折射率温定仪

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折射率温定仪相关的厂商

  • 400-860-5168转4764
    公司成立于2010 年,专业代理欧美(美国、加拿大、德国、英国、瑞士等)高精度的光学检测设备,致力于为科研和工业客户提供一流的光学检测解决方案及包括售前、售中和售后在内的全方位服务。主要包括: 光学检测产品:应力双折射、折射率、弱吸收、反射率、散射仪、非接触式测厚仪、测角仪、可调相位延迟波片等; 激光检测产品:激光功率计、能量计、光束质量分析仪、THZ 探测器等; 其他产品:集成系统所需的激光器、步进位移平台、偏振光转换器等;显微系统所需的XYZ 电动载物台、波片进片机、高速相机ICCD、像增强器300ps 门控时间、FLIM、高精度脉冲延时器等。 近年来公司科研团队自主研发PCI弱吸收测量仪,CRD光腔衰荡法高反测量仪,偏心曲率测量仪等产品,相关指标达到国际先进水平。
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  • 深圳市上乘科技有限公司是美国Quantum Silicones,Inc.(昆腾)在亚太地区的办事处兼总代理。 QSI(昆腾)集团是全球顶尖的专业灌封/密封硅胶制造企业,总部位于美国弗吉尼亚州的里士满,工厂均通过ISO9001:2000认证,生产的产品主要包括:有机硅灌封胶、密封胶,导热硅胶,LED有机硅产品,高折射率硅胶,有机硅凝胶,有机硅涂层及涂覆材料,有机硅模型材料等。 我们的目标是以业界最优秀的技术团队针对您独特的应用为您提供完美的电子灌封、密封胶的解决方案,公司所有产品都符合欧盟环保ROHS认证、SGS认证。 美国QSI(昆腾)集团生产的的灌封、密封、涂覆硅胶产品主要应用于:各种电源、线路板、变压器、LED照明产品、传感器、仪器仪表、控制器、汽车电器、各种模组等需要灌封密封保护的部件中,起保护,绝缘,导热等作用。 QSI(昆腾)时刻准备着在全球市场中支持您的运营!
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  • 北京昊然伟业光电科技有限公司(昊然伟业)成立于2010年,致力于光电子领域, 是众多世界知名光电产品的领先供应商。昊然伟业主要人员具有在光电科技近10年的生产、研发及销售经验,与业界专家保持良好的合作关系。代理产品主要有以下6类: ※光学元件加工参数测量仪器: 精密测角仪、波片相位延迟测量仪、光电自准直仪、干涉指零仪等。※光学材料性能参数测量仪器: 弱吸收吸收测量仪、折射率测量仪、X射线衍射仪等。 ※光学薄膜参数测量仪:薄膜弱吸收测量仪、高反膜反射率测量仪等。 ※光谱仪器:光纤光谱仪、微型傅里叶红外光谱仪、便携式光谱辐射度计等。 ※ 光器件 :可调相位波片、偏振光转换仪、电动可调焦距镜片等 ※ 激光器类:各种he-ne激光器、高稳定性固体激光器及相关激光电源等。 昊然伟业凭借在业内的良好信誉,在国内获得了越来越多客户的认可。昊然科技的客户服务理念是: 从项目调研阶段着手,协助客户选择合适的解决方案。 项目启动阶段,协助客户做好各项手续。 项目调试阶段,协助培训操作人员。 项目使用阶段,及时为客户解决遇到的任何硬件及软件问题。   昊然伟业愿以专业的知识、真诚的服务态度,为用户提供专业、快捷、优质的服务。我们期望为您提供合适的产品,助力您企业的成长。欢迎您通过各种方式联系我们。也请您多关注我们的技术博客:http://opcrown.i.sohu.com/ 电话: 010-51606423
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折射率温定仪相关的仪器

  • ATAGO(爱拓)阿贝折射仪用于测量透明、半透明液体或固体的折射率(nD)和平均色散的仪器(其中以测透明液体为主),折射率(nD)和平均色散是物质的重要光学常数之一,能借以了解物质的光学性能、纯度、及色散大小等。ATAGO(爱拓)阿贝折射仪系列作为ATAGO(爱拓)产品的经典产品,广泛应用于石油工业、油脂工业、制药工业、制漆工业、日用化学工业、制糖工业和地质勘察等部门的检测与分析,更是科研教学、高等院校常用教学设备之一。ATAGO(爱拓)阿贝折射仪 NAR-1T LO(低折射率) 可测量各类液体和透明固体样品的折射率(nD),尤其适合低折射率样品(折射率(nD):1.1500~1.4800),常用于测量多种液体以及部分薄膜、玻璃、塑料、胶片、树酯、聚合物等样品,操作简易,读数快速,专业稳定。【产品参数】产品型号 NAR-1T LO(固液两用 低折射率)产品货号1217测量范围 折射率(nD ) 1.1500~1.4800分辨率 折射率(nD ): 0.001测量精度 折射率(nD ): ±0.0002温度范围 5~50℃光源LED (近似D线)电源AC 100~240V,50/60Hz功率5VA尺寸与重量13×18×23cm,1.8kg(仅主机)10×11×7cm,0.5kg(温度显示器)
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  • 折射率测量系统 400-860-5168转3339
