(4)、磁性探针:应用于MFM,通过在普通tapping和contact模式的探针上镀Co、Fe[/siz

  • 【求助】求电子探针定量分析的一些标准!!

    1、标准编号:GB/T 15074-2008 标准名称:电子探针定量分析方法通则简介: 本标准规定了电子探针定量分析过程中仪器的安装要求、工作条件、标样选择、基本操作过程、各种校正处理方法及结果报告内容。 本标准适用于具有波谱仪的电子探针分析仪对试样中各元素组成定量分析测量及数据处理。2、标准编号:GB/T 15244-2002 标准名称:玻璃的电子探针定量分析方法简介: 本标准规定了电子探针和扫描电子显微镜的X射线波谱仪、X射线能谱仪对玻璃的定量分析方法。本标准适用于玻璃试样(包括含碱金属玻璃)的定量分析。3、标准编号:GB/T 15245-2002标准名称:稀土氧化物的电子探针定量分析方法简介: 本标准规定了用X射线波长色散光谱仪进行稀土氧化物的定量电子探针分析方法。本标准适用于对稀土氧化物组成体系的平面、抛光固体样品的定量电子探针分析。4、标准编号:GB/T 15246-2002标准名称:硫化物矿物的电子探针定量分析方法简介: 本标准规定了用电子探针进行硫化物定量分析的标准方法。本标准适用于在电子束轰击下稳定的硫化物以及砷化物、锑化物、铋化物、碲化物、硒化物的电子探针定量分析。本标准适用于以X射线波长分光谱仪进行的定量分析;其主要内容和基本原则也适用于以X射线能谱仪进行的定量分析。5、标准编号:GB/T 15616-2008标准名称:金属及合金的电子探针定量分析方法简介: 本标准规定了用电子探针对金属及合金的化学成分进行定量分析的方法。本标准适用于金属和合金试样立方微米尺度的微区成分分析,分析素的范围是11Na~92U。本标准也适用于用配置了波谱仪的扫描电子显微镜对金属及合金做定量分析。6、标准编号:GB/T 15617-2002 标准名称:硅酸盐矿物的电子探针定量分析方法简介: 本标准规定了电子束下稳定的天然和人工合成硅酸矿物的电子探针或扫描电子显微镜中X射线波长色散光谱仪的定量分析方法。本标准也适用于其他含氧盐、如磷酸盐、硫酸盐等矿物以及普通氧化物。其基本准则也适用于X射线能谱仪的定量分析。7、标准编号:GB/T 17360-2008 标准名称:钢中低含量Si、Mn的电子探针定量分析方法简介: 本标准规定了低合金钢和碳钢中低含量Si、Mn的电子探针定量分析方法,即标定曲线法。 本标准适用于带波谱仪的扫描电镜。8、标准编号:GB/T 17362-2008标准名称:黄金制品的电子探针定量测定方法简介: 本标准规定了用电子探针波谱仪进行黄金制品定量分析的技术方法和规范。本标准适用于各种K金制品含金量的测定,也适用于表面含金层厚度大于3μm的镀金制品的包金制品的表层含金量的测定。9、标准编号:GB/T 17365-1998标准名称:金属与合金电子探针定量分析样品的制备方法10、标准编号:JJF 1029-1991标准名称:电子探针定量分析用标准物质研制规范11、标准编号:SY/T 6027-1994 标准名称:含氧矿物电子探针定量分析方法12、标准编号:GB/T 16594-2008标准名称:微米级长度的扫描电镜测量方法简介: 本标准规定了用扫描电镜测量微米级长度的方法,适用于测量0.5~10μm的长度,也适用于电子探针分析仪测量微米级长度。13、标准编号:GB/T 17359-1998标准名称:电子探针和扫描电镜X射线能谱定量分析通则简介: 本标准规定了与电子探针和扫描电镜联用的X射线能谱仪的定量分析方法的技术要求和规范。 本标准适用于电子探针和扫描电镜X射线能谱仪对块状试样的定量分析。14、标准编号:GB/T 17722-1999标准名称:金覆盖层厚度的扫描电镜测量方法简介: 本标准规定了各类金制品的金覆盖层厚度的扫描电镜测量方法的技术要求,本标准也适用于电子探针仪测量金覆盖层厚度,适用的厚度测量范围为0.2~10um。其他金属材料的覆盖层厚度的测量也可参照执行。15、标准编号:JB/T 7503-1994标准名称:金属履盖层横截面厚度扫描电镜 测量方法简介: 本标准参照采用ISO 9220-1988(E)。 本标准规定了金属覆盖层横截面厚度扫描电镜测量方法的技术要求。 本标准适用于测量横截面中微米级到毫米级的金属覆盖层厚度。

