会议时间:09月24日 09:00 -- 09月24日 18:00
原子力显微镜 (atomic force microscope, AFM)利用微悬臂感受和放大悬臂上尖细探针与受测样品原子之间的作用力,从而达到检测的目的,具有原子级的分辨率。技术历史虽只有30余年,但随着更多纳米科研人员对其不断认知以及相关关联等技术的丰富,AFM应用市场一直在不断拓延。
基于此,仪器信息网(instrument.com.cn)将在2020年9月24日举办“第二届原子力显微镜主题网络研讨会”,邀请原子力显微镜/扫描探针显微镜研究应用专家、相关检测技术专家,以及实验室相关工作人员等,以网络在线报告、在线网友互动交流的形式,针对当下原子力显微镜/扫描探针显微镜研究热点、新技术及难点、相关市场展望等进行探讨,为同行搭建学习互动平台,增进学术交流。
主办单位:仪器信息网
1、请认真填写各项,您的手机号为您的参会凭证。
2、报名后,参与直播可获取会后资料、加交流群。
1、直播前一天,助教会统一审核。审核通过后,会发送参会链接给报名手机号。
2、如无法正常参会,请“备注会议题目”加【微信wljt-02】,帮您解决。
1、报名并参与直播可与专家问答交流。会议群会在直播当天展示,会议ppt无法提供。
2、关注【仪器信息网微服务】,微信提醒会议进度,便捷查阅近期会议及视频回放。
3、下载【仪器信息网app】,获得会后回放视频、免费下载10万篇标准、获得实验室操作实战宝典等精品资料。