    红外折射率测量仪 完美融和创新设计及尖端技术,Prism Pro - IR是艺术级红外折射率测量仪,用于测量中波红外成像组件/系统及光材料均匀性的理想仪器。规格参数*精确度 (已校准)*重复性波长范围温度范围(可选)波长精度波长分辨率仪器测试孔径 旋转平台分辨率 双RTD(电阻热装置) 探测器DSP锁相放大器 +- 0.00005 +- 0.00002350nm- 14um77-373K+- 0.05%1nm25 mm 直径.008 角秒+-0.3 摄氏度MCT SRS 830 源类型:150 W石英卤素灯(0.25 - 3.5 um)、陶瓷发光体 (2.0 - 30 um) 单色仪:自动三光栅塔轮、自动11位二级截止滤光片转轮、变速光学斩波器 (10 – 350Hz)、(6) 套用户可切换狭缝 尺寸: 6ft x 4ft x 3ft重量: 1100lbs (包括桌子)分析软件/ M3自动化、折射率索引包准确性和重复性通过60度CaF2棱镜@3.39um验证dn/dT:折射率系数随温度变化色散:折射率系数随波长变化色散方程拟合: Sellmeier、Herzberger、Cauchy等 色散曲线 dndT温度变化曲线
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  • 折射率测量仪 400-860-5168转2623
    本系统根据最小保护角度法(散荷法),在采用棱镜形状的样本中使用任波长为(1~14微米)的中色光,通过测量透过入射光的角度来测量样品的透射率的的装置。能够测定在以往的测定法的折射率精度为0.0001。用于红外窗口及红外镜头的Ge, Si, ZnSe, KRS-5。最适合评估玻璃和红外光学薄膜。特点:可以在波长范围1~14um中测量折射率,可以达到(0.0001)的高精度;配备温度调控功能,可以测量不同温度下的折射率的差异。
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折射率温定仪相关的资讯

  • 什么是brix值及brix值与折射率的换算
    什么是Brix值?折射计测量的是溶液的折射率。Brix标度实际上是表示是蔗糖水溶液的浓度。而在大多数溶液中除蔗糖外,可能还包括盐、矿物质和蛋白质等,Brix值表示溶液中总的可溶性固形物的含量。对于特定的样品,如切削油或其他工业产品,可通过建立Brix值与样品实际浓度的转换关系进行测量。Brix(%)值与折射率(nD)换算表%n 20D%n 20D%n 20D01.33299351.39032701.4654611.33442361.39220711.4679021.33586371.39409721.4703731.33732381.39600731.4728541.33879391.39792741.4753551.34026401.39986751.4778761.34175411.40181761.4804081.34477431.40576781.4855291.34629441.40776791.48811101.34782451.40978801.49071111.34937461.41181811.49333121.35093471.41385821.49597131.35250481.41592831.49862141.35408491.41799841.50129151.35568501.42009851.50398161.35729511.42220861.5067171.35891521.42432871.5094181.36054531.42647881.5122191.36218541.42863891.5149201.36384551.43080901.5177211.36551561.43299911.5205221.36720571.43520921.5234231.36889581.43743931.5262241.37060591.43967941.5291251.37233601.44193951.5320261.37406611.44420 271.37582621.44650 281.37758631.44881 291.37936641.45113 301.38115651.45348 311.38296661.45584 321.38478671.45822 331.38661681.46061 341.38846691.46303 上表所用Brix0-85%与折射率之间的换算值系采用ICUMSA(国际糖分析办法协会,1974年成立)数据。 ATAGO(爱拓)是专业的折光仪/折射仪与旋光仪旋光仪生产厂商,生产多种类型的折光仪/折射仪及旋光仪 旋光仪。提供生产原料及成品的Brix值、折射率、盐度、糖度、物质浓度、旋光度的测量方案!更多折光仪/折射仪/旋光仪旋光仪详情请点击 www.atago-china.com 或致电020-38108256 ATAGO(爱拓)中国分公司 咨询。
  • 如何借助折射率测量技术来提高半导体生产质量