  • 【原创大赛】三维原子探针试样制备流程

    【原创大赛】三维原子探针试样制备流程

    APT(atom probe tomography)技术是目前定量分析纳米尺度不同元素原子分布最微观的先进技术。图1是三位原子探针工作原理示意图,如图所示,采集数据时,样品分析室必须达到超高真空(一般小于10[sup]-8[/sup]Pa的真空度),然后将样品冷却至低温(20-80K,取决于样品性质),以减小样品中原子的热振动。样品作为阳极接入1-15KV正高压,使样品尖端原子处于待电离状态。在样品尖端叠加脉冲电压或脉冲激光后,其表面原子就会电离并蒸发。用飞行时间质谱仪(time of flight, TOF)测定蒸发离子的质量/电荷比值,从而得到该离子的质谱峰以确定其元素种类。用位置敏感探头记录飞行离子在样品尖端表面的二维坐标,通过离子在纵向的逐层累积,确定该离子的纵向坐标,进而给出不同元素原子的三维空间分布图像。图1为上海大学三维原子探针仪器示意图。[align=center][img=,515,315]http://ng1.17img.cn/bbsfiles/images/2017/07/201707051546_01_2423358_3.png[/img][/align][align=center][b]图1 三维原子探针实验仪器图[/b][/align]APT式样的制备要求也很高,具体如下:首先,利用电火花线切割将片状样品加工成0.5mm×0.5mm×15mm的棒状样品。采用两次普通电解抛光的办法获得晶界距离样品尖端仅几十纳米的概率很低,但距离为几百纳米的概率会高很多。电解抛光后的针尖状样品安装在改造后的TEM样品杆上,利用TEM观察针尖样品,确定针尖的曲率半径,晶界与针尖尖端的距离,及通过SAED确定晶界两侧晶粒的取向关系。[align=center][img=,329,254]http://ng1.17img.cn/bbsfiles/images/2017/07/201707051546_02_2423358_3.png[/img][/align][align=center][b]图2 三维原子探针实验仪器图[/b][/align]将那些样品尖端附近几百纳米范围内含有晶界的样品挑选出来进行毫秒脉冲电解抛光,经过这样的精细抛光后,可使得晶界距离样品尖端更近。经过多次试验统计,样品经过20V,1ms的脉冲电解抛光可以使样品尖端减短75~400nm。这样,利用毫秒脉冲电解抛光的办法,对已含有晶界的针尖样品进行精细抛光,可以获得合适APT分析晶界偏聚的针尖样品,如图3所示。[align=center][img=,690,517]http://ng1.17img.cn/bbsfiles/images/2017/07/201707051547_01_2423358_3.jpg[/img][/align][align=center][b]图3 三维原子探针针尖状式样图[/b][/align]