    化学机械研磨/抛光 (CMP) 将化学反应和机械研磨结合在一起,是一项成本高昂且具有挑战性的重要纳米抛光工艺。这一工艺是集成电路制造中关键的使能步骤,对产量和工作效率都会产生影响。CMP 简介抛光工艺使用含氧化剂的浆料完成,氧化剂通常为过氧化氢 (H2O2)。在制造过程中,将晶圆和抛光垫紧密地压在一起,同时使二者各自以略微不同的速度逆时针旋转。将浆料铺在抛光垫的中央,然后结合运用机械操作和化学操作,逐步除去晶圆表面的材料,使晶圆表面局部和整体都顺滑平坦。 使用 CMP 浆料前,先在工厂对其进行混合或稀释。氧化物抛光浆料在购买时通常为浓缩状态,使用前在现场加水稀释,以减少运输和人工成本。一些多组分抛光浆料只能随用随混,因为这些浆料在混合后有效期很短。确保正确地混合至关重要,因为混合效果直接关系到化学反应速率和晶圆抛光速率;混合过程中的任何缺陷都会对可制造性和可靠性产生负面影响。尽管制造点 (POM) 的浆料控制很严格,但后续过程(包括运输、处理和过滤)会影响化学特性,因此需要对浆料进行连续监测,直到抵达使用点 (POU) 为止,以确保实现高产量。这样就需要有效、快速、可靠、准确且经济高效的计量工具和方法,因此许多制造厂选择使用折光仪。如何借助折射率测量技术来提高生产质量折射率 (RI) 测量技术是一种不消耗浆料的连续在线测量方法,可帮助制造厂在传递工艺相关的实时信息时迅速识别出浆料成分错误,从而减少存在风险的晶圆数量。CMP 浆料携带纳米颗粒,其固体含量为 1 - 30%(取决于浆料类型),因此对其中的过氧化氢浓度进行分析极具挑战性。但通过对特定浆料的折射率及温度特性进行标定,RI 测量法可以不惧这些困难条件,成功测量出钨浆料中的过氧化氢浓度并将误差控制在 ±0.03%(重量)以内。此外,与电导率探头测试不同,RI 测量可以监测 H2O2 浆料浓度,该指标可以反映浆料随时间的沉降和降解情况。因此,RI 不仅用于检验产品的质量,也用于监测进厂原始浆料各批次之间的变化,并验证混合 - 添加步骤。部分浆料输送系统拥有一项引人注目的功能,那就是日用槽自动化学品加料功能。维萨拉半导体行业用折光仪的优点维萨拉半导体行业用折光仪为半导体制造环境设计。该仪器尺寸小且不含金属,因此适合在不影响工艺的情况下测量化学物质。维萨拉半导体行业用折光仪适合 CMP 操作,因为:测量数字化,并且不会产生偏差集成了温度测量组件,可确保高精度的 RI 测量可进行直接密度测量设计坚固可靠,可承受过程中的振动,减少测量误差通过内置诊断程序,可即时了解工艺条件拥有流通池(旨在减少甚至消除结垢现象)参考文献多年来, DFS公司一直在 CMP 操作中使用维萨拉半导体行业用折光仪,长期的成功运作证明该设备可靠且准确。“随着工艺节点越来越多地采用 CMP 步骤,我们必须确保输送到抛光工具的浆料的化学特性以及机械特性保持稳定一致,”DFS公司化学技术研发总监Karl Urquhart 解释道,“在线 RI 监测可以评估进料的化学成分,检验混合添加步骤的质量,并且可以通过一次不消耗浆料的实时测量来验证 CMP 浆料是否混合均匀。”针对 CMP 浆料的 H2O2 测量装置于 2013 年在一家大型半导体制造厂中完成安装,用于取代自动滴定法。安装后,该测量设备稳定运行,并且除了正常的冲洗混浆池外,无需进行仪器维护。通常,在安装维萨拉半导体行业用折光仪后,制造厂的晶圆产量可提升约 20%。此外,CMP 浆料受到严格控制,能够提高研磨过程的均匀性。❖ 维萨拉半导体行业用折光仪 PR-33-S适用于半导体液态化学品测量该折光仪外形紧凑,流通池采用改良超纯 PTFE 制成,适用于半导体液态化学品测量。可通过 ¼ 至 1 英寸的皮拉 Pillar 或扩口 Flare 连接。维萨拉半导体行业用折光仪 PR-33-S 用于晶圆洁净室里的化学品浓度监测,通常被安装在混合、清洗、蚀刻和 (CMP) 等机台上。PR-33-S 包含一个超纯改性 PTFE 流通池主体和一根以太网线,不同标准的以太网供电 (PoE) 开关均可通过以太网线向传感器供电,并将数据传输给计算机。PR-33-S 实时监测化学品浓度,当化学品浓度超出规定范围时,立即通过以太网反馈报警。例如,可通过配置低浓度和高浓度警报来控制和延长溶液使用寿命。这里的浓度通过对溶液折射率 nD 和温度测量来确定。PR-33-S 直接通过喇叭形或pillar配件进行安装。PR-33-S 结构紧凑,不含金属,体积小。关键要素:• N.I.S.T. 标准下的可追溯校准及验证,采用标准折射率液体和验证程序进行验证。• 光学核心设计。 • 通过以太网进行数据记录和远程界面操作。• 标准 UDP/IP 通信。• 过程温度范围:-20°C – 85°C (-4°F – 185°F)。• 内置 Pt1000 快速温度测量及自动温度补偿 。
  • 毛细管电泳新型高灵敏度折射率检测技术面世
    毛细管电泳(CE)常用的检测技术只能检测具有特定特性的分析物。例如,荧光检测器只能检测发出荧光的分析物,紫外线检测器只能检测吸收紫外线的分析物,而安培检测器只能检测在电极上可被氧化或还原的分析物。即使是通常被认为是通用检测技术的质谱仪,也只能检测可以通过电喷雾电离有效地转化为离子的分析物。  回音圆廊的折射原理  可以与毛细管电泳一起使用并且真正通用的一种检测技术是折射率(RI)检测。在这种检测技术中,当光穿过毛细管电泳缓冲区中的分析物时会产生折射,通过对所引起的弯曲或折射程度的变化来检测分析物。问题在于,折射率检测并不是特别敏感,尤其是在小规模的毛细管电泳中。伦敦圣保罗大教堂的圆顶天坛回音壁  但是,有一种方法可以利用所谓的“回音圆廊”效果来增强折射率检测的灵敏度。就像声波可以在圆形空间中反弹一样,例如伦敦圣保罗大教堂的圆顶以及北京天坛的回音壁,由于声音的折射,可以在空间的一侧清晰地听到另一侧的对话。特定波长的光可以围绕圆形结构反弹,最终被俘获。被俘获的特定波长取决于周围介质的折射率。  散射光的监测  通过将激光照射在与毛细管电泳缓冲液接触的圆形结构上,可以通过监测散射光来检测由分析物引起的缓冲液折射率的任何变化。为此,散射光将丢失在圆形结构中被俘获的波长的光,该波长的光将随着折射率的变化而变化。几个研究小组表明,这种方法行之有效,他们已经使用了专门定制的设备(例如用于俘获光线的小玻璃球)来实现了这一目的。  现在,来自美国安阿伯市密歇根大学的John Orlet和Ryan Bailey使用市售设备进行了同样的操作,从而提供了一种更简单,更方便的方法来进行毛细管电泳敏感的折射率检测。该设备是美国一家名为Genalyte的公司生产的硅光子微环谐振器阵列。它由两个由四个圆形硅环的16个簇组成的通道组成,每个环可以俘获入射的激光。  Genalyte将这些阵列用于医学诊断,因为当诸如生物标记的分子结合到环上时,被环俘获的光的波长也会改变。但是Orlet和Bailey意识到,这种阵列有可能成为与毛细管电泳一起使用的理想折射率检测器。为了将阵列变成这样的检测器,两名研究人员将其容纳在连接到两个毛细管的流通池中。被毛细管电泳分离的分析物通过第一个毛细管迁移到流通池中,然后离开毛细管并通过阵列的两个通道进行检测,然后再通过第二个毛细管流出流通池。  糖和咖啡因的成分检测  Orlet和Bailey首先在山梨糖上测试了这种设置,发现该阵列可以检测到浓度低至15毫摩尔的分析物,并且阵列响应的大小随浓度而变化。接下来,他们尝试了两种简单的混合物,一种包含甘露糖、乳糖和果糖,另一种包含小分子乙酰胆碱、咖啡因和荧光素。在这两种情况下,混合物均通过毛细管电泳分离,并通过阵列检测其单个成分。但是,因为每个簇都可以检测到分析物,所以该阵列还可以监控它们沿通道的通过,从而记录其迁移速度,从而提供有关分析物的其他信息。  最终,Orlet和Bailey表明,该阵列可以检测通过毛细管电泳分离的三种蛋白质——肌红蛋白、血红蛋白和β-乳球蛋白,证明它也可以与生物分子一起使用。他们现在正在研究各种方法来进一步提高其新型折射率检测器的灵敏度,包括通过改善毛细管装配到流通池中的方式以及将特定生物分子的俘获剂附着到阵列中的环上。符斌供稿

折射率温定仪相关的方案

折射率温定仪相关的资料

折射率温定仪相关的试剂

折射率温定仪相关的论坛

  • 折射率的问题

    本人新手,最近接手了一台Mastersizer3000激光粒度仪,接到了用干法检测齐多夫定粒度的任务,在马尔文工作站自带的材料库里没有齐多夫定的折射率等参数,后来在网上查到了齐多夫定的折射率为47°(C=1,H20),对C=1,H20这两个参数不理解,不知道该怎么换算成我们平时用到的那种折射率,像水的折射率是1.33,而不是一个折射角角度。望赐教

  • 土壤折射率

    请教一下,哪位知道土壤的折射率,做土壤样品的ATR,需要进行校正,用的是Nicolet6700,目前默认的样品折射率是1.5;反射次数是1;入射角度45度;晶体是金刚石;有明白的朋友指点一下,谢谢!

折射率温定仪相关的耗材

  • 高折射率球透镜
    高折射率球透镜?折射率为2.0?精度高?可选择高折射率半球透镜本球透镜折射率比LaSFN9高,因此后截距更短,简化了光纤耦合过程。也可用于内窥镜检查、条码扫描、非球面预加工材料、以及传感器应用的方面。S-LAH79 (Ohara)的阿贝系数是28.3,密度为5.23g/cm3, 线膨胀系数6.0 microns/m°C (-30 to 70°C)。关于球透镜的一般信息,或如何计算NA和焦距,请点击我们关于球透镜的技术文章。通用规格类型:Ball Lens涂层:Uncoated直径容差 (μm):+0/-3表面质量:40-20球度 (μm):2订购信息直径 (mm)基底产品号1S-LAH79#47-1282S-LAH79#47-1295S-LAH79#47-1308S-LAH79#47-1314S-LAH79#48-8956S-LAH79#48-89610S-LAH79#48-8971.5S-LAH79#90-520
  • 高折射率半球透镜
    高折射率半球透镜?• 2.0折射率?• 简化系统集成?• 高索引球镜也可用与我们的LaSFN9球形透镜相比,TECHSPEC® 高折射率半球透镜具有更高的折射率,并提供较短的后焦距,简化了光纤耦合。 这些镜头有各种直径可供选择,全部采用S-LAH79(Ohara)基板。 TECHSPEC® 高折射率半球透镜简化了系统集成,可用于各种应用,如内窥镜检查和条形码扫描。 联系我们今天讨论自定义选项。通用规格类型:Half-Ball Lens涂层:Uncoated表面质量:40-20技术数据订购信息直径 (mm)基底产品号2S-LAH79#90-8584S-LAH79#90-859
  • 多模光纤跳线,渐变折射率(GRIN)