分析比较原子探针离子探针俄歇谱仪相关的耗材

  • AFM探针/原子力显微镜探针/磁性探针(MESP)
    AFM配件,原子力探针,AFM探针,原子力探针针尖,显微镜探针针尖,原子力针尖,原子力显微镜探针针尖,接触探针,纳米压痕探针,氮化硅探针,硅探针,热探针,超尖探针,电子探针,显微镜针尖,原子力显微镜针尖,轻巧模式探针,AFM针尖,接触式探针,磁性探针,导电探针,显微镜探针,探针,布鲁克探针,原子力探针,BRUKER PROBE,AFM PROBE,BRUKER探针,原子力显微镜探针,AFM探针,VEECO探针作为一家能够提供AFM/SPM仪器和AFM/SPM探针的企业,布鲁克公司深刻理解每个单独的组件对于一整套性能AFM系统的价值。布鲁克公司以的生产工艺,专业的AFM领域背景,得天独厚的生产装备,赋予探针制造众多的优势,确保在应用领域中提供完整的AFM解决方案。布鲁克AFM探针制造优势:*Class100级别的无尘室*的设计、制造工序及制造工具*探针设计团队与AFM设备研发团队通力合作,配合紧密*训练有素的生产团队,制造出各种型号的探针*全面的质量管理体系,确保探针性能行业在实验中,用户所得到的数据取决于探针的质量及探针的重复性。布鲁克的探针具有严格的纳米加工控制,全面的质量测试,和AFM领域的专业背景。所以用户尽可放心,我们的探针不仅为您当前的应用提供所需的结果,同时也能为将来的研究提供参考数据。NameMountDescriptionPackSizeTipRadius(nm) MESPUnmountedStandardMFMCoatedTips,2.8N/m,75kHz,Co/CrReflectiveCoating1020
  • AFM探针/原子力探针/导电探针(DDESP-10)
    AFM配件,原子力探针,AFM探针,原子力探针针尖,显微镜探针针尖,原子力针尖,原子力显微镜探针针尖,接触探针,纳米压痕探针,氮化硅探针,硅探针,热探针,超尖探针,电子探针,显微镜针尖,原子力显微镜针尖,轻巧模式探针,AFM针尖,接触式探针,磁性探针,导电探针,显微镜探针,探针,布鲁克探针,原子力探针,BRUKER PROBE,AFM PROBE,BRUKER探针,原子力显微镜探针,AFM探针,VEECO探针作为一家能够提供AFM/SPM仪器和AFM/SPM探针的企业,布鲁克公司深刻理解每个单独的组件对于一整套性能AFM系统的价值。布鲁克公司以的生产工艺,专业的AFM领域背景,得天独厚的生产装备,赋予探针制造众多的优势,确保在应用领域中提供完整的AFM解决方案。布鲁克AFM探针制造优势:*Class100级别的无尘室*的设计、制造工序及制造工具*探针设计团队与AFM设备研发团队通力合作,配合紧密*训练有素的生产团队,制造出各种型号的探针*全面的质量管理体系,确保探针性能行业在实验中,用户所得到的数据取决于探针的质量及探针的重复性。布鲁克的探针具有严格的纳米加工控制,全面的质量测试,和AFM领域的专业背景。所以用户尽可放心,我们的探针不仅为您当前的应用提供所需的结果,同时也能为将来的研究提供参考数据。Doped Diamond这个系列的探针在针尖的一侧涂有可导电的金刚石涂层。由于金刚石的硬度很高,所以涂层也很耐磨。这类探针的典型应用包括:扫描扩散电阻显微镜 (SSRM),扫描电容显微镜 (SCM),和隧道/导电原子力显微镜。NameMountDescriptionPackSizeTipRadius(nm) DDESP-10UnmountedDopedDLCCoatedTips,42N/m,320kHz,AlReflectiveCoating1035
  • 布鲁克 AFM探针/原子力显微镜探针/氮化硅探针
    AFM配件,原子力探针,AFM探针,原子力探针针尖,显微镜探针针尖,原子力针尖,原子力显微镜探针针尖,接触探针,纳米压痕探针,氮化硅探针,硅探针,热探针,超尖探针,电子探针,显微镜针尖,原子力显微镜针尖,轻巧模式探针,AFM针尖,接触式探针,磁性探针,导电探针,显微镜探针,探针,布鲁克探针,原子力探针,BRUKER PROBE,AFM PROBE,BRUKER探针,原子力显微镜探针,AFM探针,VEECO探针作为一家能够提供AFM/SPM仪器和AFM/SPM探针的企业,布鲁克公司深刻理解每个单独的组件对于一整套性能AFM系统的价值。布鲁克公司以的生产工艺,专业的AFM领域背景,得天独厚的生产装备,赋予探针制造众多的优势,确保在应用领域中提供完整的AFM解决方案。布鲁克AFM探针制造优势:*Class100级别的无尘室*的设计、制造工序及制造工具*探针设计团队与AFM设备研发团队通力合作,配合紧密*训练有素的生产团队,制造出各种型号的探针*全面的质量管理体系,确保探针性能行业在实验中,用户所得到的数据取决于探针的质量及探针的重复性。布鲁克的探针具有严格的纳米加工控制,全面的质量测试,和AFM领域的专业背景。所以用户尽可放心,我们的探针不仅为您当前的应用提供所需的结果,同时也能为将来的研究提供参考数据。NameMountDescriptionPackSizeTipRadius(nm) OBL-10UnmountedAuCoatedtips 2Cantilevers,0.006-0.03N/m,AuReflectiveCoating1030
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