    多模光纤跳线,渐变折射率(GRIN)特性集成工业标准级渐变折射率多模光纤窄键FC/PC或LC/PC接头,陶瓷插芯提供?50 μm和?62.5 μm纤芯以供选择?3 mm外部护套长度有1米、2米和5米可选OM1跳线还可以选择3米、10米和20米可以定制跳线Thorlabs的渐变折射率(GRIN)跳线集成了纤芯?62.5μm/包层?125μm或纤芯?50μm/ 包层?125μm的GRIN光纤。根据带宽,这些光纤归类为光学多模(OM)光纤。更多详情,请看光纤规格标签。与阶跃折射率光纤相比,渐变折射率光纤的模态色散较低,非常适合通信应用。而且,它的弯曲损耗也要明显小于传统的多模光纤。纤芯和包层之间的渐变折射率决定了给定波长下的可用带宽。每根跳线包含两个保护帽,以防插芯端收到灰尘污染和其他损害。适合FC/PC终端的其他CAPF塑料光纤帽和CAPFM金属螺纹光纤帽单独提供。如果库存标准跳线不能满足您的应用需求,请看我们的定制跳线网页,定制符合您特殊需求的跳线。In-Stock Multimode Fiber Optic Patch Cable SelectionStep IndexGraded IndexFiber BundlesUncoatedCoatedMid-IROptogeneticsSpecialized ApplicationsSMAFC/PCFC/PC to SMASquare-Core FC/PC and SMAAR-Coated SMAHR-Coated FC/PCBeamsplitter-Coated FC/PCFluoride FC and SMALightweight FC/PCLightweight SMARotary Joint FC/PC and SMAHigh-Power SMAUHV, High-Temp. SMAArmored SMASolarization-Resistant SMAFC/PCFC/PC to LC/PC光纤规格Item #GIF50CGIF50EGIF625Geometrical and Physical SpecificationsCore Diameter50.0 ± 2.5 μm62.5 ± 2.5 μmCore DiameterCladding Diameter125.0 ± 1.0 μm125 ± 1 μmCladding DiameterCoating Diameter242 ± 5 μm245 ± 10 nmCoating DiameterCore Non-Circularity≤5%≤5%Core Non-CircularityCladding Non-Circularity≤1.0%≤1%Cladding Non-CircularityCoating Non-Circularity-≤5%Coating Non-CircularityCore-Cladding Concentricitya≤1.5 μm≤8 μmCore-Cladding ConcentricityaCoating-Cladding Concentricity-Coating-Cladding ConcentricityCore DopingGermaniumGermaniumCore DopingCoating MaterialAcrylateAcrylateCoating MaterialProof Test≥100 kpsi≥100 kpsiProof TestCore IndexProprietarybProprietarybCore IndexCladding IndexProprietarybProprietarybCladding IndexOperating Temperature-60 to 85 °C-60 to 85 °COperating TemperatureOptical SpecificationsOperating Wavelength800 - 1600 nm800 - 1600 nmNumerical Aperture0.200 ± 0.0150.275 ± 0.015Optical Multimode (OM) TypeOM2OM4OM1BandwidthHigh-Performance EMB (@ 850 nm)c950 MHz?km4700 MHz?km-BandwidthOverfilled Modal Bandwidthd700 MHz?km @ 850 nm500 MHz?km @ 1300 nm4700 MHz?km @ 850 nm500 MHz?km @ 1300 nm≥200 MHz?km @ 850 nm≥500 MHz?km @ 1300 nmAttenuation≤2.3 dB/km @ 850 nm≤0.6 dB/km @1300 nm≤2.9 dB/km @ 850 nm≤0.6 dB/km @ 1300 nmMacrobend Attenuation-100 Turns on a ?75 mm Mandrel:≤0.5 dB @ 850 nm and @ 1300 nmEffective Group Index of Refraction1.482 @ 850 nm1.477 @ 1300 nm1.496 @ 850 nm1.491 @ 1300 nmZero Dispersion Wavelength1295 nm (Min)1315 nm (Max)1320 nm (Min)1365 nm (Max)Minimum Zero Dispersion Slope≤0.101 ps/(nm2?km)≤0.11 ps/(nm2?km)也就是所谓的纤芯-包层偏移。非常抱歉,我们无法提供该专利信息。对于高性能的激光系统,每个TIA/EIA 455-220A和IEC 60793-1-49通过minEMBc确保。用于过度充满光纤的LED 。OFL BW, per TIA/EIA 455-220A和IEC 60793-1-41.。更多有关过度充满的信息,请看我们多模光纤教程耦合调节的部分。损伤阀值激光诱导的光纤损伤以下教程详述了无终端(裸露的)、有终端光纤以及其他基于激光光源的光纤元件的损伤机制,包括空气-玻璃界面(自由空间耦合或使用接头时)的损伤机制和光纤玻璃内的损伤机制。诸如裸纤、光纤跳线或熔接耦合器等光纤元件可能受到多种潜在的损伤(比如,接头、光纤端面和装置本身)。光纤适用的zui大功率始终受到这些损伤机制的zui小值的限制。虽然可以使用比例关系和一般规则估算损伤阈值,但是,光纤的jue对损伤阈值在很大程度上取决于应用和特定用户。用户可以以此教程为指南,估算zui大程度降低损伤风险的安全功率水平。如果遵守了所有恰当的制备和适用性指导,用户应该能够在指定的zui大功率水平以下操作光纤元件;如果有元件并未指定zui大功率,用户应该遵守下面描述的"实际安全水平"该,以安全操作相关元件。可能降低功率适用能力并给光纤元件造成损伤的因素包括,但不限于,光纤耦合时未对准、光纤端面受到污染或光纤本身有瑕疵。关于特定应用中光纤功率适用能力的深入讨论,请联系技术支持techsupport-cn@thorlabs.com。Quick LinksDamage at the Air / Glass InterfaceIntrinsic Damage ThresholdPreparation and Handling of Optical Fibers空气-玻璃界面的损伤空气/玻璃界面有几种潜在的损伤机制。自由空间耦合或使用光学接头匹配两根光纤时,光会入射到这个界面。如果光的强度很高,就会降低功率的适用性,并给光纤造成yong久性损伤。而对于使用环氧树脂将接头与光纤固定的终端光纤而言,高强度的光产生的热量会使环氧树脂熔化,进而在光路中的光纤表面留下残留物。损伤的光纤端面未损伤的光纤端面裸纤端面的损伤机制光纤端面的损伤机制可以建模为大光学元件,紫外熔融石英基底的工业标准损伤阈值适用于基于石英的光纤(参考右表)。但是与大光学元件不同,与光纤空气/璃界面相关的表面积和光束直径都非常小,耦合单模(SM)光纤时尤其如此,因此,对于给定的功率密度,入射到光束直径较小的光纤的功率需要比较低。右表列出了两种光功率密度阈值:一种理论损伤阈值,一种"实际安全水平"。一般而言,理论损伤阈值代表在光纤端面和耦合条件非常好的情况下,可以入射到光纤端面且没有损伤风险的zui大功率密度估算值。而"实际安全水平"功率密度代表光纤损伤的zui低风险。超过实际安全水平操作光纤或元件也是有可以的,但用户必须遵守恰当的适用性说明,并在使用前在低功率下验证性能。计算单模光纤和多模光纤的有效面积单模光纤的有效面积是通过模场直径(MFD)定义的,它是光通过光纤的横截面积,包括纤芯以及部分包层。耦合到单模光纤时,入射光束的直径必须匹配光纤的MFD,才能达到良好的耦合效率。例如,SM400单模光纤在400 nm下工作的模场直径(MFD)大约是?3 μm,而SMF-28 Ultra单模光纤在1550 nm下工作的MFD为?10.5 μm。则两种光纤的有效面积可以根据下面来计算:SM400 Fiber:Area= Pi x (MFD/2)2= Pi x (1.5μm)2= 7.07 μm2= 7.07 x 10-8cm2 SMF-28 Ultra Fiber:Area = Pi x (MFD/2)2= Pi x (5.25 μm)2= 86.6 μm2= 8.66 x 10-7cm2为了估算光纤端面适用的功率水平,将功率密度乘以有效面积。请注意,该计算假设的是光束具有均匀的强度分布,但其实,单模光纤中的大多数激光束都是高斯形状,使得光束中心的密度比边缘处更高,因此,这些计算值将略高于损伤阈值或实际安全水平对应的功率。假设使用连续光源,通过估算的功率密度,就可以确定对应的功率水平:SM400 Fiber:7.07 x 10-8cm2x 1MW/cm2= 7.1 x10-8MW =71mW(理论损伤阈值) 7.07 x 10-8cm2x 250 kW/cm2= 1.8 x10-5kW = 18mW(实际安全水平)SMF-28 Ultra Fiber:8.66 x 10-7cm2x 1MW/cm2= 8.7 x10-7MW =870mW(理论损伤阈值) 8.66 x 10-7cm2x 250 kW/cm2= 2.1 x10-4kW =210mW(实际安全水平)多模(MM)光纤的有效面积由纤芯直径确定,一般要远大于SM光纤的MFD值。如要获得zui佳耦合效果,Thorlabs建议光束的光斑大小聚焦到纤芯直径的70 - 80%。由于多模光纤的有效面积较大,降低了光纤端面的功率密度,因此,较高的光功率(一般上千瓦的数量级)可以无损伤地耦合到多模光纤中。Estimated Optical Power Densities on Air / GlassInterfaceaTypeTheoretical DamageThresholdbPractical SafeLevelcCW(Average Power)~1 MW/cm2~250 kW/cm210 ns Pulsed(Peak Power)~5 GW/cm2~1 GW/cm2所有值针对无终端(裸露)的石英光纤,适用于自由空间耦合到洁净的光纤端面。这是可以入射到光纤端面且没有损伤风险的zui大功率密度估算值。用户在高功率下工作前,必须验证系统中光纤元件的性能与可靠性,因其与系统有着紧密的关系。这是在大多数工作条件下,入射到光纤端面且不会损伤光纤的安全功率密度估算值。插芯/接头终端相关的损伤机制有终端接头的光纤要考虑更多的功率适用条件。光纤一般通过环氧树脂粘合到陶瓷或不锈钢插芯中。光通过接头耦合到光纤时,没有进入纤芯并在光纤中传播的光会散射到光纤的外层,再进入插芯中,而环氧树脂用来将光纤固定在插芯中。如果光足够强,就可以熔化环氧树脂,使其气化,并在接头表面留下残渣。这样,光纤端面就出现了局部吸收点,造成耦合效率降低,散射增加,进而出现损伤。与环氧树脂相关的损伤取决于波长,出于以下几个原因。一般而言,短波长的光比长波长的光散射更强。由于短波长单模光纤的MFD较小,且产生更多的散射光,则耦合时的偏移也更大。为了zui大程度地减小熔化环氧树脂的风险,可以在光纤端面附近的光纤与插芯之间构建无环氧树脂的气隙光纤接头。我们的高功率多模光纤跳线就使用了这种设计特点的接头。曲线图展现了带终端的单模石英光纤的大概功率适用水平。每条线展示了考虑具体损伤机制估算的功率水平。zui大功率适用性受到所有相关损伤机制的zui低功率水平限制(由实线表示)。确定具有多种损伤机制的功率适用性光纤跳线或组件可能受到多种途径的损伤(比如,光纤跳线),而光纤适用的zui大功率始终受到与该光纤组件相关的zui低损伤阈值的限制。例如,右边曲线图展现了由于光纤端面损伤和光学接头造成的损伤而导致单模光纤跳线功率适用性受到限制的估算值。有终端的光纤在给定波长下适用的总功率受到在任一给定波长下,两种限制之中的较小值限制(由实线表示)。在488 nm左右工作的单模光纤主要受到光纤端面损伤的限制(蓝色实线),而在1550nm下工作的光纤受到接头造成的损伤的限制(红色实线)。对于多模光纤,有效模场由纤芯直径确定,一般要远大于SM光纤的有效模场。因此,其光纤端面上的功率密度更低,较高的光功率(一般上千瓦的数量级)可以无损伤地耦合到光纤中(图中未显示)。而插芯/接头终端的损伤限制保持不变,这样,多模光纤的zui大适用功率就会受到插芯和接头终端的限制。请注意,曲线上的值只是在合理的操作和对准步骤几乎不可能造成损伤的情况下粗略估算的功率水平值。值得注意的是,光纤经常在超过上述功率水平的条件下使用。不过,这样的应用一般需要专业用户,并在使用之前以较低的功率进行测试,尽量降低损伤风险。但即使如此,如果在较高的功率水平下使用,则这些光纤元件应该被看作实验室消耗品。光纤内的损伤阈值除了空气玻璃界面的损伤机制外,光纤本身的损伤机制也会限制光纤使用的功率水平。这些限制会影响所有的光纤组件,因为它们存在于光纤本身。光纤内的两种损伤包括弯曲损耗和光暗化损伤。弯曲损耗光在纤芯内传播入射到纤芯包层界面的角度大于临界角会使其无法全反射,光在某个区域就会射出光纤,这时候就会产生弯曲损耗。射出光纤的光一般功率密度较高,会烧坏光纤涂覆层和周围的松套管。有一种叫做双包层的特种光纤,允许光纤包层(第二层)也和纤芯一样用作波导,从而降低弯折损伤的风险。通过使包层/涂覆层界面的临界角高于纤芯/包层界面的临界角,射出纤芯的光就会被限制在包层内。这些光会在几厘米或者几米的距离而不是光纤内的某个局部点漏出,从而zui大限度地降低损伤。Thorlabs生产并销售0.22 NA双包层多模光纤,它们能将适用功率提升百万瓦的范围。光暗化光纤内的第二种损伤机制称为光暗化或负感现象,一般发生在紫外或短波长可见光,尤其是掺锗纤芯的光纤。在这些波长下工作的光纤随着曝光时间增加,衰减也会增加。引起光暗化的原因大部分未可知,但可以采取一些列措施来缓解。例如,研究发现,羟基离子(OH)含量非常低的光纤可以抵抗光暗化,其它掺杂物比如氟,也能减少光暗化。即使采取了上述措施,所有光纤在用于紫外光或短波长光时还是会有光暗化产生,因此用于这些波长下的光纤应该被看成消耗品。制备和处理光纤通用清洁和操作指南建议将这些通用清洁和操作指南用于所有的光纤产品。而对于具体的产品,用户还是应该根据辅助文献或手册中给出的具体指南操作。只有遵守了所有恰当的清洁和操作步骤,损伤阈值的计算才会适用。安装或集成光纤(有终端的光纤或裸纤)前应该关掉所有光源,以避免聚焦的光束入射在接头或光纤的脆弱部分而造成损伤。光纤适用的功率直接与光纤/接头端面的质量相关。将光纤连接到光学系统前,一定要检查光纤的末端。端面应该是干净的,没有污垢和其它可能导致耦合光散射的污染物。另外,如果是裸纤,使用前应该剪切,用户应该检查光纤末端,确保切面质量良好。如果将光纤熔接到光学系统,用户首先应该在低功率下验证熔接的质量良好,然后在高功率下使用。熔接质量差,会增加光在熔接界面的散射,从而成为光纤损伤的来源。对准系统和优化耦合时,用户应该使用低功率;这样可以zui大程度地减少光纤其他部分(非纤芯)的曝光。如果高功率光束聚焦在包层、涂覆层或接头,有可能产生散射光造成的损伤。高功率下使用光纤的注意事项一般而言,光纤和光纤元件应该要在安全功率水平限制之内工作,但在理想的条件下(ji佳的光学对准和非常干净的光纤端面),光纤元件适用的功率可能会增大。用户首先必须在他们的系统内验证光纤的性能和稳定性,然后再提高输入或输出功率,遵守所有所需的安全和操作指导。以下事项是一些有用的建议,有助于考虑在光纤或组件中增大光学功率。要防止光纤损伤光耦合进光纤的对准步骤也是重要的。在对准过程中,在取得zui佳耦合前,光很容易就聚焦到光纤某部位而不是纤芯。如果高功率光束聚焦在包层或光纤其它部位时,会发生散射引起损伤使用光纤熔接机将光纤组件熔接到系统中,可以增大适用的功率,因为它可以zui大程度地减少空气/光纤界面损伤的可能性。用户应该遵守所有恰当的指导来制备,并进行高质量的光纤熔接。熔接质量差可能导致散射,或在熔接界面局部形成高热区域,从而损伤光纤。连接光纤或组件之后,应该在低功率下使用光源测试并对准系统。然后将系统功率缓慢增加到所希望的输出功率,同时周期性地验证所有组件对准良好,耦合效率相对光学耦合功率没有变化。由于剧烈弯曲光纤造成的弯曲损耗可能使光从受到应力的区域漏出。在高功率下工作时,大量的光从很小的区域(受到应力的区域)逃出,从而在局部形成产生高热量,进而损伤光纤。请在操作过程中不要破坏或突然弯曲光纤,以尽可能地减少弯曲损耗。用户应该针对给定的应用选择合适的光纤。例如,大模场光纤可以良好地代替标准的单模光纤在高功率应用中使用,因为前者可以提供更佳的光束质量,更大的MFD,且可以降低空气/光纤界面的功率密度。阶跃折射率石英单模光纤一般不用于紫外光或高峰值功率脉冲应用,因为这些应用与高空间功率密度相关。GRIN光纤跳线,OM1,纤芯?62.5 μm/包层?125 μm,FC/PC到FC/PCFiberOperatingWavelengthNACoreDiameterCladding DiameterBandwidthAttenuationEGIRaGIF625b800 - 1600nm0.275 ± 0.01562.5 ± 2.5μm125 ±1.0 μm≥220MHz?km@ 850 nm≥500MHz?km@ 1300 nm≤2.9 dB/km@ 850 nm≤0.6 dB/km @ 1300 nm1.496@ 850 nm1.491 @ 1300 nm有效群折射率如需完整的光纤规格列表,请看上面的光纤规格标签。产品型号公英制通用M31L01渐变折射率光纤跳线,OM1,数值孔径0.275,FC/PC - FC/PC,1米M31L02渐变折射率光纤跳线,OM1,数值孔径0.275,FC/PC - FC/PC,2米M31L03渐变折射率光纤跳线,OM1,数值孔径0.275,FC/PC - FC/PC,3米M31L05渐变折射率光纤跳线,OM1,数值孔径0.275,FC/PC - FC/PC,5米M31L10渐变折射率光纤跳线,OM1,数值孔径0.275,FC/PC - FC/PC,10米M31L20渐变折射率光纤跳线,OM1,数值孔径0.275,FC/PC - FC/PC,20米GRIN光纤跳线,OM2,纤芯?50 μm/包层?125 μm,FC/PC到FC/PCFiberOperatingWavelengthNACoreDiameterCladding DiameterBandwidthAttenuationEGIRaGIF50Cb800 - 1600 nm0.200 ± 0.01550.0± 2.5μm125 ± 1.0 μm700MHz?km@ 850 nm500MHz?km@ 1300 nm≤2.3 dB/km @ 850 nm≤0.6 dB/km @ 1300 nm1.482 @ 850 nm1.477 @ 1300 nm有效群折射率如需完整的光纤规格列表,请看上面的光纤规格标签。产品型号公英制通用M115L01M115L01渐变折射率光纤跳线,OM2,数值孔径0.200,FC/PC - FC/PC,1米M115L02渐变折射率光纤跳线,OM2,数值孔径0.200,FC/PC - FC/PC,2米M115L05渐变折射率光纤跳线,OM2,数值孔径0.200,FC/PC - FC/PC,5米GRIN光纤跳线,OM4,纤芯?50 μm/包层?125 μm,FC/PC到FC/PCFiberOperatingWavelengthNACoreDiameterCladding DiameterBandwidthAttenuationEGIRaGIF50Eb800 - 1600 nm0.200 ± 0.01550.0± 2.5μm125 ± 1.0 μm4700MHz?km@ 850 nm500MHz?km@ 1300 nm≤2.3 dB/km @ 850 nm≤0.6 dB/km @ 1300 nm1.482 @ 850 nm1.477 @ 1300 nm有效群折射率如需完整的光纤规格列表,请看上面的光纤规格标签。产品型号公英制通用M117L01渐变折射率光纤跳线,OM4,数值孔径0.200,FC/PC - LC/PC,1米M117L02渐变折射率光纤跳线,OM4,数值孔径0.200,FC/PC - LC/PC,2米M117L05渐变折射率光纤跳线,OM4,数值孔径0.200,FC/PC - LC/PC,5米
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